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公开(公告)号:CN104465741A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410061074.6
申请日:2014-02-24
Applicant: 株式会社东芝
Inventor: 安本恭章 , 梁濑直子 , 阿部和秀 , 内原士 , 齐藤泰伸 , 仲敏行 , 吉冈启 , 小野祐 , 大野哲也 , 藤本英俊 , 增子真吾 , 古川大 , 八木恭成 , 汤元美树 , 饭田敦子
IPC: H01L29/778 , H01L29/423 , H01L29/872 , H01L29/40
CPC classification number: H01L29/2003 , H01L29/045 , H01L29/205 , H01L29/417 , H01L29/41725 , H01L29/41758 , H01L29/42316 , H01L29/7786 , H01L29/872 , H01L29/778 , H01L29/41775
Abstract: 本发明提供一种半导体装置,具备:GaN系半导体层,表面相对m面或a面具有0度以上5度以下的角度;第一电极,设置于上述表面,具有第一端部;以及第二电极,与第一电极分离地设置于上述表面,具有与第一端部对置的第二端部,连接第一端部的任意点和第二端部的任意点的线段的方向与GaN系半导体层的c轴方向不同。
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公开(公告)号:CN104061848A
公开(公告)日:2014-09-24
申请号:CN201310394835.5
申请日:2013-09-03
Applicant: 株式会社东芝
IPC: G01B7/16
CPC classification number: G01L1/2293 , H01L24/05 , H01L27/0738 , H01L28/24 , H01L29/1608 , H01L29/7803 , H01L2924/13055 , H01L2924/00
Abstract: 一种半导体装置,在半导体装置中半导体基板具有第1及第2区域。在上述半导体基板的上述第1区域中设有绝缘栅场效应晶体管。设有应变仪部,该应变仪部具有:长条的金属电阻体,设置在上述半导体基板的上述第2区域中的上述半导体基板的上表面的内侧;第1绝缘膜,设置在上述半导体基板与上述金属电阻体之间,延伸至上述半导体基板的上述上表面;以及第2绝缘膜,跨过上述金属电阻体而设置在上述第1绝缘膜上方。上述半导体基板载置于基板。
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