半导体装置
    11.
    实用新型

    公开(公告)号:CN222051761U

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202420365346.0

    申请日:2024-02-27

    Abstract: 本公开提供一种半导体装置。半导体装置包括位于基板上的通道区和与通道区相邻的源/漏极部件;位于源/漏极部件上方的硅化物部件、在硅化物部件上方的第一金属材料的第一金属层;位于第一金属层上方的第二金属材料的第二金属层,第一和第二金属层包括水平部分和垂直部分;位于第二金属层上方的金属填充层,使得金属填充层被包围在第二金属层的水平部分和垂直部分内;从金属填充层延伸的通孔以及位于通孔上方的第一金属线,第二金属层的水平部分和垂直部分之间的厚度差小于第一金属层的水平部分和垂直部分之间的厚度差。

Patent Agency Ranking