一种柔性日盲紫外探测器及制备方法

    公开(公告)号:CN108538927B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201810286974.9

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 本发明提供了一种柔性日盲紫外探测器。所述柔性日盲紫外探测器,其特征在于:包括从下往上依次设置的透明基底、石墨烯网格层和ZnS量子点层,且所述石墨烯网格层是由石墨烯刻蚀后的石墨烯网格形成。本发明的有益效果在于:所述柔性日盲紫外探测器制备工艺简单、可实现柔性以及大面积应用。所制备的日盲紫外探测器,对日盲区内紫外光响应度高而对日盲区外响应度低,减少背景干扰影响。本发明还提供一种柔性日盲紫外探测器的制备方法。

    一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法

    公开(公告)号:CN106596354A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201611120200.6

    申请日:2016-12-08

    Abstract: 本发明提供一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法,其中,所述装置包括照明模块、探测模块、半透半反棱镜、激光强度模块、升降机构、物镜、待测颗粒、样品池、上位机及运动控制器,其中,所述照明模块产生的激光通过所述半透半反棱镜进入所述物镜,并根据所述照明模块和所述物镜的位置关系,生成对应类型的光束;所述光束作用于位于所述样品池中的所述待测颗粒,生成后向散射光;所述后向散射光依次通过所述物镜和所述半透半反棱镜后进入所述探测模块;所述探测模块根据接收所述后向散射光的微透镜孔径,确定所述后向散射光对应的散射角度。本发明提供的一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法,能够提高光散射特性测量的精度。

    一种氧化锌-氧化镁核壳结构量子点及其制备方法

    公开(公告)号:CN105462577A

    公开(公告)日:2016-04-06

    申请号:CN201510843889.4

    申请日:2015-11-27

    CPC classification number: C09K11/55 C09K11/02

    Abstract: 本发明提供了一种简单地合成氧化锌-氧化镁核壳量子点的方法。简要步骤如下:将70-75℃的乙酸锌乙醇溶液与0℃的氢氧化锂乙醇溶液混合,在53℃搅拌保持2分钟至30小时。随即在混合溶液中加入乙酸镁,溶解后在室温下静置1天。再加入3倍体积比的正庚烷,高速离心析出量子点后,加入体积比例4:1的正庚烷与乙醇混合溶液,溶解后再次离心,烘干,再次溶入乙醇溶液后,旋涂、喷涂或印刷在基片上,在200℃下烘干得到最终产物。本发明所采用的方法与现有的氧化锌量子点制备方法相比,具有成本低、工艺简单、不易团聚、紫外发光效率高、可直接应用于紫外发光器件上的优点,是一种优良的纳米紫外发光材料。

    一种量子点异质结日盲紫外探测芯片及其制备方法

    公开(公告)号:CN112436070B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202011381986.3

    申请日:2020-12-01

    Abstract: 本发明公开了一种量子点异质结日盲紫外探测芯片及其制备方法,该芯片自下至上依次为基底、底栅电极、栅绝缘层、p型半导体层、本征层和n型半导体层,p型半导体层上设置有源电极,n型半导体层上设置有漏电极,p型半导体层、本征层和n型半导体层构成p‑i‑n异质结场效应沟道,该芯片的制备方法包括以下步骤:(1)在基底制备底栅电极;(2)制备栅绝缘层;(3)制备p型半导体层;(4)制备源电极;(5)制备宽禁带半导体量子点本征层;(6)制备n型半导体层;(7)制备漏电极。该芯片能够在提高内量子效率同时降低暗电流,加速分离光生电子和空穴,使光生电子和空穴分别快速转移到n区和p区,继而分别到达源电极和漏电极,提高其响应度。

    一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置

    公开(公告)号:CN113074644B

    公开(公告)日:2022-11-01

    申请号:CN202110355600.X

    申请日:2021-04-01

    Abstract: 本发明公开了一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置,装置包括控制器、照明模块、Y型光纤、探测模块、色散镜头、待测元件、标定模块;照明模块电动控制多组LED,提供覆盖全部可见光波段的光源;光源耦合入Y型光纤,出射光进入色散镜头被聚焦至待测元件表面,波长不同时聚焦光点位置不同,待测元件表面反射光返回Y型光纤;探测模块测量待测元件表面上时反射光光强;标定模块用于标定色散镜头位置与探测模块模拟电压信号之间的关系;控制器根据不同LED照明时的光强数据计算聚焦光点波长及其对应的待测元件表面位置信息。本发明通过使用多波长光源照明及高速点探测器方法,克服了传统光谱共焦技术使用光谱仪速度慢且成本高的缺陷。

    一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置

    公开(公告)号:CN113074644A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110355600.X

    申请日:2021-04-01

    Abstract: 本发明公开了一种高速低成本光谱共焦位移测量方法及装置,装置包括控制器、照明模块、Y型光纤、探测模块、色散镜头、待测元件、标定模块;照明模块电动控制多组LED,提供覆盖全部可见光波段的光源;光源耦合入Y型光纤,出射光进入色散镜头被聚焦至待测元件表面,波长不同时聚焦光点位置不同,待测元件表面反射光返回Y型光纤;探测模块测量待测元件表面上时反射光光强;标定模块用于标定色散镜头位置与探测模块模拟电压信号之间的关系;控制器根据不同LED照明时的光强数据计算聚焦光点波长及其对应的待测元件表面位置信息。本发明通过使用多波长光源照明及高速点探测器方法,克服了传统光谱共焦技术使用光谱仪速度慢且成本高的缺陷。

    一种孤立ZnO微米棒的制备方法

    公开(公告)号:CN112158875A

    公开(公告)日:2021-01-01

    申请号:CN202011070427.0

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 一种孤立ZnO微米棒的制备方法,包括如下步骤:清洗单晶硅衬底,吹干后放入衬底托盘;将衬底载入真空室,对真空室腔体抽真空;对Au和Ti靶材进行预处理;采用电子束沉积法沉积Au/Ti薄膜,衬底温度为室温,沉积电压为10KV,沉积Au和Ti的厚度分别为50nm和20nm;采用水热法在衬底上生长ZnO微米棒,前驱体为硝酸锌和六次甲基四胺,溶剂为去离子水,生长温度为70‑90摄氏度;生长结束后取出样品用去离子水清洗干净后晾干。采用本发明方法制备的ZnO微米棒在金属表面生长,易于剥离,是制备单微纳米光电子器件的理想材料。

    一种高检测效率高分辨率的光滑表面质量测量装置及方法

    公开(公告)号:CN109765242A

    公开(公告)日:2019-05-17

    申请号:CN201910036386.4

    申请日:2019-01-15

    Abstract: 本发明公开了一种高检测效率高分辨率的光滑表面质量测量装置,包括上位机、电子控制模块、低倍成像模块、调焦机构、高倍成像模块、样件夹持装置、Y轴电动平移台及X轴电动平移台;低倍成像模块对待测样件表面进行高速低倍成像,定位缺陷位置;高倍成像模块用于精确测量缺陷尺寸;调焦机构在由低倍放大镜头切换为高倍放大镜头时开始工作,保证测量平面位于镜头的景深范围内。本发明通过拍摄表面缺陷图片进行图像处理的方式获得缺陷的规格,相比人工检测技术显著提高了测量结果的准确性及重复性。本发明通过首先使用低倍镜头定位缺陷,然后使用高倍镜头测量缺陷尺寸的方式显著提高了测量的速度,相比一般机器视觉的方法效率更高。

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