机床加工测试件建立运动误差模型的方法

    公开(公告)号:CN112536644B

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202011256496.0

    申请日:2020-11-11

    Abstract: 本发明公开了一种机床加工测试件建立运动误差模型的方法,将正方体的测试件固定在机床工作台上,选取三个面的中间位置加工凹槽,所加工的凹槽的尺寸和标准量块的尺寸一致,取标准块分别放置在三个凹槽中,测量标准块和凹槽的配合间隙。将标准量块在各个轴方向上产生的角度误差和标准块的旋转中心点相关联,旋转中心点到标准块端点的距离与角度误差共同作用使得运动误差增大,根据误差在各个平面上的实际情况建立误差模型。本发明提出了一种新的方法辨识三轴机床在加工时的运动误差。通过加工测试件的不同部位分析出机床的加工误差建立机床的运动学误差模型。运用这种方法机床最终状态的运动误差被辨识,在实际的加工中机床的最终性能被评估。

    数控机床的温度补偿方法及系统

    公开(公告)号:CN108829033A

    公开(公告)日:2018-11-16

    申请号:CN201810714608.9

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 本发明提供数控机床的温度补偿方法及系统,其中,温度补偿方法包括:获取数控机床不同位置的多个温度测量值,根据所述多个温度测量值计算温度平均值;获取工件的标签信息、数控系统的种类以及所述温度平均值,根据所述标签信息、所述数控系统的种类以及所述温度平均值确定误差估计值;根据所述误差估计值调整所述数控系统的工作参数。本发明所提供的温度补偿方法可根据对数控机床测量温度值,自动调整对工件加工的工作参数,减少温度对工件形位公差的影响,有效地保证工件制造的精度。

    一种基于光度线性化的光度立体表面重建方法及设备

    公开(公告)号:CN116385636A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202310230083.2

    申请日:2023-03-10

    Abstract: 本发明属于三维测量技术领域,并具体公开了一种基于光度线性化的光度立体表面重建方法及系统。包括:对光源进行标定,以确定点光源方向;采集不同光源方向下待测物体的灰度图像,并对图像进行预处理;采用光度线性化方法将图像进行光度线性化;根据光度线性化的图像,得到图像像素强度,并根据像素强度对光度因子进行分类,以获取漫反射分量;根据所述漫反射分量,采用光度立体的表面辐照度方程求解物体表面点的法向量,并对待测物体的表面进行重建。本发明简化了高光和阴影的提取过程,可以准确快速地提取图像中的高光和阴影因子,获得良好的漫反射图像,提高了光度方法重建表面的精度。

    一种基于机床定位精度测量的阿贝误差补偿方法及系统

    公开(公告)号:CN111338291A

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN202010264803.3

    申请日:2020-04-07

    Abstract: 本发明公开了一种基于机床定位精度测量的阿贝误差补偿方法及系统,将测量装置激光干涉仪布置在机床上,对光调试,使得激光干涉仪处于待测量状态;录入数控系统的测量程序,使得数控系统的程序和激光干涉仪的测量参数设置一致;测量机床的定位误差,生成误差补偿参数表;测量激光干涉仪的发射光与相应传动丝杠中心轴线的距离,记录此数据为阿贝臂长;数控系统根据误差补偿参数表和阿贝误差值做叠加运算,生成补偿后的定位误差补偿值,并依据定位误差补偿值驱动伺服电机作进给运动,进行误差补偿。优点:考虑了测量过程中产生的阿贝误差,其补偿值叠加了阿贝误差作为机床的最终定位精度,大大提高了补偿精度。

    水平测量仪、水平面测量系统及测量方法

    公开(公告)号:CN117928486A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202410155320.8

    申请日:2024-02-02

    Abstract: 本发明属于测量精度技术领域,本发明公开了一种水平测量仪、水平面测量系统及测量方法,水平测量仪包括基座、液体测量介质、重力块介质、力传感器、控制器;在基座上设置有一密封空间,液体测量介质和重力块介质设置在密封空间内;力传感器设置在密封空间的两侧,力传感器用于测量液体测量介质和重力块介质所产生的压力;力传感器和控制器连接,控制器根据力传感器的测量值判断待测量面是否水平。本发明解决了现有水平测量仪检测靠人为判定具有较大的误差的问题,达到了使得测量结果更加准确,减少了外界环境因素的影响,有效地提高了测量的效率和测量精准度的技术效果。

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