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公开(公告)号:CN104458013A
公开(公告)日:2015-03-25
申请号:CN201410730110.3
申请日:2014-12-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/52
Abstract: 本发明涉及一种发动机热防护结构温度场多模测量系统,系统包括标准辐射源、辐射测温传感系统、三维转台、现场控制系统和远程综合控制系统;被测目标和标准辐射源发出的光线被辐射测温传感系统探测,形成测量数据,经由现场控制系统传输至远程综合控制系统中,三维转台用于调节辐射测温传感系统的俯仰角和方位角;标准辐射源作为实时校正源,提供相应测量波段的标准辐射,通过定量分析标准辐射源在不同波段以及波长的光辐射衰减率,对被测目标的温度场进行校正。辐射测温传感系统包括一个红外宽波段温度场测量装置和可见光-红外波段比色及多波长温度场测量装置,根据上述两个测量装置获取的测量值,确定被测目标的温度。
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公开(公告)号:CN114323061B
公开(公告)日:2025-03-14
申请号:CN202011055701.7
申请日:2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星光模拟器几何参数现场校准装置及系统,装置包括光学元件、平移机构、图像采集装置及数据处理装置;所述光学元件安装于所述平移机构上,所述图像采集装置安装于所述平移机构的一端;所述光学元件用于将待校准星光模拟器的出射光进行折转,所述平移机构用于带动所述光学元件和所述图像采集装置进行平移,平移过程中所述图像采集装置用于采集出射光经所述光学元件转折后形成的星光图像并发送至所述数据处理装置,所述数据处理装置用于根据所述星光图像计算所述待校准星光模拟器的平行度;该装置无需使用准直仪,避免人眼对准和读书误差,提高星光模拟器平行度校准的准确性和可靠性。
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公开(公告)号:CN114397025B
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202011128754.7
申请日:2020-10-22
Applicant: 中国兵器工业试验测试研究院 , 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种用于外场目标特性校准的标准辐射源,包括:石墨腔、支撑端和温控装置;石墨腔的一端为辐射出口,且所述石墨腔内设置有腔底;支撑端包括固定端和滑动端,所述固定端设置在所述石墨腔外远离所述辐射出口的一端,所述滑动端设置在所述石墨腔外靠近所述辐射出口的一端且可沿所述石墨腔的轴向滑动;温控装置与所述石墨腔配合设置;滑动端的设置,可在石墨腔高温膨胀时消除热膨胀应力,确保石墨腔的性能稳定,提高发射率,保证外场工作时的发射准确性和稳定性。
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公开(公告)号:CN114353968B
公开(公告)日:2023-10-20
申请号:CN202011059644.X
申请日:2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种狭小空间温度测量现场校准方法及校准系统,所述方法包括:将具有第一发射率的第一材料涂覆于所述被测对象的第一表面,并将具有第二发射率的第二材料涂覆于所述被测对象的第二表面;所述被测对象还具有第三表面;对被测对象的第一表面、第二表面以及第三表面同时进行红外热成像;分别接收所述第一表面的第一辐射亮度,所述第二表面的第二辐射亮度以及所述第三表面的第三辐射亮度;根据所述第一辐射亮度,第二辐射亮度以及第三辐射亮度对被测对象进行校准。上述方法适合于内部狭小空间范围内的被测对象的实际温度进行准确测量,最终可以实时监测被测对象的真实温度。
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公开(公告)号:CN110388876B
公开(公告)日:2022-05-20
申请号:CN201810353372.0
申请日:2018-04-19
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种高温耦合场测量系统,该系统包括第一和第二光学组件、第一和第二探测组件以及测量控制处理单元,第一光学组件用于将被测目标的第一可见光图像和第一近红外图像成像在第一探测组件上,第二光学组件用于将被测目标的第二可见光图像和第二近红外图像成像在第二探测组件上,测量控制处理单元根据第一可见光图像以及第二可见光图像获取被测目标的位移及应变,测量控制处理单元根据第一近红外图像以及第一可见光图像和/或第二近红外图像以及第一可见光图像获取被测目标的温度。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中单参数独立测量方法存在多数据融合匹配精度差、参数测量时间不同步、使用复杂以及设备尺寸大的技术问题。
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公开(公告)号:CN111006774B
公开(公告)日:2021-05-07
申请号:CN201911244111.6
申请日:2019-12-06
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本说明书提供一种测试采用MEMS工艺加工的定标黑体辐射源寿命的系统和方法,系统包括真空试验装置和高低温箱;真空试验装置包括真空试验箱、第一载物台、制冷机构和红外成像测温仪;第一载物台设置在真空试验箱的真空腔内;第一载物台上设置有第一电源接口;制冷机构的制冷部件用于使真空试验箱维持特定的低温环境;真空试验箱的箱体上开设有测量窗口;红外成像测温仪在设置在测量窗口处;高低温箱包括箱体和用于承载待测试的定标黑体辐射源第二载物台;第二载物台上设置有第二电源接口。因为前述系统能够模拟在轨星体工作环境,为定标黑体辐射源是否能够装载上星提供了有效的依据。
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公开(公告)号:CN106679826B
公开(公告)日:2020-04-07
申请号:CN201510760903.4
申请日:2015-11-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/20
Abstract: 本发明提供一种微型成像式红外温度场测量系统,包括:红外成像模块,用于收集被测目标的红外辐射;N个辐射匀化单元,用于将所述红外辐射进行匀化处理,其中N为大于等于2的整数;与所述N个辐射匀化单元对应的N个单波长滤光单元,每个单波长滤光单元包括M个滤光片,用于分别获取不同波长的红外辐射,其中M为波长数量;红外探测器,用于检测不同波长的红外辐射并输出测量信号;将多波长辐射测温理论应用到微型成像式红外温度场测量系统,解决了目前微型成像式红外温度场测量系统抗干扰能力低、测量精度差的问题。
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公开(公告)号:CN109827664A
公开(公告)日:2019-05-31
申请号:CN201711178073.X
申请日:2017-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/52
Abstract: 本发明提供了一种温度传感装置,温度传感装置包括传感头底座、传感头主体部、模拟黑体腔、导热堵头、耐高温光纤、光纤固定结构、固定顶丝、传光光纤和信号处理系统,传感头底座与待测物体相接触,传感头主体部与传感头底座连接,模拟黑体腔与容纳腔相对设置,耐高温光纤用于接收模拟黑体腔发出的光辐射信号,光纤固定结构用于固定耐高温光纤,固定顶丝用于限制光纤固定结构沿传感头主体部的轴向方向的移动,传光光纤与耐高温光纤连接,信号处理系统用于将传光光纤输出的光辐射信号转换为待测物体的温度。应用本发明的技术方案,以解决现有技术中温度传感装置的测温范围受限且动态响应、干扰屏蔽、使用寿命和恶劣环境适应性差的技术问题。
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公开(公告)号:CN120027920A
公开(公告)日:2025-05-23
申请号:CN202311562234.0
申请日:2023-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/46
Abstract: 本发明涉及一种材料辐射特性的测量方法,解决了现有技术中在较高温度下材料辐射特性测量精度低的问题。包括如下步骤:将被测材料置于温控装置中,被测材料的中心正对温控装置的辐射口,并设置到设定温度;所述被测材料为结构材料或窗口材料;调整被测材料、标准黑体与傅立叶光谱辐射计位置,使得被测材料和标准黑体发出的辐射信号能够分别被所述傅立叶光谱辐射计接收并测量得到光谱辐射量值;基于被测材料和标准黑体发出的光谱辐射量值,使用处理器计算得到材料的辐射特性;包括:结构材料的法向光谱发射率、窗口材料的辐射透射率和基于所述辐射透射率计算的窗口材料的法向光谱发射率。实现了高温下材料辐射特性的精确测量。
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公开(公告)号:CN119126882A
公开(公告)日:2024-12-13
申请号:CN202310693497.9
申请日:2023-06-12
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明一种系列化黑体控制系统,温度控制及采集单元、功率驱动单元、功率器件、电源模块单元、人机交互单元、接口单元,功率器件采用单块陶瓷平板型半导体制冷器件作为标准,位于黑体辐射板背面;分别完成黑体辐射源的温度采集和温控功能;对功率器件的功率控制;提供人机交互界面;将温度控制及采集单元、电源模块、功率驱动单元组成控制组件模块,并将三者接口和安装固定支架标准化。可实现对系列化黑体进行通用化控制,进而可以缩短系列化黑体设计周期。
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