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公开(公告)号:CN119719003A
公开(公告)日:2025-03-28
申请号:CN202411812265.1
申请日:2024-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F15/16 , G06F15/163 , G06F13/42 , G06F11/07
Abstract: 本发明一种星上高可靠人工智能微系统电子装置,包括:处理系统、存储系统、信号接口和高可靠加固系统;处理系统,通过信号接口接收外部数据,计算和处理星上对地观测数据信息,并将计算和处理结果存入存储系统中;存储系统,用于存储处理系统的数据;信号接口,用于接收外部数据,并将数据传输给处理系统;高可靠加固系统,用于对处理系统、存储系统、信号接口进行容错与故障防护。
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公开(公告)号:CN116500484A
公开(公告)日:2023-07-28
申请号:CN202211599861.7
申请日:2022-12-12
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/40
Abstract: 本发明涉及一种多通道可编程电源分析系统,包括:PXI机箱、多通道电源板卡、PXI通讯板卡、显示及控制器模块、电源模块、集成机箱;PXI机箱为多通道电源板卡和PXI通讯板卡提供PXI接口,PXI机箱内设置有一块PXI通讯板卡和多块多通道电源板卡;显示及控制器模块提供人机交互界面,将外部输入的指令通过PXI通讯板卡发送给多通道电源板卡,进而控制多通道电源板卡的各种状态、参数、动作;电源模块为显示及控制器模块以及PXI机箱供电;PXI机箱、显示及控制器模块、电源模块均设置在集成机箱内。本发明解决了多组电源布线混乱、调节困难等问题,同时也提供了数据采集和实时监控等功能,进而可以大大提高电测试试验效率。
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公开(公告)号:CN116224027A
公开(公告)日:2023-06-06
申请号:CN202310190635.1
申请日:2023-02-24
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/28 , G06F11/263
Abstract: 一种复杂数字集成电路测试向量学习生成装置,包括向量学习生成模块、通讯模块、电源模块、学习接口模块、典型应用板、上位机,以FPGA为核心部件,利用其高并发性能可以实现多通道实时监测、时钟触发和数据采集分析等功能。通过并列布置多块FPGA形成向量学习生成模块,并利用可监测的数字通道数目可以有效覆盖目前的大部分数字集成电路,监督并采集DUT学习流程中所有周期的输入输出特征,并将其转换为特定格式的测试向量,结束整个学习过程。
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公开(公告)号:CN106571166A
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201610986357.0
申请日:2016-11-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G11C29/56
Abstract: 一种可定制流程的MT29F系列NAND FLASH测试老炼系统,包括上位机、程控电源、高温试验箱、USB转UART桥、下位机,下位机包括N个结构完全相同的母板、M个结构完全相同的信号板、K个结构完全相同的DUT板,下位机中每块母板安装多块信号板,每块信号板安装1块DUT板,母板包括电源接口、UART接口、与信号板对接的多个连接器、与信号板对接的多个信号板身份设置电路,信号板包括作为测试控制器的FPGA及其辅助电路、与母板对接的连接器、与DUT板对接的连接器,DUT板包括多个耐高温试验夹具、与信号板对接的连接器。
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公开(公告)号:CN103792254B
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201410021593.X
申请日:2014-01-17
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及一种用于晶体管热阻测试的温控试验系统,其具有:施力单元,包括驱动装置和施压装置,驱动装置驱动施压装置向被测器件施加测试所需的压力;恒温平台,用于承载被测器件,并保持被测器件处于测试所需的温度条件;测试单元,设置在恒温平台中,用于将被测器件的管脚与测试分析装置相连接,从而对被测器件进行电性能测试;传感器单元,用于探测被测器件的测试温度和测试压力;信息采集与处理单元,用于采集所述传感器的数据并进行处理和显示。该系统能满足宇航型号用功率器件热阻测试工程化实施所需的高准确性、高测试效率以及宽适用性的要求。
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公开(公告)号:CN102332307B
公开(公告)日:2015-08-05
申请号:CN201110214108.7
申请日:2011-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括:单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元,可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验,实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测,包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。
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公开(公告)号:CN104483516A
公开(公告)日:2015-04-01
申请号:CN201410789632.0
申请日:2014-12-18
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R1/04
Abstract: 本发明公开了一种发光器件测试转换夹具,包括由上至下的旋盖(1)、压紧板(2)、限位板(3)、电气连接板(4)和底座(5);旋盖(1)与底座(5)螺纹配合;旋盖(1)上设计有上透光孔(6)以便于光强测试;压紧板(2)用于压紧发光器件;限位板(3)用于放置被测试器件;电气连接板(4)上设计有两个电极接触片(10),与被测发光器件的电极在压力下形成电气导通,在两个电极接触片(10)上分别引出管脚引线(12),从而转换为有引线封装形式。本发明可以根据器件的不同尺寸任意更换限位板,解决了表面贴装式封装向有引线封装的转换,使现有专用测试设备可以继续使用,节省了大量的成本。
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公开(公告)号:CN114236417B
公开(公告)日:2025-05-02
申请号:CN202111459528.1
申请日:2021-12-02
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 一种电源类器件老炼结温监测装置,测温传感器单元用于采集被测器件的温度;驱动电路单元用于向测温传感器单元提供驱动电压和采集命令,同时向温度显示单元提供驱动电压及必需的转换信号;温度显示单元用于将采集到的温度信号通过LED显示;超温报警处理单位用于根据检测的温度值结合用户设置的温度上限值,判断检测的温度值是否在合理范围之内;电源及信号总线用于为各单元工作提供工作电源和信号传输通道;中央控制单元用于接收其他单元的反馈信号,同时向各单元发送控制信号,协调各单元工作;系统电源单元用于提供总电源;系统保护单元用于对各单元的工作电压、电流情况进行监控,避免各单元因过压、过流导致的系统工作异常情况。
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