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公开(公告)号：CN105150088A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510544165.X
申请日：2015-08-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: B24B37/02 , B24B37/005 , B24B37/34
CPC classification number: B24B37/02 , B24B37/005 , B24B37/34
Abstract: 本发明公开了一种电子器件背面开孔减薄装置及减薄方法，包括：圆台固定夹具、升降载物台、纵向可伸缩旋转连杆、磨抛钻头、锁紧旋钮、传感器、传动皮带、电动马达、程控单元、数据传输线、连杆外壳和连杆弹簧；圆台固定夹具具有直角卡槽；升降载物台能够进行四边上下调节、平台前后左右移动；纵向可伸缩旋转连杆可上下伸缩移动，底端安装磨抛钻头和顶端安装传感器；锁紧旋钮将磨抛钻头锁紧；传感器，测量磨抛钻头与芯片接触时的接触点高度信息；传动皮带的一端连接电动马达和另一端连接纵向可伸缩旋转连杆；程控单元接收传感器反馈的接触点高度信息；连杆外壳位于纵向可伸缩旋转连杆的外端，连杆外壳上端内壁通过连杆弹簧与纵向可伸缩旋转连杆的上端相连。
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公开(公告)号：CN102937698B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201210390638.1
申请日：2012-10-15
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/3167
Abstract: 一种DC/DC转换器单粒子效应检测系统及检测方法，系统包括输出电压调整电路、输入保护电路、电源及其监测电路、多路采集电路以及控制与数据处理系统；检测时，控制与数据处理系统给电源及其监测电路发出控制信号令电源及其监测电路给被测DC/DC器件提供工作电压，输入保护电路对被测DC/DC的输入端进行保护；被测DC/DC转换器的输出端连接有负载电阻，输出端的输出电压通过输出电压调整电路后由多路采集电路进行采集，再送入控制与数据处理系统，通过对开冒后的被测DC/DC转换器的辐照敏感区域进行高能粒子照射，对比照射前后控制与数据处理系统接收到的电压信号，从而得出是否发生单粒子效应的结论。
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公开(公告)号：CN103344897B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310231286.X
申请日：2013-06-09
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种非破坏性功率MOS管单粒子烧毁效应检测电路及方法，电路包括栅极偏置电路、漏极偏置电路和信号采集电路，方法包括对功率MOS管施加一定的偏置，在重离子辐照的情况下检测MOS管的源极电流，通过电流变化曲线来判断MOS管单粒子烧毁（SEB，single-event burnout）现象是否发生。本检测方法根据MOS管器件性能参数，设置器件的源极和漏极限流电阻和充放电电容，来保证SEB现象发生时的源极电流在可被检测的范围内，同时又确保器件未被烧毁而造成MOS管的破坏性失效。本发明方法简单，可以检测一只MOS管SEB效应的多次发生，同时又具有非破坏性的特点。
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公开(公告)号：CN103323627B
公开(公告)日：2015-08-12
申请号：CN201310247463.3
申请日：2013-06-20
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R1/00
Abstract: 一种单粒子试验样品开帽保护装置，包括：C型固定底座、纵向可伸缩旋转连杆、横向可移动连杆、锁紧旋钮、滑动固定端、皮筋、橡胶吸盘和阻挡布。在对金属盖板陶瓷封装单粒子试验样品开帽时，将本开帽保护装置上的橡胶吸盘与器件金属盖板连接，调整开帽保护装置与器件的距离与角度，使皮筋处于合适的拉伸长度、角度。当撬起金属盖板后，金属盖板将在皮筋的带动下离开器件表面，金属盖板弹射到阻挡布上时，将卸去弹力落到桌面，从而实现对器件金属盖板在开帽过程中的运动方向和最终下落位置进行控制，保护被开帽器件。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：CN107545098B
公开(公告)日：2020-09-18
申请号：CN201710631110.1
申请日：2017-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明涉及化合物器件空间连续谱质子位移损伤地面等效评估方法，该方法能够用于指导评估宇航用化合物器件在空间辐射环境中因位移损伤效应造成的性能退化情况，获得器件抗位移损伤能力的准确数据，为器件抗辐射加固设计提供依据，也为宇航型号选择抗辐射能力满足要求的器件和进行应用加固设计提供参考数据，属于化合物器件的宇航应用技术领域。
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公开(公告)号：CN102332307B
公开(公告)日：2015-08-05
申请号：CN201110214108.7
申请日：2011-07-28
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06F11/00
Abstract: SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功能中断检测、单粒子锁定检测和单粒子翻转检测，包括配置存储区、BRAM和触发器的单粒子翻转检测。本发明具有操作简单、检测全面、准确度高、实时性好、通用性强的优点。
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公开(公告)号：CN102879730A
公开(公告)日：2013-01-16
申请号：CN201210355811.4
申请日：2012-09-21
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供一种部分三模冗余FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截面；使粒子注量率不断降低，直到单粒子错误截面趋于稳定；共在至少5个不同LET值下重复上述步骤。
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