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公开(公告)号：CN114119505B
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202111316044.1
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G06T7/00 , G06T7/11 , G06T7/136 , G06T7/73 , G01N23/00 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06T5/70 , G06T5/77 , G06T5/60
Abstract: 本发明公开了一种检测芯片粘连区域缺陷的方法及装置，所述方法包括：对采集到的X射线图像进行预处理，得到第一图像；利用训练好的目标检测模型，定位出所述第一图像中粘连区域的位置；基于无监督图像修复模型对所述第一图像中的粘连区域缺陷进行修复，得到第二图像；采用自适应阈值的分割算法对第一图像、第二图像进行缺陷检测，确定目标缺陷对应的像素。本申请实施例提供的检测芯片粘连区域缺陷的方法，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN112528230B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202011455202.7
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置，所述方法包括：抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据；计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度；对处于预设范围内的精密度对应的参数进行批次修正。本发明适用范围更广，可以有效识别各种分布类型的元器件参数离群值，控制限与参数本征分布边缘更加贴近，最大程度避免由于非正态分布造成的误检和漏检。
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公开(公告)号：CN103792254B
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201410021593.X
申请日：2014-01-17
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及一种用于晶体管热阻测试的温控试验系统，其具有：施力单元，包括驱动装置和施压装置，驱动装置驱动施压装置向被测器件施加测试所需的压力；恒温平台，用于承载被测器件，并保持被测器件处于测试所需的温度条件；测试单元，设置在恒温平台中，用于将被测器件的管脚与测试分析装置相连接，从而对被测器件进行电性能测试；传感器单元，用于探测被测器件的测试温度和测试压力；信息采集与处理单元，用于采集所述传感器的数据并进行处理和显示。该系统能满足宇航型号用功率器件热阻测试工程化实施所需的高准确性、高测试效率以及宽适用性的要求。
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公开(公告)号：CN114155197A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111314595.4
申请日：2021-11-08
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种元器件缺陷检测方法及装置，所述方法包括：获取目标元器件的X射线图像，并对所述X射线图像进行降噪处理，得到第一图像；消除所述第一图像的非均匀光照背景，得到第二图像；基于模板匹配定位所述第二图像中待检测的目标元器件图像；通过预设图像分割算法，将目标元器件图像从所述第二图像中分割出来；基于局部信息熵结合区域生长算法，对所述X射线图像中的多余物进行检测，以检测到所述目标元器件的缺陷。本申请实施例提供的元器件缺陷检测方法，高效且可节省大量人力资源，所得检测结果准确、可靠。
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公开(公告)号：CN108188952A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201711291926.0
申请日：2017-12-08
Applicant: 中国空间技术研究院
CPC classification number: B25B11/00 , G01N23/00 , G01N2223/1016 , G01N2223/646
Abstract: 本发明属于宇航用元器件技术领域，特别涉及一种用于X射线检测试验夹具的设计。本发明的夹具采用子母夹具的设计方式，可伸缩延展，扩展性强，适用多种封装形式；子母夹具间已卡簧固定，便于拆装；本发明的夹具采用矩阵阵列，便于器件的准确定位及快速查找计数；且操作简便，可实现待试器件的快速翻转，满足器件多方向射线检测试验需求，大幅度提高X光试验的效率；本发明的夹具能够避免常规胶贴法固定对器件造成显性损害及隐形损伤的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105928678A
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201610244083.8
申请日：2016-04-18
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种CCD图像传感器振动、冲击试验夹具，包括夹具本体和盖板，夹具本体为立方体结构，在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔，每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称；在样品放置孔上开有引脚固定孔，带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本发明将夹具本体设计为立方体结构，每个面样品放置孔厚度为0.6cm～1.3cm，六个面围成中空结构，样品放置孔轴对称或中心对称设计，以防止在振动过程中产生共振，造成样品损伤；同时在设备对样品重量有一定要求的情况下，以完成60G～80G高量级振动、3000G以上冲击试验，易于实现夹具本体的空间反转。
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公开(公告)号：CN103759904A
公开(公告)日：2014-04-30
申请号：CN201410003544.3
申请日：2014-01-03
Applicant: 中国空间技术研究院
IPC: G01M3/20
Abstract: 本发明提供一种用于密封性检测的系统，所述系统包括检测胎具、安装板与检漏仪，其中，检测胎具具有第一开口与第二开口；安装板组装在检测胎具上，并遮盖所述第一开口；所述安装板上开设有通孔，用于安装被检件；所述检测胎具与所述安装板围成一密闭腔，作为连接所述通孔与所述第二开口的气密性通道；检漏仪连接所述第二开口，用于对所述密闭腔内的气体进行检测。上述系统中，由于安装板是可拆卸、更换的，因而当需要检测另一尺寸的被检件时，只需更换合适的安装板即可。
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公开(公告)号：CN117929956A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202311783928.7
申请日：2023-12-22
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种浪涌测试电路，包括浪涌电流单元和阻断测试单元；浪涌电流单元用于向待测二极管输出正向浪涌电信号；阻断测试单元用于向待测二极管输出反向阻断测试电压，并采集待测二极管在正向浪涌电信号和反向阻断测试电压作用下的电流值，根据电流值评估待测二极管是否失效。本发明还公开了一种包含上述电路的浪涌测试装置。本发明可以实现正弦波浪涌与方波浪涌、直流阻断、交流阻断等多功能与一体的浪涌电流测试。
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公开(公告)号：CN111652844B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202010345590.7
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于数字图像区域增长的X射线缺陷检测方法，所述方法包括如下步骤：对元器件图像中的外部阴影进行滤波处理得到阴影滤波后的图像；对阴影滤波后的图像采用基于灰度投影积分的边缘检测方法得到阴影滤波后的图像中元器件的倾斜角度，对阴影滤波后的图像进行空间坐标变换得到旋转校正后的元器件图像；将旋转校正后的元器件图像通过双三次内插算法得到统一尺寸的图像；对统一尺寸的图像采用归一化互相关的匹配算法得到模板匹配的图像；采用区域生长算法的对模板匹配的图像进行图像分割得到元器件的缺陷位置。本发明解决了当前的X射线检测试验效率较低，人员劳动强度大的问题。
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公开(公告)号：CN112528230A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011455202.7
申请日：2020-12-10
Applicant: 中国空间技术研究院
Abstract: 本发明提供了一种基于精密度和分布转换修正的参数一致性控制方法及装置，所述方法包括：抽样并采集器件参数的重复性测试数据和再现性测试数据；计算所述重复性测试数据和所述再现性测试数据对应参数的精密度；对处于预设范围内的精密度对应的参数进行批次修正。本发明适用范围更广，可以有效识别各种分布类型的元器件参数离群值，控制限与参数本征分布边缘更加贴近，最大程度避免由于非正态分布造成的误检和漏检。
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