-
公开(公告)号：CN101303453A
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200810116169.8
申请日：2008-07-04
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 斜方棱镜堆实现条阵半导体激光器光束整形的方法，其特征在于：(1)根据光斑折叠要求确定前后组斜方棱镜堆系统的参数和平行平板；(2)用光学平面零件加工工艺加工出所需的斜方棱镜和平行平板，然后将斜方棱镜和平行平板进行胶合操作，构成一个整体的整形元件；(3)将胶合好的斜方棱镜堆放入条阵半导体激光器的快慢轴分别准直后的准平行光中，并绕激光器底座的垂线缓慢左右旋转使偏转后的光斑沿快轴方向对齐；(4)整形后的出射光斑将沿平行于光轴的方向出射，在出射光适当位置加上聚焦镜，将整形后的光束耦合进光纤；本发明涉及的斜方棱镜堆实现条阵半导体激光器光束整形与传统方法相比具有设计简单、结构紧凑、调节方便、成本低廉等优点。
-
公开(公告)号：CN1975507A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610165157.5
申请日：2006-12-14
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 添加导引光的条阵大功率半导体激光器(High－Power Laser Diode Bar，简称LD)的整形方法：(1)通过计算光纤纤芯半径和孔径角一半的乘积，以及LD光束在快慢轴两个方向上的光参数积，确定对LD光束整形所需要折叠的次数，制作高反射效率的整形器；(2)采用快慢轴准直透镜阵列对分别对LD的快慢轴两个方向进行准直，得到条形的准直光斑；(3)安装整形器，实现光束的整形；(4)安装聚焦透镜和光纤，调节光纤到合适的位置，使输出的LD的功率最大；(5)从整形器的合适位置入射导引光，调节导引光到适当的位置，使从光纤输出的导引光的光功率达到最大。本发明光路设计紧凑合理，不改变LD的光路，避免了在LD光路中引入新的散射和反射损失，保证了LD的光路稳定性。
-
公开(公告)号：CN1553243A
公开(公告)日：2004-12-08
申请号：CN03123571.9
申请日：2003-05-29
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 采用微透镜阵列对实现大功率半导体激光束准直的方法，正交连续微透镜中的两柱面微透镜分别对垂直结方向(快轴方向)和平行结方向(慢轴方向)的光束进行准直。快轴方向采用单一柱面镜实现准直；慢轴方向采用多个柱面透镜排列起来形成线阵，每一个微透镜和一个发光区(emitter)一一对应，分别对每一个发光区的光束进行准直。本发明实现了对大功率半导激光器光束的准直和消像散，从而得到能量集中，发散角小，准直度高的激光光束，本发明不仅适用于大功率条阵半导体激光器的光束整形，而且还适用于面阵的大功率半导体激光器的光束整形。
-
公开(公告)号：CN104526470B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201510002043.8
申请日：2015-01-04
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: B24B1/00
Abstract: 本发明涉及一种用于曲面光学元件的离子束光滑方法，该方法步骤为：步骤(1)、检测初始面形，步骤(2)进行离子束预光滑试验，步骤(3)重新检测面形，计算材料移除速率，步骤(4)拟定正式光滑参数，步骤(5)、计算确定性预修形量，步骤(6)、进行确定性预修形，步骤(7)、进行正式离子束光滑，步骤(8)、取出工件，结束。所述方法能有效克服曲面光学元件进行离子束光滑的同时对原有高精度面形的破坏问题。该曲面光学元件的离子束光滑方法，既能保证原有高精度曲面的表面面形精度，又能有效提高光学元件的表面粗糙度。
-
公开(公告)号：CN104526470A
公开(公告)日：2015-04-22
申请号：CN201510002043.8
申请日：2015-01-04
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: B24B1/00
CPC classification number: B24B1/00
Abstract: 本发明涉及一种用于曲面光学元件的离子束光滑方法，该方法步骤为：步骤(1)、检测初始面形，步骤(2)进行离子束预光滑试验，步骤(3)重新检测面形，计算材料移除速率，步骤(4)拟定正式光滑参数，步骤(5)、计算确定性预修形量，步骤(6)、进行确定性预修形，步骤(7)、进行正式离子束光滑，步骤(8)、取出工件，结束。所述方法能有效克服曲面光学元件进行离子束光滑的同时对原有高精度面形的破坏问题。该曲面光学元件的离子束光滑方法，既能保证原有高精度曲面的表面面形精度，又能有效提高光学元件的表面粗糙度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102721374B
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：CN201210180322.X
申请日：2012-06-04
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提出了一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，包括：一种在子孔径拼接中计算重叠区域的权值的方法，此方法能正确反应各重叠区域在子孔径拼接中的可信度大小，噪声大的区域权值小，噪声小的区域权值大；在求解各子孔径的倾斜系数、平移系数时，要求重叠区域的加权残余误差的平方和最小。本发明通过计算不同重叠区域的权值和采用加权最小二乘法计算各子孔径的倾斜系数和平移系数，抑制了噪声对子孔径拼接的影响，提高了平面子孔径拼接的精度。
-
公开(公告)号：CN102735184B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201210199391.5
申请日：2012-06-15
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明是一种光学面形的检测装置及检测方法，激光器发射的光经过分光镜、准直光学系统、反射镜、参考面反射后产生参考光，参考平面和待测平面产生干涉，干涉光经光路返回后经过分光镜再由聚光镜组收集到CCD探测器接收。移相器用来产生移相。转台用来控制参考平面的旋转，平移台控制待测平面的移动。平移台使待测平面移动来测量待测平面上不同的子孔径，转台用来控制参考平面的旋转，在原有的三平面测量的算法基础上，只用两个平面在子孔径拼接过程中就解出两个平面的面形信息。本发明提高检测的精度，同时在检测过程中不更换镜子，用两个平面就完成了绝对测量，提高了检测的重复性和再现性。
-
公开(公告)号：CN103499309A
公开(公告)日：2014-01-08
申请号：CN201310473266.3
申请日：2013-10-11
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种带有环境反馈的自动干涉检测系统及方法，自动干涉检测系统包括了独立地基，第一振动测量探头，主动隔振系统，大理石平台，第二振动测量探头，第三振动测量探头，调整架，转台，待测镜架，第四振动测量探头，第一导轨，第二导轨，干涉仪衍架，温度测量探头，外壳，干涉仪测量头，第五振动测量头，计算机组成。第一振动测量探头用于测量地面垂直振动，第二振动测量探头用于测量水平振动，第三振动测量探头用于测量平台台面垂直振动，第四振动测量探头用于测量待测镜架上振动，第五振动测量探头用于测量干涉仪测量头上垂直振动，温度测量探头用于测量干涉仪测量头和待测镜架之间的温度。
-
公开(公告)号：CN102865809A
公开(公告)日：2013-01-09
申请号：CN201210325586.X
申请日：2012-09-05
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明是一种子孔径拼接干涉仪系统，包括在地面隔振单元、填充物，隔断层、第一主动隔振单元、平台、气浮导轨、第一平台、第二主动隔振单元、第二平台、移动机构、转台、待测光学镜片、气浮导轨、衍架、透明罩。本发明提供一种带有隔振效果的子孔径拼接干涉仪机构是通过多层隔振处理，可以隔离地面振动对测量的影响，通过加上玻璃罩，在测量空间中充氮气，减少气流和温度波动，通过在气浮导轨上方加主动隔振单元，减少气膜波动对移相的影响。同时，机构可以做二维平移和旋转的运动，可以在拼接过程中实现绝对测量。本发明还提供一种使用子孔径拼接干涉仪系统测量光学镜片面形的方法。
-
公开(公告)号：CN102721374A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：CN201210180322.X
申请日：2012-06-04
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提出了一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法，包括：一种在子孔径拼接中计算重叠区域的权值的方法，此方法能正确反应各重叠区域在子孔径拼接中的可信度大小，噪声大的区域权值小，噪声小的区域权值大；在求解各子孔径的倾斜系数、平移系数时，要求重叠区域的加权残余误差的平方和最小。本发明通过计算不同重叠区域的权值和采用加权最小二乘法计算各子孔径的倾斜系数和平移系数，抑制了噪声对子孔径拼接的影响，提高了平面子孔径拼接的精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
30
records
(took 0.03 seconds)
