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公开(公告)号：CN110045205B
公开(公告)日：2021-05-11
申请号：CN201910341901.X
申请日：2019-04-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种单粒子闩锁限制电流测试方法、装置和系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，以单粒子闩锁维持电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流；记录在各输入电流下、待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长；并根据各输入电流和所用时长，建立待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的电流时长曲线；根据各电流时长曲线和待测器件的可容忍中断时长，获取待测器件处于各种离子束辐照中对应的极限电流，并将各极限电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁限制电流，从而，本申请提高了测试单粒子闩锁限制电流的准确度。
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公开(公告)号：CN112504546A
公开(公告)日：2021-03-16
申请号：CN202011252444.6
申请日：2020-11-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了晶圆级气密封装的微小腔体内部气压测试方法和系统，测试方法包括如下步骤：通过应力测量装置获取多个微小腔体内外气压差已知的晶圆级气密封装结构标定样品的盖帽表面应力，并获取应力值与气压差的关联模型；通过应力测量装置获取晶圆级气密封装结构待测样品盖帽表面的应力值；通过测得的待测样品表面应力值及应力值与气压差的关联模型获取待测样品微小腔体的内部气压。本发明对晶圆级气密封装结构的盖帽无透光性要求，可实现通过盖帽表面应力的测试表征，从而获取微小腔体内部气压变化的信息。本发明涉及半导体制造工艺技术领域。
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公开(公告)号：CN118431763A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410643238.X
申请日：2024-05-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01Q15/00
Abstract: 本发明公开了一种多波段自旋选择性吸收的太赫兹手性超表面结构，包括多个周期性排列的手性超表面结构单元，结构单元包括顶层、中间层和底层，顶层包括第一和第二开口谐振器，外围的第一开口谐振器由位于同一圆上且镜面对称的两段弧形金属组成，两段弧形金属均为四分之一圆，内部的第二开口谐振器由一个正方形金属沿着对角线劈裂成的两段折线型金属而形成，第一与第二开口谐振器的对称中心重合；两段弧形金属的中心连线相对于两段折线型金属的中心连线的偏转角α满足：‑45°≤α≤+45°，通过调整偏转角α能够使太赫兹手性超表面结构的圆二色性CD的值在‑1≤CD≤+1的范围内可调。本发明可以在多个波段实现自旋选择吸收且可以实现CD值的可调。
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公开(公告)号：CN118209914A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410035816.1
申请日：2024-01-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00 , G06N3/094 , G06N3/0475 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及一种探头校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待校准探头的频率响应参数；采用已训练的生成对抗网络对频率响应参数进行处理，得到校准后的频率响应参数；根据校准后的频率响应参数，获取待校准探头的校准后的探头端电压；根据校准后的探头端电压，获取待校准探头的校准因子；校准因子用于调整待校准探头。采用本方法能够基于生成对抗网络对电磁场探头的频率响应参数进行校准，可以有效的对电磁场探头进行校准，消除非必要待测场对探头性能的影响，能够同时适应电场探头、磁场探头，具有较好的通用性和普适性，极大地降低了探头校准的复杂度和成本。
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公开(公告)号：CN115032476A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210435547.9
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种射频器件的数据处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，基板测试数据为对封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据；获取装设于封装基板的射频元件的射频测试数据，射频测试数据为对射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合；根据基板测试数据，对射频测试数据进行去嵌入处理，得到目标射频器件的射频特性数据。采用本方法能够提高射频器件的数据处理效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114019337A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111233595.1
申请日：2021-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种屏蔽件测量装置与测量系统，包括微带线、匹配负载、复合探头和网络分析仪，网络分析仪将电磁信号发送至微带线后，根据法拉第电磁感应定律，复合探头中将会产生电磁波，并通过两个输出端传输至网络分析仪，根据差模和共模理论，在复合探头两个输出端传输的电磁波均包含电场和磁场，由此网络分析仪可以得到在有屏蔽件和无屏蔽件存在时，微带线与复合探头之间的耦合传输系数，并根据耦合传输系数得到屏蔽件的电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能，实现近场环境下电场与磁场屏蔽效能的同时测量，使用可靠。
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公开(公告)号：CN113030687A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110197136.6
申请日：2021-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/265
Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域，公开了一种性能测试方法，包括在不同的温度环境下对待测样品进行测试，获取待测样品的谐振频率温度系数；将待测样品固定于红外成像设备上，将红外成像设备加热至预设温度；向待测样品施加预设输入功率，使用红外成像设备对待测样品进行成像测试，获取待测样品在预设输入功率条件下的表面温度场信息；保持待测样品上施加的预设输入功率不变的情况下，测试获取待测样品的特征频率；根据谐振频率温度系数和特征频率，计算获取待测样品在预设输入功率条件下的等效温升。通过获取在预设功率负载下待测样品的表面温度场信息以及等效温升值，为相关产品的设计、可靠性评价及分析、失效机理建模等工作提供可靠的支撑。
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公开(公告)号：CN111413560A
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN202010160624.5
申请日：2020-03-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种圆片键合质量可靠性测试结构及可靠性测试方法；其中，圆片键合质量可靠性测试结构，包括依次相接触串联固定在机械支撑层上的多个圆片键合结构组件；还包括设于首个圆片键合结构组件处的第一测试位点，和设于末端圆片键合结构组件处的第二测试位点；圆片键合结构组件包括通过导电的桥梁结构连接的两个圆片键合结构；圆片键合结构包括依次层叠在机械支撑层上的金属层、结构层；任一圆片键合结构的结构层通过桥梁结构连接另一圆片键合结构的结构层；任一圆片键合结构的金属层与相邻圆片键合结构组件中任一圆片键合结构的金属层通过金属布线相接触；本申请可通过测试圆片键合结构的接触电阻，实现对圆片键合的无损检测。
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公开(公告)号：CN110045205A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910341901.X
申请日：2019-04-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种单粒子闩锁限制电流测试方法、装置和系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，以单粒子闩锁维持电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流；记录在各输入电流下、待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长；并根据各输入电流和所用时长，建立待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的电流时长曲线；根据各电流时长曲线和待测器件的可容忍中断时长，获取待测器件处于各种离子束辐照中对应的极限电流，并将各极限电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁限制电流，从而，本申请提高了测试单粒子闩锁限制电流的准确度。
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公开(公告)号：CN109200868A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201811003407.4
申请日：2018-08-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种可快速混合高温高压气体的实验装置及方法。所述可快速混合高温高压气体的实验装置，包括实验容器、主动转动座、搅动机构及从动转动座，实验容器内设有实验腔体，主动转动座设置在实验腔体外，搅动机构和从动转动座设置在实验腔体内，搅动机构安装在从动转动座上以跟随从动转动座转动，主动转动座上设有第一磁性机构，从动转动座上设有第二磁性机构，主动转动座通过第一磁性机构与第二磁性机构的配合带动从动转动座转动。使用时先按照预定要求往实验腔体送入各种气体，再转动主动转动座，主动转动座通过第一磁性机构与第二磁性机构的配合带动从动转动座转动，从动转动座驱动搅动机构转动，从而可实现高温高压气体的快速混合。
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