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公开(公告)号：CN119575151A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202411952853.5
申请日：2024-12-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/311 , G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种荧光收集装置和发光载体的制备方法。所述荧光收集装置包括：发光载体，包括发光本体和至少一光路调节体，所述发光本体具有氮空位色心，所述光路调节体位于所述发光载体的至少一个表面；激光发射模块，用于发射激光；其中，所述氮空位色心用于在所述激光的激发下产生荧光光子以从所述发光载体表面出射；所述光路调节体用于改变荧光光子的光路路径；荧光探测模块，用于收集所述荧光光子；所述荧光探测模块收集的荧光光子包括至少部分被所述光路调节体改变光路路径的荧光光子。本申请的荧光收集装置能够提高荧光收集效率。
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公开(公告)号：CN118191436A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410274244.2
申请日：2024-03-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁辐射信息的确定方法、装置和计算机设备。所述方法包括：从待测设备的电磁辐射范围内选择参考测试点，并对参考测试点进行扫描，得到参考测试点的实际电磁场信息；根据参考测试点的实际电磁场信息，从电磁辐射范围内的候选测试点中选择目标测试点，并对所选择的目标测试点进行扫描，得到所选择的目标测试点的实际电磁场信息；根据参考测试点的实际电磁场信息和目标测试点的实际电磁场信息，确定待测设备的电磁辐射信息。实现了仅对目标测试点进行扫描就能够准确的获取到待测设备的电磁辐射信息，相比于传统技术减少了需要扫描的测试点的数量，进而提高了确定待测设备电磁辐射信息的效率。
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公开(公告)号：CN118431763A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410643238.X
申请日：2024-05-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01Q15/00
Abstract: 本发明公开了一种多波段自旋选择性吸收的太赫兹手性超表面结构，包括多个周期性排列的手性超表面结构单元，结构单元包括顶层、中间层和底层，顶层包括第一和第二开口谐振器，外围的第一开口谐振器由位于同一圆上且镜面对称的两段弧形金属组成，两段弧形金属均为四分之一圆，内部的第二开口谐振器由一个正方形金属沿着对角线劈裂成的两段折线型金属而形成，第一与第二开口谐振器的对称中心重合；两段弧形金属的中心连线相对于两段折线型金属的中心连线的偏转角α满足：‑45°≤α≤+45°，通过调整偏转角α能够使太赫兹手性超表面结构的圆二色性CD的值在‑1≤CD≤+1的范围内可调。本发明可以在多个波段实现自旋选择吸收且可以实现CD值的可调。
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公开(公告)号：CN118209914A
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410035816.1
申请日：2024-01-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00 , G06N3/094 , G06N3/0475 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及一种探头校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待校准探头的频率响应参数；采用已训练的生成对抗网络对频率响应参数进行处理，得到校准后的频率响应参数；根据校准后的频率响应参数，获取待校准探头的校准后的探头端电压；根据校准后的探头端电压，获取待校准探头的校准因子；校准因子用于调整待校准探头。采用本方法能够基于生成对抗网络对电磁场探头的频率响应参数进行校准，可以有效的对电磁场探头进行校准，消除非必要待测场对探头性能的影响，能够同时适应电场探头、磁场探头，具有较好的通用性和普适性，极大地降低了探头校准的复杂度和成本。
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