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公开(公告)号:CN118209914A
公开(公告)日:2024-06-18
申请号:CN202410035816.1
申请日:2024-01-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R35/00 , G06N3/094 , G06N3/0475 , G06N3/0464
Abstract: 本申请涉及一种探头校准方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取待校准探头的频率响应参数;采用已训练的生成对抗网络对频率响应参数进行处理,得到校准后的频率响应参数;根据校准后的频率响应参数,获取待校准探头的校准后的探头端电压;根据校准后的探头端电压,获取待校准探头的校准因子;校准因子用于调整待校准探头。采用本方法能够基于生成对抗网络对电磁场探头的频率响应参数进行校准,可以有效的对电磁场探头进行校准,消除非必要待测场对探头性能的影响,能够同时适应电场探头、磁场探头,具有较好的通用性和普适性,极大地降低了探头校准的复杂度和成本。
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公开(公告)号:CN118191436A
公开(公告)日:2024-06-14
申请号:CN202410274244.2
申请日:2024-03-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本申请涉及一种电磁辐射信息的确定方法、装置和计算机设备。所述方法包括:从待测设备的电磁辐射范围内选择参考测试点,并对参考测试点进行扫描,得到参考测试点的实际电磁场信息;根据参考测试点的实际电磁场信息,从电磁辐射范围内的候选测试点中选择目标测试点,并对所选择的目标测试点进行扫描,得到所选择的目标测试点的实际电磁场信息;根据参考测试点的实际电磁场信息和目标测试点的实际电磁场信息,确定待测设备的电磁辐射信息。实现了仅对目标测试点进行扫描就能够准确的获取到待测设备的电磁辐射信息,相比于传统技术减少了需要扫描的测试点的数量,进而提高了确定待测设备电磁辐射信息的效率。
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