成像装置和成像方法
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109799235A

    公开(公告)日:2019-05-24

    申请号:CN201910186312.9

    申请日:2019-03-12

    Abstract: 本发明实施例提供的成像装置和成像方法,涉及激光成像技术领域。该成像装置用于对放置于该成像装置的样品进行成像,所述成像装置包括:脉冲激光器,用于发出激光脉冲;阵列分束器,用于将所述激光脉冲分成多个子脉冲,且各子脉冲在空间和时间上分离;聚焦器,用于将各所述子脉冲会聚到所述样品;成像镜,用于根据从所述样品中出射的携带样品信息的各所述子脉冲进行成像处理;探测器,用于接收所述成像镜进行成像处理得到的多幅不同时域的样品图像。通过上述设置,可以使成像装置适用于任意脉冲光源。

    工件表面损伤修复方法及系统

    公开(公告)号:CN108911532A

    公开(公告)日:2018-11-30

    申请号:CN201811152167.4

    申请日:2018-09-29

    Abstract: 本申请提供一种工件表面损伤修复方法及系统,涉及光学元件加工技术领域。所述方法包括:将激光聚焦到待修复工件表面;将聚焦激光的光斑在待修复工件表面移动以扫描整个待修复工件表面,以使激光能量作用于待修复工件表面使待修复工件表面产生热效应,以熔合待修复工件表面的微裂纹损伤层,生成微裂纹熔合层;向待修复工件表面输出等离子体射流;控制等离子体射流在待修复工件表面运动,以去微裂纹熔合层。本申请利用微裂纹的熔合来改善所述待修复工件表面的裂纹深度、分布等初始状态,再利用等离子体射流对熔合改善后的微裂纹熔合层进行快速去除,提高了工件的寿命,也提高了工件的可靠性和使用性能。

    渐变折射率薄膜制备参数获取方法、制备方法及滤光片

    公开(公告)号:CN107132604A

    公开(公告)日:2017-09-05

    申请号:CN201710498955.8

    申请日:2017-06-26

    Abstract: 本发明提供了一种渐变折射率薄膜制备参数获取方法、制备方法及滤光片,属于薄膜制备工艺技术领域。所述制备参数获取方法包括:获取待制备的渐变折射率薄膜的制备数据,其中,所述制备数据包括所述渐变折射率薄膜的每个膜层的折射率和膜层厚度;获取基准对应关系,所述基准对应关系为混合膜层的折射率与膜层浓度之间的关系;根据所述基准对应关系以及所述制备数据,得到所述渐变折射率薄膜的制备参数。通过本方法有利于较准确地得到待制备的渐变折射率薄膜的制备参数,从而制备出性能更符合需求的渐变折射率薄膜以及滤光片。

    光学材料激光诱导冲击波波速的测量装置及其方法

    公开(公告)号:CN107806933B

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN201711295075.7

    申请日:2017-12-08

    Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法,该方法包括以下步骤:1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像;2)基于图像处理算法,比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量,计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统,一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象,双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域,携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获,通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量,可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。

    激光抛光设备及方法
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109079313B

    公开(公告)日:2020-08-11

    申请号:CN201811045140.5

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明涉及激光抛光技术领域,具体涉及一种激光抛光设备及方法,设备包括:第一激光器,用于发出第一激光光束并通过扫描器投射至放置于加工平移台的待加工工件以形成加工区域;高温计,用于采集加工区域的温度数据;第二激光器,用于发出第二激光光束至探测焦点;探测器,用于探测探测焦点处在第二激光光束作用下产生的光信号;光谱仪,用于根据光信号获得光谱信息,控制装置用于根据光谱信息以及温度数据控制加工平移台的移动速度和扫描器在扫描方向的扫描速度。通过上述设置,以实现根据温度数据和光谱信号对扫描速度和平台的移动速度进行反馈控制,避免通过改变激光功率对激光光斑大小造成影响,进而造成加工稳定性差的问题。

    成像设备和成像方法
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109916902A

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201910186287.4

    申请日:2019-03-12

    Abstract: 本发明实施例提供的成像设备和成像方法,涉及激光成像技术领域。该成像设备用于对待测试物品进行成像处理,该成像设备包括:飞秒激光器件,用于发出飞秒脉冲;脉冲时域展宽器件,用于将所述飞秒脉冲进行时域展宽处理,以生成啁啾脉冲,并将所述啁啾脉冲发送至所述待测试物品,其中,所述啁啾脉冲的时域与频域一一对应;滤光器件,用于将经过待测试物品的啁啾脉冲进行滤光处理,以生成多个携带待测试物品信息的子脉冲,其中,各所述子脉冲在时间和空间上隔离;成像器件,用于根据各所述携带待测试物品信息的子脉冲生成多幅不同时域的图像。通过上述设置,可以简化成像设备的复杂度,降低成像设备的设计和调节难度。

    一种元件激光损伤测量方法及装置

    公开(公告)号:CN106289727B

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201610599309.6

    申请日:2016-07-27

    Abstract: 本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时,对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照,并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤,同时在线获取每一次辐照时的激光能量密度值;然后根据测试点的功能性损伤判定结果及在线激光能量密度值计算生成元件的功能性损伤测量曲线。这种元件激光损伤测量方法的测量结果准确度高、收敛速度快,多次测量所得测量曲线之间的偏差较小,还能有效降低不同测量人员之间及测量次序等人为因素对最终测量结果的影响。

    光热吸收测试系统和光热吸收测试方法

    公开(公告)号:CN109211792A

    公开(公告)日:2019-01-15

    申请号:CN201811044760.7

    申请日:2018-09-07

    Abstract: 本发明提供的光热吸收测试系统和光热吸收测试方法,涉及激光测量技术领域。其中,光热吸收测试系包括:泵浦激光器,用于输出泵浦激光至待测试样品的测试面;探测激光器,用于在泵浦激光作用于测试面前输出第一探测激光至该测试面,并在泵浦激光作用于测试面后输出第二探测激光至该测试面;位置传感器,设置于探测激光经过测试面后的反射光路上,以检测经过测试面反射的第一探测激光和第二探测激光之间的偏转量;延时发生器,该延时发生器分别与泵浦激光器和探测激光器连接,以控制第二探测激光在泵浦激光作用于测试面预设时长之后作用于该测试面。通过上述设置,可填补现有技术中光热吸收特性的测试结果无法表征光热形变过程的问题。

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