公开(公告)号：CN110795370B

公开(公告)日：2025-01-28

申请号：CN201910671518.0

申请日：2019-07-24

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔桢焕 ,  李泰成

IPC: G06F13/16 ,  G06F12/0866

Abstract: 本公开涉及包括非易失性存储器件的半导体存储器模块。该半导体存储器模块包括：数据缓冲器，所述数据缓冲器与外部设备交换第一数据信号；非易失性存储器件，所述非易失性存储器件分别通过数据线连接到所述数据缓冲器；以及控制器，所述控制器连接到所述数据线。所述控制器从所述外部设备接收地址、命令和控制信号，并且根据所述地址、所述命令和所述控制信号，所述控制器通过第一控制线控制所述数据缓冲器并且通过第二控制线控制所述非易失性存储器件。

公开(公告)号：CN117640306A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202310916902.9

申请日：2023-07-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 罗大勋 ,  李善奎 ,  裵升浚 ,  李泰成

IPC: H04L25/03

Abstract: 一种均衡器包括：第一脉冲宽度控制器，被配置为通过增加具有第一逻辑电平的第一数据信号的第一脉冲宽度来生成第一信号，第一数据信号对应于当前数据位；第二脉冲宽度控制器，被配置为通过增加具有第二逻辑电平的第一数据信号的第二脉冲宽度来生成第二信号；第一采样器，被配置为通过对第一信号进行采样来生成第一采样信号；第二采样器，被配置为通过对第二信号进行采样来生成第二采样信号；以及复用器，被配置为基于先前数据位的值来输出第一采样信号或第二采样信号。

公开(公告)号：CN110911386A

公开(公告)日：2020-03-24

申请号：CN201910402840.3

申请日：2019-05-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李民宰 ,  金相录 ,  郑秉勋 ,  李泰成 ,  任政炖 ,  郑宰镛 ,  崔荣暾

IPC: H01L23/544 ,  H01L21/66

Abstract: 提供了一种半导体裸片的缺陷检测结构、半导体装置和缺陷检测方法。所述半导体装置包括半导体裸片、缺陷检测结构和输入输出电路。半导体裸片包括中心区域和围绕中心区域的外围区域。外围区域包括左下角区域、左上角区域、右上角区域和右下角区域。缺陷检测结构形成在外围区域中。缺陷检测结构包括位于左下角区域中的第一导电回路、位于右下角区域中的第二导电回路、位于左下角区域和左上角区域中的第三导电回路以及位于右下角区域和右上角区域中的第四导电回路。输入输出电路电连接到第一导电回路、第二导电回路、第三导电回路和第四导电回路中的端节点。

公开(公告)号：CN1206290A

公开(公告)日：1999-01-27

申请号：CN98115275.9

申请日：1998-06-26

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李泰成

IPC: H04N5/44

CPC classification number: H04N5/45 ,  H04N5/46 ,  H04N21/42638 ,  H04N21/4316 ,  H04N21/440218 ,  H04N21/482

Abstract: 一种能同时显示多种不同广播制式图像信号的高清晰度电视机(HDTV),其中所恢复的由天线和外部输入端口输入的HD数字广播信号中的第一图像信号和NTSC模拟广播信号中的第二图像信号,被格式转化成预定的帧格式。含有定时信号发生器和两个存储器的图像信号合成器时域压缩格式转化后的第一、第二图像信号以便与要显示的PIP图像的主画面和副画面相对应,并将它们合成为单个PIP图像。在CRT屏幕上显示此PIP图像。