贴合基板的制造方法
    112.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101990697B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN200980112677.1

    申请日:2009-04-10

    CPC classification number: H01L21/187 H01L21/76254

    Abstract: 本发明提供了一种制造贴合基板的方法,所述基板在整个基板表面、特别是贴合终端部附近具有良好的薄膜。第二基板上具有薄膜的贴合基板的制造方法至少包含以下工序:在作为半导体基板的所述第一基板的表面,通过注入氢离子和/或稀有气体离子形成离子注入层的工序;对所述第一基板的离子注入面及所述第二基板的贴合面中的至少一面施以表面活化处理的工序;在湿度30%以下和/或水分含量6g/m3以下的气氛中,将所述第一基板的离子注入面和所述第二基板的贴合面进行贴合的贴合工序;将所述第一基板在所述离子注入层分离,以使所述第一基板薄膜化的剥离工序。

    SOI基板的制造方法
    113.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101981654B

    公开(公告)日:2012-11-21

    申请号:CN200980111732.5

    申请日:2009-04-01

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L27/12

    Abstract: 本发明提供了一种简便地制造SOI基板的方法,所述SOI基板为透明绝缘性基板,所述SOI基板具有:一个主表面,硅薄膜形成于该主表面上;粗糙的主表面,该粗糙的主表面位于形成所述硅薄膜一侧的相对侧。本发明提供了一种制造SOI基板的方法,所述基板至少包含透明绝缘性基板和硅薄膜,所述硅薄膜形成于作为所述透明绝缘性基板一个主表面的第一主表面上,而所述透明绝缘性基板的第二主表面是粗糙的,所述第二主表面为与第一主表面相对侧的主表面。所述方法至少包含下述工序:制备所述透明绝缘性基板的工序,作为所述透明绝缘性基板,所述第一主表面按RMS值计的表面粗糙度小于0.7nm,并且所述第二主表面按RMS值计的表面粗糙度大于所述第一主表面的表面粗糙度;以及在所述透明绝缘性基板的第一主表面上形成硅薄膜的工序。

    防护薄膜组件及其制造方法

    公开(公告)号:CN101587294B

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN200910138995.7

    申请日:2009-05-21

    CPC classification number: G03F1/64 G03F1/62

    Abstract: 一种防护薄膜组件,其使用SOI基板,并从单一基板制作出由单晶硅膜所作成的防护薄膜(11)与支持该防护薄膜的基底基板(12),在基底基板(12)上设置开口部,若防护薄膜组件使用于光掩模上时的曝光区域的面积为100%,让该开口部占曝光区域面积的60%(开口比)以上,同时在基底基板的非曝光区域上设置补强框(12a)。藉由从单一基板制作出防护薄膜(11)与支持该防护薄膜的基底基板(12)(一体化结构)以及在基底基板上设置补强框,而获得强度增加的效果。又,以自属于{100}面群以及{111}面群的其中任一个晶格面倾斜3°~5°的结晶面作为单晶硅膜(11)的主面。

    制备具有单晶薄膜的基板的方法

    公开(公告)号:CN101521155B

    公开(公告)日:2012-09-12

    申请号:CN200910117817.6

    申请日:2009-02-25

    Abstract: 本发明提供一种在没有使用特殊基板的情况下容易地制备几乎没有晶体缺陷的包括在上面或上方的单晶薄膜的基板的方法。更具体地说,提供一种制备包括形成在处理基板的上面或上方的单晶薄膜的基板的方法,所述方法包括:步骤A:提供供体基板和处理基板;步骤B:在所述供体基板上生长单晶层;步骤C:将离子注入到所述供体基板上的单晶层中,形成离子注入层;步骤D:将注入离子的供体基板的单晶层的表面与所述处理基板的表面粘合;和步骤E:在存在于所述单晶层中的离子注入层处剥离粘合的供体基板,从而在所述处理基板上面或上方形成单晶薄膜;其中,通过使用所述的上面或上方形成有单晶薄膜的处理基板作为供体基板,重复至少步骤A~E。

    贴合晶片的制造方法
    119.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102414785A

    公开(公告)日:2012-04-11

    申请号:CN201080019226.6

    申请日:2010-04-30

    CPC classification number: H01L21/76254 H01L21/67109

    Abstract: 本发明提供一种贴合晶片的制造方法,在操作基板的热膨胀系数比施主基板大的情况下,也可以进行剥离,而不会在基板上产生裂纹。所述制造方法至少包括下述步骤:从施主基板(3)的表面向所述施主基板(3)注入离子,形成离子注入界面(5);在所述施主基板(3)的已经注入了离子的表面上,贴合热膨胀系数比所述施主基板(3)大的操作基板(7),制成贴合基板;对所述贴合基板进行热处理,制成接合体(1);和当所述接合体(1)由冷却装置(20)冷却到室温以下的温度后,在所述离子注入界面上剥离所述接合体(1)的所述施主基板(3),将施主膜转印到所述操作基板(7)上。

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