公开(公告)号：CN108459036A

公开(公告)日：2018-08-28

申请号：CN201810066919.9

申请日：2018-01-24

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 达米安·库查茨克

IPC: G01N23/20008

Abstract: 提供了一种在X射线分析系统中使用的X射线光学装置，其包括：发射X射线的X射线源，X射线光学器件，将由X射线源产生的X射线成像到待分析的样品上；以及光束阻挡单元，布置为选择性地阻挡由X射线光学器件输出的X射线光束的至少一部分。光束阻挡单元包括旋转轴和光束阻挡元件，旋转轴能够围绕其轴线旋转并相对于由X射线光学器件输出的X射线光束侧向偏移地布置，光束阻挡元件偏心地安装在旋转轴上，当光束阻挡元件围绕旋转轴轴线偏心地旋转时，光束阻挡元件能够移动到不同的光束重叠位置中以阻挡输出的X射线光束的相应部分。还提供了一种用于分析结晶或粉末样品的X射线分析系统，包括上述X射线光学装置、样品台和X射线探测器。

公开(公告)号：CN106537188B

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201580039683.4

申请日：2015-05-14

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 迫幸雄

IPC: G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  G01N2223/304 ,  G01R13/00 ,  G01T1/17 ,  G01T1/36 ,  H01J35/14 ,  H01J35/30 ,  H05G1/26

Abstract: 本发明的X射线检测信号处理器(10)等包括：比较器(17)，该比较器(17)在来自具有CR电路(13a)的连续复位型的前置放大器(13)的信号的电平没有超过规定的上限值的场合，发出高电平的信号，在超过规定的上限值的场合，发出低电平的信号；控制部(18)，该控制部(18)以规定时间而使来自该比较器(17)的信号从低电平变高电平的过程延迟，将其输出给时钟振荡器(15)，通过将低电平的信号输出给时钟振荡器(15)，停止振荡，由此，停止高速AD转换器(14)的高速AD转换，维持输出值。

公开(公告)号：CN104656120B

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201410675937.9

申请日：2014-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一

IPC: G01T7/00

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/303

Abstract: 本发明提供一种校正信息生成方法以及校正信息生成装置，能没有特殊的附属设备地容易进行平场校正的作业。在用于对像素检测器进行X射线检测灵敏度的平场校正的校正信息生成方法中，包括：使检测器(130)的相对位置相对于横穿检测面的射束剖面形状的入射X射线发生移动，以使得在总时间内检测面的整体被入射X射线照射且在移动方向上排列的各像素被均等地照射的步骤；和根据针对入射X射线的给定能带检测出强度值来生成用于校正像素的灵敏度的信息的步骤。

公开(公告)号：CN104655662B

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201410683606.X

申请日：2014-11-25

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 挂札康治 ,  飞田一郎

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N23/20016 ,  G01N2223/303

Abstract: 本发明涉及用于X射线分析器的光轴调整方法和X射线分析器。提供了一种用于X射线分析器的光轴调整方法，所述X射线分析器包括入射侧臂、接收侧臂、X射线源、入射侧狭缝、以及具有在直线上的X射线强度位置分辨的一维X射线检测器。所述方法包括2θ调整步骤，其中将接收侧臂的旋转的0°位置和衍射角2θ的0°位置对准；Zs轴调整步骤，其中调整沿着与从X射线源入射到样本上的X射线的中心线正交的方向的入射侧狭缝的位置；以及θ调整步骤，其中调整从X射线源入射到样本上的X射线的中心线和样本的表面从而使其平行。在2θ调整步骤、Zs轴调整步骤和θ调整步骤中，由一维X射线检测器具有的针对在直线上的X射线强度位置分辨的能力被用于执行2θ调整、Zs轴调整和θ调整。

公开(公告)号：CN107421971A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201710373083.2

申请日：2017-05-24

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 池田由纪子 ,  长尾圭悟 ,  姬田章宏

IPC: G01N23/20

Abstract: 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。

公开(公告)号：CN107209132A

公开(公告)日：2017-09-26

申请号：CN201680006771.9

申请日：2016-08-26

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 原真也 ,  松尾尚 ,  山田康治郎 ,  本间寿 ,  片冈由行

IPC: G01N23/223 ,  G01N23/207

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/207 ,  G01N23/2076 ,  G01N23/2209 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明的扫描型的荧光X射线分析装置包括定量分析条件设定机构(13)，该机构根据标准试样(14)的定性分析结果和半定量分析结果，针对预先确定的试样组成元素以外的新检测元素，根据荧光X射线相对分析对象元素的分析值的吸收激励影响度、与干扰线相对分析对象元素的分析线的重叠影响度，判断是否应作为分析对象元素来追加。

公开(公告)号：CN103364424B

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：CN201310005481.0

申请日：2013-01-08

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 多田正市 ,  谷向贤

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明提供一种荧光X射线分析装置，其在采用液体试样溢流的试样容器的分析中，可快速地进行精度良好的分析。该装置包括：试样容器(S)从顶端(51)溢流，该试样容器内部的空间的水平截面伴随从规定深度朝向上方延伸而变宽；试样注入机构(7)，该试样注入机构将液体试样(S)注入到试样容器(5)中；X射线源(1)，该X射线源对注入到试样容器(5)中的液体试样(S)的顶面照射一次X射线(2)；检测机构(4)，该检测机构检测从液体试样(S)产生的二次X射线(3)；控制机构(8)，该控制机构控制试样注入机构(7)、X射线源(1)和检测机构(4)，使得当注入到上述试样容器(5)中的液体试样(S)从试样容器(5)溢流时，则停止注入，开始测定。(5)，该试样容器(5)将从下方注入的液体试样

公开(公告)号：CN104246906B

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201380018344.9

申请日：2013-12-12

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 若佐谷贤治 ,  小泽哲也

IPC: G21K1/06

CPC classification number: G21K1/00 ,  G01N23/083 ,  G21K1/06

Abstract: X射线光学部件装置具有：X射线光学部件单元18、36；电动机控制部67、68；以及连接器25。连接器25具有：在彼此卡合的状态下与电动机57电连接的电动机用管脚P13、24、34、43、42、33和电动机用端子T13、24、34、43、42、33；以及能够彼此卡合并且感测连接器25的拆卸的信号管脚P23和信号端子T23。管脚侧连接器25a和端子侧连接器25b能够拆卸。在从端子侧连接器25b拆卸管脚侧连接器25a时，信号管脚P23从信号端子T23脱离的时间点比电动机用管脚从电动机用端子脱离的时间点早。在对内置有用于调整X射线光学部件的位置的电动机的X射线光学部件单元进行更换时，防止设置在该单元内的X射线光学部件的位置违背意图地移动。

公开(公告)号：CN103415766B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201280010736.6

申请日：2012-04-03

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 片冈由行 ,  井上央 ,  川久航介

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N23/2076 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及一种波长色散型荧光X射线分析装置，其中，计数损失补偿机构(11)在根据检测器(7)的无感时间对通过计数机构(10)而求出的脉冲的计数率进行补偿时，预先存储通过波高分选器(9)而分选的规定的波高范围和无感时间的相关性，根据该已存储的相关性，按照与测定时的规定的波高范围相对应的方式确定上述无感时间。

公开(公告)号：CN104656120A

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201410675937.9

申请日：2014-11-21

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 作村拓人 ,  中江保一

IPC: G01T7/00

CPC classification number: G01N23/207 ,  G01N2223/303

Abstract: 本发明提供一种校正信息生成方法以及校正信息生成装置，能没有特殊的附属设备地容易进行平场校正的作业。在用于对像素检测器进行X射线检测灵敏度的平场校正的校正信息生成方法中，包括：使检测器(130)的相对位置相对于横穿检测面的射束剖面形状的入射X射线发生移动，以使得在总时间内检测面的整体被入射X射线照射且在移动方向上排列的各像素被均等地照射的步骤；和根据针对入射X射线的给定能带检测出强度值来生成用于校正像素的灵敏度的信息的步骤。