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公开(公告)号：CN109425626A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201810996814.3
申请日：2018-08-29
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
CPC classification number: G01N23/207 , G01N2223/0566 , G01N2223/1016 , G01N2223/401 , G01N2223/605 , G01N2223/62
Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个上取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个上取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线按照2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据按照2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；将二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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公开(公告)号：CN109425626B
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN201810996814.3
申请日：2018-08-29
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 目的是能够在视觉上明确且准确地识别德拜环的周向上的X射线信息与2θ角度位置的对应关系。本发明提供一种X射线衍射测量中的测量结果的显示方法，X射线衍射测量是向试样照射X射线并用X射线检测器检测由该试样衍射的X射线的测量，基于X射线检测器的输出数据，在坐标内，显示2θ－I分布图，从而形成一维衍射分布图，坐标在正交坐标轴的一个取2θ角度值，在正交坐标轴的另一个取X射线强度值；基于X射线检测器的输出数据，将由试样衍射的X射线在各2θ角度形成的多个德拜环的周向上的X射线强度数据在各2θ角度值以直线状显示，从而形成二维衍射图案；二维衍射图案和一维衍射分布图以两者的2θ角度值相互一致的方式排列显示。
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公开(公告)号：CN107421971A
公开(公告)日：2017-12-01
申请号：CN201710373083.2
申请日：2017-05-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。
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公开(公告)号：CN107421971B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201710373083.2
申请日：2017-05-24
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。
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