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公开(公告)号:CN115558890A
公开(公告)日:2023-01-03
申请号:CN202211379912.5
申请日:2022-11-04
Applicant: 上海大学
Abstract: 本发明公开了一种Ta掺杂的Ga2O3薄膜的可控制备工艺方法,通过磁控溅射法共溅射氧化钽和氧化镓,生成掺钽的氧化镓薄膜;将所述的掺钽的氧化镓薄膜进行退火。本发明所制备的钽掺杂的氧化镓薄膜表面分布均匀,结构致密,且薄膜厚度可控。本发明的制备方法操作简单,工艺可控性强。该工艺对发展光电探测器、高功率器件、场效应晶体管等器件具有重要意义,在航空航天、轨道交通、能源转换、通信及汽车领域具有广阔的应用前景。