半导体存储器件
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106952926B

    公开(公告)日:2022-02-08

    申请号:CN201710011037.8

    申请日:2017-01-06

    Abstract: 本发明涉及半导体存储器件。一种半导体存储器件包括:包括第一单元阵列区域和外围区域的衬底;多个堆叠结构,其在第一单元阵列区域上在第一方向上延伸并且在交叉第一方向的第二方向上彼此间隔开;覆盖堆叠结构的绝缘层;以及至少一个分离结构,其在外围区域上在第二方向上延伸并且在垂直于衬底的顶表面的方向上穿透绝缘层。

    垂直存储器器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN104659033A

    公开(公告)日:2015-05-27

    申请号:CN201410663213.2

    申请日:2014-11-19

    Abstract: 本发明提供了垂直存储器器件及其制造方法。该垂直存储器器件包括基板、沟道、栅线和连接部分。多个沟道在垂直于基板的上表面的第一方向上延伸。多个栅线在第一方向上堆叠以彼此间隔开,并在垂直于第一方向的第二方向上延伸,每个栅线交叉一组沟道并围绕该组沟道的每个沟道的外侧壁。栅线形成包括多个垂直水平面的台阶结构。连接部分连接多个栅线中的位于相同的垂直水平面的一组栅线,连接部分从第二方向分支,该组栅线中的栅线在第二方向上延伸。

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