半导体器件
    2.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN115968196A

    公开(公告)日:2023-04-14

    申请号:CN202211247893.0

    申请日:2022-10-12

    Abstract: 可以提供一种半导体器件,该半导体器件包括在衬底上的栅极结构、第一栅极间隔物和第二栅极间隔物。栅极结构的侧壁包括凹入的下侧壁部分和相对于衬底的上表面垂直的上侧壁部分。第一栅极间隔物形成在栅极结构的侧壁的上侧壁部分上。第二栅极间隔物形成在栅极结构的侧壁的凹入的下侧壁部分和第一栅极间隔物的外侧壁上。第二栅极间隔物接触第一栅极间隔物的下表面,并包括氮化物。

    包括栅极结构的半导体器件
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116525662A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310085158.2

    申请日:2023-01-19

    Abstract: 一种半导体器件包括有源区、设置在有源区上的栅极电介质层、设置在栅极电介质层上的栅电极、与栅电极的侧表面的一部分接触的保护层、以及覆盖栅电极的侧表面和保护层的间隔物结构。栅电极包括设置在栅极电介质层上的下导电图案、设置在下导电图案上的中间导电图案和设置在中间导电图案上的上导电图案。保护层包括与中间导电图案的侧表面的至少一部分接触的第一保护部分和与上导电图案的侧表面接触的第二保护部分,第二保护部分包括与第一保护部分的材料不同的材料。

    半导体器件
    4.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN114975357A

    公开(公告)日:2022-08-30

    申请号:CN202111563387.8

    申请日:2021-12-20

    Abstract: 一种半导体器件包括栅极结构和接触插塞。所述栅极结构沿与衬底平行的第一方向延伸,并且包括顺序地堆叠的第一导电图案、第二导电图案和栅极掩模。所述接触插塞接触所述栅极结构在所述第一方向上的端部,并且包括沿垂直方向延伸并接触所述栅极掩模的侧壁和所述第二导电图案的侧壁的第一延伸部、在所述第一延伸部下方并接触所述第一延伸部和所述第一导电图案的侧壁的第二延伸部、以及在所述第二延伸部下方并接触所述第二延伸部的突起部。所述突起部的底部不接触所述第一导电图案。所述第一延伸部的侧壁的第一斜率大于所述第二延伸部的侧壁的第二斜率。

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