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公开(公告)号：CN103900693B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201410150852.9
申请日：2014-04-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/2823 , G01J3/453 , G01J3/4531
Abstract: 一种差分快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，增加了偏振分光器，将传统单光路结构改变为平衡臂和非平衡臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
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公开(公告)号：CN102395866A
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：CN201080014145.7
申请日：2010-02-23
Applicant: 艾迪株式会社
Inventor： 冈本克奇
CPC classification number: G01J3/4531 , G02F1/3136 , Y10T29/49002
Abstract: 本发明公开了一种在平面波导电路(PLC)上实现的变换光谱仪，所述变换光谱仪具有承载待分析的输入光学信号的输入光学信号波导；多个耦合器，每一个耦合器连接到所述输入光学信号波导，并且每一个耦合器包括用于承载与所述输入光学信号相关的被耦合光学信号的耦合器输出。在所述PLC上形成交错的非对称波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)阵列，每一个波导马赫-曾德尔干涉仪(MZI)具有至少一个输入MZI波导，每一个MZI输入波导从相应的耦合器输出接收被耦合光学信号；其中所述输入MZI波导中的至少一些在所述PLC的公共层中以某一角度交叉，所述角度允许其相应的被耦合光学信号在没有不可接受的衰减的情况下传输。所述结构改善了所述PLC的空间效率，允许实现更多的MZI，产生增加的光谱分辨率。
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公开(公告)号：CN103635785A
公开(公告)日：2014-03-12
申请号：CN201280018360.3
申请日：2012-02-14
Applicant: 勒克思马克斯科技公司
Inventor： 杨纳森·丹特勒 , 欧尔理·亚迪德-佩科特
CPC classification number: G01J3/45 , C08L79/08 , G01J3/0259 , G01J3/44 , G01J3/4531 , G02B6/125 , G02B6/13 , G02B6/29344 , G02B6/2935
Abstract: 本发明公开一种位在一硅晶绝缘体(SOI)晶圆上，以CMOS技术整合的傅立叶转换红外光(FTIR)光谱仪。本发明完全整合于一精巧、微型、低成本及CMOS制造兼容芯片。本发明可在1.1μm到15μm范围内的各种红外光区运作，或可一次覆盖1.1μm到15μm的全光谱。所述CMOS-FTIR光谱仪具有高光学分辨率，无可移动部件，无光学镜片，精巧，在恶劣外部环境下不易损坏之特性，以及可用标准CMOS技术制造，使得FTIR光谱仪可大量生产。所述完全整合CMOS-FTIR光谱仪可用电池运作，所需的功能可用标准CMOS技术集成到单一芯片上。本公开发明的FTIR光谱仪亦可改造成一CMOS-拉曼光谱仪。
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公开(公告)号：CN101210874A
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200610171670.5
申请日：2006-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/4531 , G01N21/3586
Abstract: 一种测量太赫兹时域光谱的方法及设备，涉及太赫兹时域光谱领域。该方法包括步骤：以预定的重复频率从第一飞秒激光器发出第一脉冲激光束，用于产生太赫兹脉冲；以所述重复频率从第二飞秒激光器发出第二脉冲激光束；测量在所述第一脉冲激光束与所述第二脉冲激光束之间的各个相位差处的太赫兹脉冲的电场强度；以及通过对表示所述电场强度的数据进行傅立叶变换来得到太赫兹时域光谱。同现有技术相比，本发明在保持高探测带宽的同时能保持高的频谱分辨力，从而使装置鉴别物质的能力优于其它同类装置。
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公开(公告)号：CN104704333B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201380052250.3
申请日：2013-10-02
Applicant: 国立大学法人香川大学
Inventor： 石丸伊知郎
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/2803 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明的分光测量装置具备：分割光学系统，其将从位于被测量物的测量区域内的多个测量点分别发出的测量光束分割为第一测量光束和第二测量光束；成像光学系统，其使第一测量光束与第二测量光束发生干涉；光程差赋予单元，其对第一测量光束和第二测量光束之间赋予连续的光程差分布；检测部，其包括用于检测与上述连续的光程差分布对应的干涉光的强度分布的多个像素；处理部，其基于由检测部检测出的干涉光的光强度分布来求出被测量物的测量点的干涉图，通过对该干涉图进行傅立叶变换来获取光谱；共轭面成像光学系统，其配置在被测量物与分割光学系统之间，具有与该分割光学系统共用的共轭面；以及周期性赋予单元，其配置于共轭面，对从多个测量点发出的测量光束进行空间上的周期调制。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106361269A
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201610459033.1
申请日：2016-06-22
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Inventor： 西胁青儿
IPC: A61B5/00
CPC classification number: G01J3/4531 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/10 , G01J2003/102 , G01J2003/104 , G01J2003/4538 , A61B5/0059 , A61B5/0062 , A61B5/72
Abstract: 一种光检测装置，具备：第1光源，其向被摄体照射中心波长为第1波长的第1光；第2光源，其向被摄体照射中心波长为比第1波长长的第2波长的第2光；光学滤波器，其包含至少1个第1区域以及至少1个第2区域，使在被摄体进行透射或反射后的第3光进行透射，至少1个第1区域的透射波长即第1透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短，至少1个第2区域的透射波长即第2透射波长的范围比第1波长长并且比第2波长短，第2透射波长的半值宽度与第1透射波长的半值宽度不同；至少1个第1检测器，其检测在至少1个第1区域进行透射后的第3光的第1光量；和至少1个第2检测器，其检测在至少1个第2区域进行透射后的第3光的第2光量。
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公开(公告)号：CN103635785B
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201280018360.3
申请日：2012-02-14
Applicant: 勒克思马克斯科技公司
Inventor： 杨纳森·丹特勒 , 欧尔理·亚迪德-佩科特
CPC classification number: G01J3/45 , C08L79/08 , G01J3/0259 , G01J3/44 , G01J3/4531 , G02B6/125 , G02B6/13 , G02B6/29344 , G02B6/2935
Abstract: 本发明公开一种位在一硅晶绝缘体(SOI)晶圆上，以CMOS技术整合的傅立叶转换红外光(FTIR)光谱仪。本发明完全整合于一精巧、微型、低成本及CMOS制造兼容芯片。本发明可在1.1μm到15μm范围内的各种红外光区运作，或可一次覆盖1.1μm到15μm的全光谱。所述CMOS‑FTIR光谱仪具有高光学分辨率，无可移动部件，无光学镜片，精巧，在恶劣外部环境下不易损坏之特性，以及可用标准CMOS技术制造，使得FTIR光谱仪可大量生产。所述完全整合CMOS‑FTIR光谱仪可用电池运作，所需的功能可用标准CMOS技术集成到单一芯片上。本公开发明的FTIR光谱仪亦可改造成一CMOS‑拉曼光谱仪。
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公开(公告)号：CN105890762A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610087856.6
申请日：2016-02-16
Applicant: 光浩私人有限公司
Inventor： 潘宝文
CPC classification number: G01J3/0272 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/447 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01J3/45 , G01J3/46 , G02B27/283
Abstract: 本发明涉及一种小型分光仪。用于测量目标的光谱特征的分光仪包括供照相机使用的条纹产生光学器件和处理器。条纹产生光学器件由前光学器将和双折射光学器件形成。前光学器包括适于从目标接收光的扩散器。双折射光学器件适于从扩散器接收光并且生成干涉条纹。照相机适于接收干涉条纹并且处理器生成目标的光谱特征。该分光仪是适用于数字照相机的改善的傅里叶变换分光仪，该数字照相机诸如为移动装置中发现的照相机。
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公开(公告)号：CN103119407A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201180033060.8
申请日：2011-06-07
IPC: G01J3/26
CPC classification number: G01J3/45 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/4531 , G01J3/4532
Abstract: 所要保护的发明涉及一种干涉光谱分析设备并且能被用于不同技术领域中的光谱分析。本发明解决了增强光谱仪的光学特性的问题，其中通过采用最小数目的以低成本制造的光学元件减少了由于像差导致的来自物体的辐射光的损耗。这一问题得以解决是由于静态傅里叶光谱仪包括输入准直器，其光学连接到干涉测量单元，干涉测量元件包括光学分束器和至少两个反射镜，它们被布置为使得能够产生位于反射镜以及图像记录装置的平面中的干涉图案，图像记录装置借助于投影系统光学连接到干涉测量单元，使得所述干涉图案的图像能够被投影到图像记录装置上，其中投影系统包括球面镜和相对于反射镜的光学表面的法线位于中心的透镜类型的物镜，并且反射镜和透镜类型的物镜被设计成使光辐射能够从干涉测量单元穿过透镜类型的物镜到达球面镜，所述光辐射被所述球面镜反射并且穿过同一个透镜类型的物镜到达记录装置。
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公开(公告)号：CN102782465A
公开(公告)日：2012-11-14
申请号：CN201180011869.0
申请日：2011-01-14
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor： H·莫特梅尔
CPC classification number: G01J3/02 , G01B9/0209 , G01J3/0208 , G01J3/4531 , G01J3/4532
Abstract: 公开了一种干涉仪，例如该干涉仪可以并入到手持分光计中。干涉仪包括环绕路径光学器件和检测器，环绕路径光学器件包括分束器（210）和至少两个反射元件（221，222），分束器被布置为将输入光束（205）分为第一光束和第二光束（231、232）。环绕路径光学器件被布置为将第一光束和第二光束围绕环绕某一区域的路径在相反方向上引导并且朝向检测器（250）输出第一光束和第二光束。环绕路径光学器件还将第一光束和第二光束聚焦在检测器上。检测器被布置为检测由第一光束和第二光束产生的图案。在优选实施方式中，两个反射元件是一对凹面镜并且环绕路径光学器件环绕三角形区域。使用凹面镜用于反射和聚焦提供了紧凑的干涉仪。
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