一种转角二维材料的制备方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN120015704A

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510067615.4

    申请日:2025-01-15

    Abstract: 本发明属于二维材料技术领域,具体涉及一种转角异质结的制备方法。所述制备方法在制备二维材料薄片时,基于亲水性聚合物层表面平整、粘性强的特点,可以实现在有亲水性聚合物薄膜层的硅衬底上剥离出大面积的二维材料,且剥离过程干净,对二维材料无损伤;在制备转角异质结时,基于范德瓦尔斯力拾取的转移方法,并通过调节转移介质的形状和大小,使得中间二维材料或活性界面在整个转移过程中不会接触任何聚合物,从而大大减少了异质界面的污染,实现了高效快捷、无聚合物残留、界面无气泡的范德瓦尔斯异质结构的制备。

    主动式太赫兹安检成像方法及系统

    公开(公告)号:CN107728222B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201710778390.9

    申请日:2017-09-01

    Abstract: 本发明公开了属于安检设备及图像处理技术领域的一种主动式太赫兹安检成像方法及系统。该安检成像系统由数据采集与处理系统分别与太赫兹发射装置、太赫兹线阵探测器和带状波束扫描控制单元相连,分束器分别连接波束整形光学组件、太赫兹线阵探测器和太赫兹聚焦光学组件,带状波束扫描控制单元和被测目标组成。该方法采用以太赫兹源主动发射太赫兹辐射、带状聚焦波束一维扫描、线性阵列太赫兹探测器接收的模式,快速完成整个目标平面的照射与扫描,达到对目标快速成像和检查的目的;本发明采用主动式太赫兹安检成像系统提高了成像质量。采用一维扫描方式大大节省了成像时间。采用阵列探测器,简化电路系统结构,降低系统成本,减少经费开支。

    毫米波太赫兹成像设备及物体识别分类方法

    公开(公告)号:CN109471195A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811654183.3

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,检测器和图形处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上;检测器,所述检测器包括天线阵列和探测器阵列,其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口,所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上,且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像;以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧,且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。

    隐藏危险品检测方法及设备

    公开(公告)号:CN102759753B

    公开(公告)日:2015-08-26

    申请号:CN201110110590.X

    申请日:2011-04-29

    CPC classification number: G01N21/3581 G01J3/0237 G01N21/3563 G01V8/005

    Abstract: 本发明涉及隐藏危险品检测方法及设备。本发明的隐藏危险品检测方法包括:对被测物体进行太赫兹成像;判断太赫兹成像得到的被测物体太赫兹图像中是否存在藏有危险品的可疑区域;对藏有危险品的可疑区域进行多波长光谱分析测量,根据多波长光谱分析测量结果鉴别所述可疑区域中是否包含危险品;以及输出被测物体图像和危险品检测结果。还披露了一种用于实施本发明的隐藏危险品检测方法的设备。本发明的隐藏危险品检测方法及设备可同时从形状特征和物质成分的角度实现对隐藏危险品的鉴别,检测准确性大大增加。

    多元太赫兹信息探测方法和装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119757269A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411742052.6

    申请日:2024-11-29

    Abstract: 公开了一种多元太赫兹信息探测方法和装置。其利用距离太赫兹光源预定距离的太赫兹探测器获取两组空间强度分布信息:一组是直接采集的待测太赫兹光的空间强度分布,另一组是太赫兹光经过具有不同相位调控特征的微结构阵列调控后的空间强度分布。通过预先训练的神经网络,根据这两组空间强度分布信息重构得到待测太赫兹光的相位信息、光谱信息和偏振信息。本公开通过微结构阵列的相位调控和神经网络的信息重构,实现了多维信息的同时探测,避免了复杂的光学系统设计;采用双神经网络分别针对不同物理机制进行重构,提高了探测精度;具有毫秒级的快速探测能力,满足实际应用需求;系统结构简单,易于实现,具有良好的扩展性。

    太赫兹探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN109494293B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN201811631501.4

    申请日:2018-12-28

    Abstract: 公开了一种太赫兹探测器及其制造方法,该太赫兹探测器包括基底;以及至少一个探测单元,每个所述探测单元均包括:沟道材料,所述沟道材料设置在所述基底上,两个电极,两个所述电极分别与所述沟道材料的纵向方向的两端欧姆接触,和三维石墨烯,所述三维石墨烯与所述沟道材料直接或间接地热接触。本公开所提出的探测器通过将三维石墨烯作为吸收体,解决了沟道材料对太赫兹波吸收不足的问题,从而有效地提高了探测器的响应灵敏度。

    毫米波太赫兹成像设备及物体识别分类方法

    公开(公告)号:CN117031569A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310948809.6

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,微极化片阵列、探测器阵列和图像处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述微极化片阵列之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述探测器阵列上;所述微极化片阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为靠近所述探测器阵列;所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上,且被构造为将透过所述微极化片阵列的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像;以及所述图像处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述微极化片阵列的一侧,且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。

    毫米波太赫兹成像设备及物体识别分类方法

    公开(公告)号:CN109471195B

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN201811654183.3

    申请日:2018-12-29

    Abstract: 一种用于对被检对象进行安全检查的毫米波太赫兹成像设备,其包括聚焦透镜,检测器和图形处理装置,其中所述聚焦透镜设置在被检对象和所述检测器之间,且被构造为将被检对象自发辐射或反射回来的毫米波太赫兹波聚焦在所述检测器上;检测器,所述检测器包括天线阵列和探测器阵列,其中天线阵列设置在所述探测器阵列的朝向所述聚焦透镜的一侧且设置为所述探测器阵列的天线端口,所述探测器阵列设置在所述聚焦透镜的焦平面上,且被构造为将所述天线阵列接收的毫米波太赫兹波转化为被检对象的极化图像;以及所述图形处理装置设置于所述探测器阵列的远离所述天线阵列的一侧,且被构造为处理所述极化图像以对被检对象进行识别分类。

Patent Agency Ranking