公开(公告)号：CN116522834A

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN202310342384.4

申请日：2023-03-24

Applicant: 鹏城实验室

Inventor： 陶思敏 ,  刘贺 ,  龙帅英 ,  解壁伟 ,  李兴权

IPC: G06F30/3312 ,  G06F30/398 ,  G06N20/00 ,  G06F111/10 ,  G06F111/04

Abstract: 本申请公开了一种时延预测方法、装置、设备及存储介质，所述时延预测方法包括：获取电路中各单元的单元特征信息和各单元互连线的特征序列；基于各单元互连线的电容值和电阻值，计算各单元间互连线路径的等效电容值，并基于等效电容值，确定各单元间的目标互连线时延特征；基于等效电容值和单元特征信息，确定各单元的单元时延特征；将互连线时延特征和单元时延特征输入至预设的时延预测模型，基于时延预测模型，对互连线时延特征和单元时延特征进行预测处理，得到所述电路的时延结果。本申请将各单元互连线的电容值和电阻值等效成等效电容值，克服了相关技术中负载电容忽略了电阻屏蔽效应的不足，以此减少负载电容的误差，提高时序预测的准确性。

公开(公告)号：CN118486014A

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202410556742.6

申请日：2024-05-07

Applicant: 鹏城实验室

Inventor： 蔡晔 ,  梁宇耀 ,  陶思敏 ,  龙帅英 ,  杨博 ,  解壁伟 ,  李兴权

IPC: G06V20/64 ,  G06V10/82 ,  G06V10/774 ,  G06N3/08 ,  G06N3/0464

Abstract: 本申请公开了一种电容提取方法、装置、电子设备及存储介质，涉及集成电路技术领域，公开了电容提取方法，包括：获取待进行电容提取的目标版图；对所述目标版图进行三维采样，得到待提取样本；基于高斯定理对所述待提取样本进行点云编码，得到待提取编码数据；将所述待提取编码数据输入目标电容提取模型中，得到所述目标电容提取模型输出的目标电容。本申请实现了提升电容提取准确度的技术效果。

公开(公告)号：CN118350339A

公开(公告)日：2024-07-16

申请号：CN202410570809.1

申请日：2024-05-09

Applicant: 鹏城实验室

Inventor： 陶思敏 ,  刘贺 ,  龙帅英 ,  解壁伟 ,  李兴权

IPC: G06F30/394 ,  G06F30/396 ,  G06F30/392 ,  G06F30/398

Abstract: 本申请公开了一种布线前时延预测方法、装置、设备、存储介质及程序产品，涉及时序预测技术领域，该方法包括：对数字集成电路的关键单元进行静态时序分析，获得关键单元的时序裕量值；对布局阶段版图进行网格划分，获得多个网格区域；基于时序裕量值，对多个网格区域的关键单元进行特征构建，获得单元热点图；将单元热点图输入至时延预测模型中，获得布线前的数字集成电路所对应的预测布线后时序图。由于本申请对整个布局阶段版图进行网格划分，将每个网格区域中的关键单元作为分析对象，通过使用神经网络构建的时延预测模型进行时序特征分析，避免了传统的依赖于路径导致预测路径复杂不准确的情况，可精确地预测得到布线后的预测布线后时序图。