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发明公开
芯片单元布局优化方法、装置、设备及可读存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116306463A

公开(公告)日：2023-06-23

申请号：CN202310295307.8

申请日：2023-03-22

Applicant: 鹏城实验室

Inventor： 解壁伟 , 巫文锐 , 蔡晔 , 庄楚楠 , 李兴权

IPC: G06F30/392 , G06F30/394 , G06F30/398

Abstract: 本申请公开了一种芯片单元布局优化方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括步骤：获取芯片单元的整体布局数据；根据整体布局数据，确定芯片单元所处的多个单元区域，并确定每个单元区域的引脚密度；确定引脚密度是否大于预设密度；若大于，则将引脚密度大于预设密度的单元区域内的芯片单元扩散至其他的单元区域，并返回确定引脚密度是否大于预设密度的步骤，直至每个引脚密度均小于等于预设密度。本申请实现了从芯片单元布局的整体情况出发，分别确定各个单元区域内的引脚密度，将引脚密度大于预设密度的单元区域内的芯片单元扩散至其他的单元区域，以降低单元区域的引脚密度，以降低布线成本。

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