一种基于深度电极的光子计数探测器及其堆积校正方法

    公开(公告)号:CN114838820A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210259970.8

    申请日:2022-03-16

    Abstract: 本发明涉及一种基于深度电极的光子计数探测器及其堆积校正方法,属于半导体技术领域。本发明包括对于每一个独立的能量通道的每个脉冲幅度信号增加一个独立的校正因子项,该校正因子项为两个或多个可分离参数化函数的乘积;其中第一个参数化函数取决于所有能量通道或目标能量通道附近一定窗口范围内能量通道上相应探测信号的加权和,该参数化函数包括两个关键参数项;其中第二个参数化函数取决于单个目标能量通道或多个能道范围内的探测信号总和,堆积校正所用参数化函数包括至少一个关键参数项。采用本发明的芯片系统,通过认为目标能量通道信号与校正因子的可分离性并忽略互相关函数影响,校正算法的参数数量和堆积校正算法的复杂性将降低。

    基于平滑投影Landweber算法的差分单像素成像方法及系统

    公开(公告)号:CN115866219B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202211424236.9

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本发明涉及一种基于平滑投影Landweber算法的差分单像素成像方法及系统,属于光学成像系统及图像处理领域。该成像方法具体如下:S1、获取原始图像,并生成观测矩阵;S2、变换观测矩阵以满足数字微镜阵列的要求;S3、采用数字微镜阵列完成连续两次投影以得到差分测量值;S4、对观测矩阵和差分测量值进行处理;S5、采用平滑投影Landweber算法对步骤S4得到的处理结果进行计算,得到复原图像。本发明采用差分单像素成像系统获取目标场景的图像,采用平滑投影Landweber算法对目标场景图像进行复原,可以在无准直、高背景噪声、低采样率条件下对目标场景进行高质量成像。

    基于平滑投影Landweber算法的差分单像素成像方法及系统

    公开(公告)号:CN115866219A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211424236.9

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 本发明涉及一种基于平滑投影Landweber算法的差分单像素成像方法及系统,属于光学成像系统及图像处理领域。该成像方法具体如下:S1、获取原始图像,并生成观测矩阵;S2、变换观测矩阵以满足数字微镜阵列的要求;S3、采用数字微镜阵列完成连续两次投影以得到差分测量值;S4、对观测矩阵和差分测量值进行处理;S5、采用平滑投影Landweber算法对步骤S4得到的处理结果进行计算,得到复原图像。本发明采用差分单像素成像系统获取目标场景的图像,采用平滑投影Landweber算法对目标场景图像进行复原,可以在无准直、高背景噪声、低采样率条件下对目标场景进行高质量成像。

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