激光诱导熔石英损伤样品缺陷的太赫兹近场检测系统及方法

    公开(公告)号:CN113686808A

    公开(公告)日:2021-11-23

    申请号:CN202110874381.6

    申请日:2021-07-30

    Abstract: 本发明公开了激光诱导熔石英损伤样品缺陷的太赫兹近场检测系统及方法,包括激光诱导损伤单元和太赫兹近场检测单元;激光诱导损伤单元:激光I发射的激光诱导样品产生损伤;激光II发射的激光照射样品以便通过CCD探测器监视样品表面损伤情况。太赫兹近场检测单元:激光源III发射的激光经分束镜II分为泵浦光和探测光;泵浦光经电导天线辐射出太赫兹波、再经斩波器后照射到损伤后的样品的下表面;探测光到达光电导微探针的针尖,用于产生自由载流子,在太赫兹电场的作用下产生光电流;光电导微探针用于检测穿过样品的太赫兹波。本发明可在线直接检测熔石英损伤后缺陷,同时高分辨率表征表层与亚表层的缺陷,能够较准确的标定损伤缺陷位置。

    一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统及方法

    公开(公告)号:CN113670581A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202110872099.4

    申请日:2021-07-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统及方法,分光镜用于将激光器发射的激光分为两束激光;其中一束激光用于作为泵浦光照射到样品表面诱导损伤;另一束激光经透镜汇聚激发电离空气,产生两束具有相同脉宽和光谱范围的瞬态白光;设置两个透镜组用于收集瞬态白光,经透镜组处理的其中一束瞬态白光作为参考光,经光纤I收集于光谱仪;另一束瞬态白光作为探针光,经光纤II传递至样品处,与泵浦光一通聚集于样品上的相同位置。本发获得两束光谱成分和强度基本一致的两束宽光谱瞬态白光,验证了双光速瞬态吸收装置的可行性,提出双光束瞬态测试方法,研究光学元件在紫外激光辐照下瞬态吸收特性。

    一种用于黏稠液体样品太赫兹光谱检测的样品池装置

    公开(公告)号:CN111781160A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN202010771780.5

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明公开了一种用于黏稠液体样品太赫兹光谱检测的样品池装置,包括基座和样品池盖,所述基座和样品池盖相互配合,还包括第一凸起、第一凹槽、第二凸起和第三凹槽,所述第一凹槽设置在基座的正面上,所述第一凸起设置在第一凹槽的底部,所述第一凸起端部向下凹陷形成用于放置黏稠液体样品的第三凹槽,第一凹槽比第一凸起低,所述样品池盖背面设置第二凸起,所述第二凸起嵌入于第三凹槽配合。本发明优点是:使用方便、便携并且成本低;易于清洁、易于盛装黏稠液体样品;使待测液体样品厚度均匀,减小了由样品厚度造成的误差。

    一种基于时域光谱技术的太赫兹双模式成像系统及方法

    公开(公告)号:CN113267465B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202110521855.9

    申请日:2021-05-13

    Abstract: 本发明公开一种基于时域光谱技术的太赫兹双模式成像系统及方法,飞秒激光发射端产生的脉冲激光分成泵浦激光和探测激光,泵浦激光经过延迟后聚焦照射在太赫兹发射端产生太赫兹波,探测激光分成远场成像探测激光和近场成像探测激光经,远场成像探测激光聚焦照射在可移动第二光导探测端,近场成像探测激光聚焦照射在可移动第一光导探测端;太赫兹波经准直聚焦后穿过样品照射在可移动第一光导探测端上;照射在可移动第一光导探测端上的太赫兹波可以通过切换通道准直聚焦后照射在可移动第二光导探测端上,本发明基于现有的太赫兹成像系统的改进,解决了太赫兹成像系统单模式成像、对样品信息探测得不全面和成像分辨率低的问题。

    一种基于线偏压位置的太赫兹波相位调控系统

    公开(公告)号:CN113394647B

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202110712943.7

    申请日:2021-06-25

    Abstract: 本发明公开了一种基于线偏压位置的太赫兹波相位调控系统,激光发生装置发出入射激光脉冲,入射激光脉冲经过脉宽和能量调节装置进行脉冲调节和能量调节后分成两束激光:一束作为探测激光经过探测激光路的时间延迟并聚焦到达太赫兹探测器;一束作为泵浦激光进入具有线高压装置的泵浦激光路后形成等离子体通道,具有线高压装置的泵浦激光路对等离子体通道不同位置加载电场,等离子体通道辐射出太赫兹波经聚焦后到达太赫兹探测器;通过线高压装置对等离子体通道不同位置加载电场,从而对太赫兹波相位进行调控,制作工艺简单,成本较低,在太赫兹波的辐射源头进行调控,对太赫兹波相位调控具精准,调控效果较好。

    一种极化不敏感的太赫兹调制器及其制备方法

    公开(公告)号:CN112987345A

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN202110350364.2

    申请日:2021-03-31

    Abstract: 本发明公开了一种极化不敏感的太赫兹调制器及其制备方法,每个调制单元包括两个开口的弓形超材料结构、高电子迁移率晶体管、十字形结构连通的第一栅极馈线和第二栅极馈线和源漏馈线,两个弓形超材料结构关于第一栅极馈线对称,弓形超材料结构的开口处匹配高电子迁移率晶体管,高电子迁移率晶体管的源极和漏极分别连接弓形超材料结构开口的两侧,高电子迁移率晶体管通过第二栅极馈线与肖特基电极连接,弓形超材料结构通过源漏馈线与欧姆电极连接,采用弓形超材料结构开口,通过外加激励可控制HEMT中的二维电子气的浓度,可控制太赫兹波的通断,器件对极化方向x和y的太赫兹波不敏感,在220GHz处的调制器的调制深度均为93%。

    一种可双模式工作的雪崩光电探测器

    公开(公告)号:CN111121984A

    公开(公告)日:2020-05-08

    申请号:CN201911303312.9

    申请日:2019-12-17

    Abstract: 本发明涉及一种可双模式工作的雪崩光电探测器,属于传感器领域。包括可调电阻器R1,雪崩光电二极管APD,取样电阻Rs,低噪声放大器,多路开关1,线性放大器,计数器,信号处理器,数-模转换器,以及多路开关2;APD通过可调电阻器R1被偏置高压反向偏置,然后通过取样电阻Rs接到地端;通过取样电阻Rs,APD探测光子得到的电流信号,被转化为电压信号后,输入低噪声放大器;低噪声放大器提供一定的增益,提高信噪比和后端驱动能力,以免APD输出信号在后续处理中被引入的噪声淹没,便于后续处理。

    一种用于黏稠液体样品太赫兹光谱检测的样品池装置

    公开(公告)号:CN111781160B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202010771780.5

    申请日:2020-08-04

    Abstract: 本发明公开了一种用于黏稠液体样品太赫兹光谱检测的样品池装置,包括基座和样品池盖,所述基座和样品池盖相互配合,还包括第一凸起、第一凹槽、第二凸起和第三凹槽,所述第一凹槽设置在基座的正面上,所述第一凸起设置在第一凹槽的底部,所述第一凸起端部向下凹陷形成用于放置黏稠液体样品的第三凹槽,第一凹槽比第一凸起低,所述样品池盖背面设置第二凸起,所述第二凸起嵌入于第三凹槽配合。本发明优点是:使用方便、便携并且成本低;易于清洁、易于盛装黏稠液体样品;使待测液体样品厚度均匀,减小了由样品厚度造成的误差。

    一种基于超表面结构的太赫兹成像系统及方法

    公开(公告)号:CN113218910B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN202110521359.3

    申请日:2021-05-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于超表面结构的太赫兹成像系统及方法,包括:太赫兹源、太赫兹探测器和图像复原模块,其特征在于,还包括空间调制超表面模块;太赫兹源产生太赫兹波,太赫兹波透过成像目标后到达空间调制超表面模块,空间调制超表面模块对太赫兹波进行空间调制;被空间调制后的太赫兹波被太赫兹探测器接收,太赫兹探测器将接收到的信号发送给图像复原模块,由图像复原模块使用压缩感知和信号复原算法实现成像目标的图像还原;使用二维平面结构的空间调制超表面模块,其加工工艺成熟,易于加工,调制方式简单,调控方便;且由于使用压缩感知原理,使得数据采集次数更低,成像速度更快,数据存储量更低。

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