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公开(公告)号：CN119828638A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411810885.1
申请日：2024-12-10
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种温度控制电路自动测试系统及方法，旨在于解决现有技术中缺乏成熟通用的温度控制电路自动测试方案的技术问题。所述自动测试系统包括MCU控制模块、测试模块、电源模块和温度采集模块。MCU控制模块协调各模块工作；测试模块含继电器切换开关模块和I/O测试模块，可测试被测设备不同工况性能；电源模块提供稳定电源；温度采集模块设定范围调控温度采集数据。测试方法为MCU控制模块发信号，各模块依令运作，测试模块测试并反馈数据，电源模块供电，温度采集模块调温采集，MCU控制模块判断性能。本发明实现全量程自动测试，提升效率，减少人为失误，为温度控制电路测试提供可靠方案，助力相关产业发展。
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