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公开(公告)号:CN119828638A
公开(公告)日:2025-04-15
申请号:CN202411810885.1
申请日:2024-12-10
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明公开了一种温度控制电路自动测试系统及方法,旨在于解决现有技术中缺乏成熟通用的温度控制电路自动测试方案的技术问题。所述自动测试系统包括MCU控制模块、测试模块、电源模块和温度采集模块。MCU控制模块协调各模块工作;测试模块含继电器切换开关模块和I/O测试模块,可测试被测设备不同工况性能;电源模块提供稳定电源;温度采集模块设定范围调控温度采集数据。测试方法为MCU控制模块发信号,各模块依令运作,测试模块测试并反馈数据,电源模块供电,温度采集模块调温采集,MCU控制模块判断性能。本发明实现全量程自动测试,提升效率,减少人为失误,为温度控制电路测试提供可靠方案,助力相关产业发展。
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公开(公告)号:CN222704661U
公开(公告)日:2025-04-01
申请号:CN202420923720.4
申请日:2024-04-29
Applicant: 西安微电子技术研究所
IPC: G01R27/02
Abstract: 本实用新型提供一种遥测输出阻抗测试装置,包括遥测端子接口模块、阻抗测试模块、数据采集模块、继电器切换开关模块、主控模块、电源模块和上位机,所述电源模块分别电性连接有数据采集模块、继电器切换开关模块和主控模块,所述阻抗测试模块内设置多个测试电阻,待测件DUT通过遥测端子接口模块分别与阻抗测试模块内的测试电阻组成串联回路,所述数据采集模块用于采集阻抗测试模块的电阻信号,并将电阻信号传递给主控模块;所述主控模块的信号输出端连接继电器切换开关模块,主控模块用于通过继电器切换开关模块控制阻抗测试模块中测试电阻的通断;本申请可以实现不同测试通道的选通,从而实现模拟信号的导通和隔离、实现多路遥测信号的采集。
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