公开(公告)号：CN102164250B

公开(公告)日：2014-04-30

申请号：CN201110046568.3

申请日：2011-02-17

Applicant: 美商豪威科技股份有限公司

Inventor： W·郑 ,  戴幸志 ,  钱胤 ,  H·李 ,  H·E·罗兹

IPC: H04N5/374 ,  H04N5/3745 ,  H04N5/367

CPC classification number: H04N5/361 ,  H01L27/1461 ,  H01L27/14634 ,  H01L27/1464 ,  H04N5/3745

Abstract: 本发明公开一种能够进行黑电平校准的成像系统，该成像系统包括成像像素阵列、至少一个黑基准像素以及周边电路。该成像像素阵列包括各自经耦合以捕获图像数据的多个有效像素。该黑基准像素经耦合以产生用于校准该图像数据的黑基准信号。光透射层设置于包括该成像系统的像素阵列管芯的第一面上，且覆盖至少该成像像素阵列和黑基准像素。光屏蔽层设置于该像素阵列管芯的该第一面上，且覆盖光透射层的一部分和该黑基准像素而不覆盖该成像像素阵列。

公开(公告)号：CN102164250A

公开(公告)日：2011-08-24

申请号：CN201110046568.3

申请日：2011-02-17

Applicant: 美商豪威科技股份有限公司

Inventor： W·郑 ,  戴幸志 ,  钱胤 ,  H·李 ,  H·E·罗兹

IPC: H04N5/374 ,  H04N5/3745 ,  H04N5/367

CPC classification number: H04N5/361 ,  H01L27/1461 ,  H01L27/14634 ,  H01L27/1464 ,  H04N5/3745

Abstract: 本发明公开一种能够进行黑电平校准的成像系统，该成像系统包括成像像素阵列、至少一个黑基准像素以及周边电路。该成像像素阵列包括各自经耦合以捕获图像数据的多个有效像素。该黑基准像素经耦合以产生用于校准该图像数据的黑基准信号。光透射层设置于包括该成像系统的像素阵列管芯的第一面上，且覆盖至少该成像像素阵列和黑基准像素。光屏蔽层设置于该像素阵列管芯的该第一面上，且覆盖光透射层的一部分和该黑基准像素而不覆盖该成像像素阵列。