-
公开(公告)号：CN104303411A
公开(公告)日：2015-01-21
申请号：CN201380026315.7
申请日：2013-04-03
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: H02P6/12 , H02M7/219 , H02M2007/2195 , H02P6/28 , Y02B70/1408
Abstract: 本发明涉及用于电机（103）的变换器（100），具有用于变换电压的与至少一个接触部（105-1）连接的半导体器件（107-1）、用于测量所述半导体器件（107-1）上的电压降UDS的电压测量装置（101）和用于控制所述半导体器件（107-1）的控制设备，其中所述控制设备被构造用于借助所测量的电压降UDS确定所述接触部（105-1）的状态。
-
公开(公告)号：CN104465316A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410480442.0
申请日：2014-09-19
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01K7/01 , G01K2217/00 , G01R31/2619 , G01R31/2628 , H01L23/345 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及一种用于确定半导体器件的热阻抗的方法，其中给所述半导体器件通加热电流（101、201），确定所述半导体器件上的损耗功率，检测所述半导体器件上的依赖于半导体器件的温度的电压降（103、205），由所检测的电压降将半导体器件关于时间的温度作为加热曲线来确定（104、207）并且将所述半导体器件的热阻抗作为所确定的温度和所确定的损耗功率的商来确定（106、208）。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103852706B
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201310644163.9
申请日：2013-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司 , 索恩格汽车德国有限责任公司
IPC: G01R31/26
CPC classification number: H03K17/145 , G01R31/2628 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 考虑退化地确定功率半导体的阻挡层温度的方法及其实现装置。提出一种基于在功率半导体（201）的运行中测量的功率半导体（201）的损耗功率（Pv）以及损耗功率（Pv）与功率半导体（201）的取决于温度的阻抗（Zth）之间的关系来确定功率半导体（201）的阻挡层温度（Tj）的方法，其中基于在功率半导体（201）的运行中记录的升温曲线来确定取决于温度的阻抗（Zth）。本发明还包括用于实施这样的方法的装置。
-
公开(公告)号：CN104303411B
公开(公告)日：2017-11-07
申请号：CN201380026315.7
申请日：2013-04-03
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: H02P6/12 , H02M7/219 , H02M2007/2195 , H02P6/28 , Y02B70/1408
Abstract: 本发明涉及用于电机（103）的变换器（100），具有用于变换电压的与至少一个接触部（105‑1）连接的半导体器件（107‑1）、用于测量所述半导体器件（107‑1）上的电压降UDS的电压测量装置（101）和用于控制所述半导体器件（107‑1）的控制设备，其中所述控制设备被构造用于借助所测量的电压降UDS确定所述接触部（105‑1）的状态。
-
公开(公告)号：CN105008172B
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201480012104.2
申请日：2014-01-16
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: B60L3/0061 , B60L3/003 , B60L3/0084 , B60L3/12 , B60L7/14 , B60L15/007 , B60L2240/36 , B60L2240/80 , B60L2260/44 , H02H3/42 , H02H6/00 , Y02T10/645
Abstract: 本发明涉及一种用于运行具有车用电路的机动车的方法（10），所述车用电路具有至少一个半导体开关，所述半导体开关在所述机动车的运行过程中由于至少一个影响负荷的因素用负荷事件加荷，并且对于所述半导体开关来说预先给定了使用寿命‑负荷关系（21），所述使用寿命‑负荷关系对于额定负荷（23）来说表明额定使用寿命（22），并且在所述额定使用寿命（22）之内能够借助于所述使用寿命‑负荷关系为至少一个时刻（24‑26）求得与所述至少一个时刻（24‑26）相对应的额定负荷份额，并且其中所述方法（10）对于所述至少一个时刻（24‑26）来说包括以下步骤：在所述至少一个时刻（24‑26）在确定属于过去的负荷事件的基础上求得（11‑16）所述至少一个半导体开关的实际负荷；借助于所述预先给定的使用寿命‑负荷关系（21）来求得与所述至少一个时刻（24‑26）相对应的额定负荷份额；并且在所述至少一个时刻将所述实际负荷与所述额定负荷份额进行比较（17）；并且降低所述至少一个影响负荷的因数，如果在所述至少一个时刻（24‑26）所述实际负荷比所述额定负荷份额高出一个以上的预先给定的公差值。用于实施所述方法的机构同样是本发明的主题。
-
公开(公告)号：CN105008172A
公开(公告)日：2015-10-28
申请号：CN201480012104.2
申请日：2014-01-16
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: B60L3/0061 , B60L3/003 , B60L3/0084 , B60L3/12 , B60L7/14 , B60L15/007 , B60L2240/36 , B60L2240/80 , B60L2260/44 , H02H3/42 , H02H6/00 , Y02T10/645
Abstract: 本发明涉及一种用于运行具有车用电路的机动车的方法（10），所述车用电路具有至少一个半导体开关，所述半导体开关在所述机动车的运行过程中由于至少一个影响负荷的因素用负荷事件加荷，并且对于所述半导体开关来说预先给定了使用寿命-负荷关系（21），所述使用寿命-负荷关系对于额定负荷（23）来说表明额定使用寿命（22），并且在所述额定使用寿命（22）之内能够借助于所述使用寿命-负荷关系为至少一个时刻（24-26）求得与所述至少一个时刻（24-26）相对应的额定负荷份额，并且其中所述方法（10）对于所述至少一个时刻（24-26）来说包括以下步骤：在所述至少一个时刻（24-26）在确定属于过去的负荷事件的基础上求得（11-16）所述至少一个半导体开关的实际负荷；借助于所述预先给定的使用寿命-负荷关系（21）来求得与所述至少一个时刻（24-26）相对应的额定负荷份额；并且在所述至少一个时刻将所述实际负荷与所述额定负荷份额进行比较（17）；并且降低所述至少一个影响负荷的因数，如果在所述至少一个时刻（24-26）所述实际负荷比所述额定负荷份额高出一个以上的预先给定的公差值。用于实施所述方法的机构同样是本发明的主题。
-
公开(公告)号：CN103852706A
公开(公告)日：2014-06-11
申请号：CN201310644163.9
申请日：2013-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
IPC: G01R31/26
CPC classification number: H03K17/145 , G01R31/2628 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 考虑退化地确定功率半导体的阻挡层温度的方法及其实现装置。提出一种基于在功率半导体（201）的运行中测量的功率半导体（201）的损耗功率（Pv）以及损耗功率（Pv）与功率半导体（201）的取决于温度的阻抗（Zth）之间的关系来确定功率半导体（201）的阻挡层温度（Tj）的方法，其中基于在功率半导体（201）的运行中记录的升温曲线来确定取决于温度的阻抗（Zth）。本发明还包括用于实施这样的方法的装置。
-
-
-
-
-
-
Search Results
7
records
(took 0.019 seconds)
