用于处理基板的设备和用于处理基板的方法

    公开(公告)号:CN118016563A

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN202311489322.2

    申请日:2023-11-09

    Abstract: 本发明构思提供了一种用于蚀刻基板上的特定区域的基板处理方法。所述基板处理方法包括:将处理液体供应到所述基板;以及向所述特定区域照射激光以局部加热所述特定区域;并且其中在照射所述激光时,在所述特定区域内多次照射所述激光,并且所述激光照射到在所述基板上不重叠、但是在所述特定区域内重叠的区域。

    缓冲单元、基板处理设备及基板处理方法

    公开(公告)号:CN102810500A

    公开(公告)日:2012-12-05

    申请号:CN201210179529.5

    申请日:2012-05-31

    CPC classification number: H01L21/67769 H01L21/67173 H01L21/67178

    Abstract: 本发明提供了一种缓冲单元,所述缓冲单元包括:框架,所述框架包括底板、第一垂直板和第二垂直板,其中所述第一垂直板和所述第二垂直板在所述底板上相互隔离;第一缓冲器,在所述第一缓冲器上放置基板,所述第一缓冲器被允许在所述第一垂直板和所述第二垂直板之间翻转;及多个驱动部,所述多个驱动部设置在所述第一垂直板和所述第二垂直板外侧,并驱动所述第一缓冲器夹持和翻转放置在所述第一缓冲器上的基板。

    基板处理设备和基板处理方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116364622A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202211704296.6

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明公开了一种基板处理设备,所述基板处理设备包括:支撑单元,所述支撑单元支撑所述基板并使其旋转;加热单元,所述加热单元包括以形成在基板中的图案照射激光的激光照射器;移动模块,所述移动模块通过使加热单元移动来改变激光照射器的位置;以及控制器,所述控制器控制所述支撑单元和所述加热单元,所述移动模块使加热单元在激光照射到基板的加热位置和与基板偏离的待机位置之间移动,并且所述移动模块使所述加热单元旋转和线性地移动。

    用于处理基板的装置和方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116364598A

    公开(公告)日:2023-06-30

    申请号:CN202211699722.1

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明涉及用于处理基板的装置和方法。本发明构思提供了一种基板处理装置。该基板处理装置包括:壳体;支承单元,该支承单元定位在该壳体内并且被配置成支承基板;液体供应单元,该液体供应单元被配置成将处理液供应到支承在该支承单元上的该基板;以及激光模块,该激光模块被配置成将激光照射到被供应有该处理液的该基板;以及视觉模块,该视觉模块用于监控该基板中该激光照射的点。

    照射模块以及具有所述照射模块的用于处理基板的设备

    公开(公告)号:CN116344383A

    公开(公告)日:2023-06-27

    申请号:CN202211447131.5

    申请日:2022-11-18

    Abstract: 本发明构思提供一种基板处理设备。所述基板处理设备包括:支撑单元,所述支撑单元被配置为在处理空间处支撑和旋转基板;液体供应单元,所述液体供应单元被配置为向被支撑在所述支撑单元处的所述基板供应液体;壳体,所述壳体具有安装空间;激光单元,所述激光单元被配置为包括定位在所述安装空间中的照射激光的激光照射单元以及具有定位成从所述壳体突出的端部并且将从所述激光照射单元照射的所述激光照射到被支撑在所述支撑单元上的基板的照射端;以及盖,所述盖具有内部空间并且定位成使得所述照射端的从所述壳体突出的端部定位在所述内部空间中,并且其中在所述盖的底端处形成有开口以当从上方看时所述开口与从所述照射端照射的所述激光重合。

    缓冲单元、基板处理设备及基板处理方法

    公开(公告)号:CN102810500B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201210179529.5

    申请日:2012-05-31

    CPC classification number: H01L21/67769 H01L21/67173 H01L21/67178

    Abstract: 本发明提供了一种缓冲单元,所述缓冲单元包括:框架,所述框架包括底板、第一垂直板和第二垂直板,其中所述第一垂直板和所述第二垂直板在所述底板上相互隔离;第一缓冲器,在所述第一缓冲器上放置基板,所述第一缓冲器被允许在所述第一垂直板和所述第二垂直板之间翻转;及多个驱动部,所述多个驱动部设置在所述第一垂直板和所述第二垂直板外侧,并驱动所述第一缓冲器夹持和翻转放置在所述第一缓冲器上的基板。

    基板处理装置及方法
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117055309A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202210485089.X

    申请日:2022-05-06

    Abstract: 本发明提供了抑制显影液和感光膜的不必要的附加反应并防止因附加反应而生成感光膜残留物的基板处理装置及方法。所述基板处理方法可以包括以下步骤:以第一转速旋转基板,同时向所述基板上供应有机显影液;以低于所述第一转速的第二转速旋转所述基板,同时向所述基板供应非极性冲洗液以用所述非极性冲洗液置换所述有机显影液;以高于所述第二转速的第三转速旋转所述基板,同时继续供应所述非极性冲洗液;以及以所述第二转速与所述第三转速之间的第四转速旋转所述基板,同时继续供应所述非极性冲洗液。

    用于处理基板的装置及用于处理基板的方法

    公开(公告)号:CN116382036A

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN202211736730.9

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明构思提供一种掩模处理方法。掩模处理方法包括通过将液体供应至掩模、并且在液体保留于掩模上的同时将激光照射至其上形成有特定图案的掩模的区域来处理掩模;在用于处理基板的工艺位置与从工艺位置偏离的备用位置之间移动包括配置为照射激光的激光单元的光学模块;及在将光学模块移动至工艺位置之前,将设置于备用位置的检验端口处的光学模块的状态调整成设定条件。

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