滤波器单元,包括该滤波器单元的基板处理设备和基板处理方法

    公开(公告)号:CN111988008A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010434951.5

    申请日:2020-05-21

    Abstract: 公开了一种基板处理设备。基板处理设备可包括:腔室,在腔室中限定有处理空间;支撑单元,用于将基板支撑在处理空间中;加热器电源,其用于向支撑单元中的加热器施加电力;以及高频电源,用于将高频电力施加到支撑单元中的下部电极;以及滤波器单元,其安装在用于将加热器电源与加热器连接的线路处以防止高频流入。滤波器单元可包括:壳体;壳体中的一个或多个线圈;以及设置在壳体与线圈之间的调节构件。调节构件可以由非磁性材料制成。调节构件可以以预定间隔与线圈间隔开,并且与壳体的内壁间隔开或者与壳体的内壁接触。

    用于处理基板的装置和方法

    公开(公告)号:CN112151346B

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202010589986.6

    申请日:2020-06-24

    Abstract: 本发明涉及用于处理基板的装置和方法,所述装置包括:腔室,在所述腔室中具有处理空间;基板支承单元,其在处理空间中支承基板;气体供应单元,其将气体供应到处理空间中;和等离子体生成单元,等离子体生成单元包括RF电源,所述RF电源施加RF功率,其中等离子体生成单元通过使用RF功率从气体生成等离子体。基板支承单元包括:支承板,其支承基板;和加热单元,其控制基板的温度。加热单元包括:多个加热构件,其设置在支承板的不同区域中;加热器电源,其将功率施加至多个加热构件;滤波器,其防止多个加热构件与RF电源之间的耦合;和检测单元,其设置在多个加热构件与滤波器之间,且检测支承板的各个区域的等离子体特性。

    用于处理基板的装置和方法

    公开(公告)号:CN112151346A

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN202010589986.6

    申请日:2020-06-24

    Abstract: 本发明涉及用于处理基板的装置和方法,所述装置包括:腔室,在所述腔室中具有处理空间;基板支承单元,其在处理空间中支承基板;气体供应单元,其将气体供应到处理空间中;和等离子体生成单元,等离子体生成单元包括RF电源,所述RF电源施加RF功率,其中等离子体生成单元通过使用RF功率从气体生成等离子体。基板支承单元包括:支承板,其支承基板;和加热单元,其控制基板的温度。加热单元包括:多个加热构件,其设置在支承板的不同区域中;加热器电源,其将功率施加至多个加热构件;滤波器,其防止多个加热构件与RF电源之间的耦合;和检测单元,其设置在多个加热构件与滤波器之间,且检测支承板的各个区域的等离子体特性。

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