光电转换装置、电子设备

    公开(公告)号:CN102646687B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201210033147.1

    申请日:2012-02-14

    CPC classification number: H01L27/14632 H01L27/14645

    Abstract: 本发明提供一种具有可降低漏电流(暗电流)的光电转换部的光电转换装置以及使用该光电转换装置的电子设备。本适用例的光电转换装置,其特征在于,具备:在基板上形成的电路部,与电路部电气连接的第1电极(21),与第1电极(21)相对配置的具有透光性的第2电极(22),在第1电极(21)和第2电极(22)之间配置的光电转换部(26);光电转换部(26)由光吸收层(23)、非晶质的氧化物半导体层(24)和窗层(25)层叠而成,所述光吸收层(23)是由黄铜矿型的p型化合物半导体膜构成,所述窗层(25)由n型半导体膜构成。

    电光学装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101419369B

    公开(公告)日:2012-04-18

    申请号:CN200810170289.6

    申请日:2008-10-20

    Inventor: 服部恭典

    Abstract: 一种电光学装置(100),利用由金属膜构成的电阻线(105),作为用于对像素区域(10b)的温度进行检测的温度检测元件。因此,可以减小温度检测元件占有的面积,并且即使电阻线(105)跨像素区域(10b)的全周的1/2以上延伸,对设置其他布线也没有障碍。此外,由于电阻线(105)跨像素区域(10b)的全周的1/2以上延伸,所以能正确检测像素区域(10b)的温度。从而,可提供即使温度检测元件或温度检测用布线占有的面积窄时,也能可靠地监视像素区域全体的温度的电光学装置。

    光电转换装置、电子设备

    公开(公告)号:CN102646687A

    公开(公告)日:2012-08-22

    申请号:CN201210033147.1

    申请日:2012-02-14

    CPC classification number: H01L27/14632 H01L27/14645

    Abstract: 本发明提供一种具有可降低漏电流(暗电流)的光电转换部的光电转换装置以及使用该光电转换装置的电子设备。本适用例的光电转换装置,其特征在于,具备:在基板上形成的电路部,与电路部电气连接的第1电极(21),与第1电极(21)相对配置的具有透光性的第2电极(22),在第1电极(21)和第2电极(22)之间配置的光电转换部(26);光电转换部(26)由光吸收层(23)、非晶质的氧化物半导体层(24)和窗层(25)层叠而成,所述光吸收层(23)是由黄铜矿型的p型化合物半导体膜构成,所述窗层(25)由n型半导体膜构成。

    电光学装置及电子设备

    公开(公告)号:CN101587256A

    公开(公告)日:2009-11-25

    申请号:CN200910203459.0

    申请日:2009-05-21

    Inventor: 服部恭典

    CPC classification number: G02F1/13338

    Abstract: 本发明涉及电光学装置及电子设备。例如在具有触摸面板功能的液晶装置中,能够准确检测出手指等指示机构。光传感器部(150)具备能够检测红外光的受光元件(192)、蓄积电容(152)、复位TFT(163)、信号放大用TFT(154)及输出控制用TFT(155)而构成。并且,光传感器部(150)具备能够检测可视光的受光元件部(191)。能够根据输出电流准确地检测出对显示面进行指示的手指等指示机构的位置,所述输出电流是根据入射到液晶装置(1)的显示面的可视光及红外光分别从受光元件部(191)及受光元件(192)输出的电流。

    电光学装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101419369A

    公开(公告)日:2009-04-29

    申请号:CN200810170289.6

    申请日:2008-10-20

    Inventor: 服部恭典

    Abstract: 一种电光学装置(100),利用由金属膜构成的电阻线(105),作为用于对像素区域(10b)的温度进行检测的温度检测元件。因此,可以减小温度检测元件占有的面积,并且即使电阻线(105)跨像素区域(10b)的全周的1/2以上延伸,对设置其他布线也没有障碍。此外,由于电阻线(105)跨像素区域(10b)的全周的1/2以上延伸,所以能正确检测像素区域(10b)的温度。从而,可提供即使温度检测元件或温度检测用布线占有的面积窄时,也能可靠地监视像素区域全体的温度的电光学装置。

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