-
公开(公告)号：CN103294867B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201310219603.6
申请日：2013-06-05
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法。该方法的基本思想是结合有限元仿真分析及灯具表面温度测量，预测LED灯具结温，从而得到LED灯具寿命范围。首先，确定灯具尺寸、材料等参数，并在LED灯具上选择一个参考点。然后，有限元建模仿真分析灯具结温及温度分布，得到灯具结温与参考点温度的稳定关系。最后，在灯具工作稳定时测量参考点温度基础上，根据确定的LED结温与寿命的关系，推算出LED灯具的寿命范围。本发明的方法简单，避免了长时间的退化试验，大大缩短了评估周期；不但可以在可靠性寿命评估方面应用，也可以在LED照明灯具设计及改善方面具有很好的实用价值。
-
公开(公告)号：CN103316792B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201310259330.8
申请日：2013-06-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种使用简便的制备有机纳米线的气相喷涂装置及使用该装置的Alq3纳米线制备方法。该装置包括气体输送管道、加热装置以及带有冷却装置的基底，气体输送管道的一端为惰性气体的输入端，另一端为惰性气体与有机蒸气的喷射端，该喷射端位于基底的上方并具有与该基底上表面垂直的中心喷口和环形喷口，该气体输送管道包括分别与所述中心喷口和环形喷口导通且彼此独立的第一气体管道和第二气体管道，第一气体管道上设有有机材料存放及气化腔室，第一气体管道和第二气体管道的入口分别通过流量控制器与气体输送管道的输入端导通；加热装用于对第一气体管道和第二气体管道、有机材料存放及气化腔室以及基底上表面的基片容置区域进行加热和保温。
-
公开(公告)号：CN103295529B
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：CN201310259473.9
申请日：2013-06-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: G09G3/32
Abstract: 本发明公开了一种可对灰度进行精确调节的OLED像素驱动方法及用于该方法的OLED像素驱动电路。该方法是使OLED发光单元只在开态和关态两种状态下转换，且在OLED发光单元处于开态时，流过该OLED发光单元的电流是恒定的；对OLED发光单元的灰度调节通过控制该OLED发光单元开态发光时间来实现。本发明的上述方法对OLED发光单元的灰度调节创造性的采取了通过控制该OLED发光单元开态发光来实现的，而不再是靠控制流过OLED发光单元的电流的大小来实现，由于对OLED发光单元开态发光时间的控制更为容易和精确，因此，本发明的OLED像素驱动方法能够对灰度进行更加精确的调节，改善显示屏均匀性。
-
公开(公告)号：CN103292982B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310219602.1
申请日：2013-06-05
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明的基于步进应力的LED灯具的加速退化试验方法，是在LED灯具分解为LED光源子系统、驱动子系统和接口夹具子系统3个功能独立的子系统的基础上，分别对目标子系统进行分离式的加速试验，包含如下步骤：1）对LED灯具光源子系统进行步进应力的加速退化试验，得到正常应力水平下的失效概率密度函数；2）确定另外两个子系统的标称失效概率密度函数；测量LED整体灯具稳定工作时另外两个子系统的实际工作温度，得到另外两个子系统在各自实际工作环境下的失效概率密度函数；3）采用可靠性统计分析方法推导出整个LED灯具的可靠度分布函数，进而实现LED灯具系统的加速退化试验评估。该方法能有效地缩短加速评估周期，减小试验成本。
-
公开(公告)号：CN104133997A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201410365043.X
申请日：2014-07-29
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于分离式仿真分析的LED灯具结温预测方法。一、确定灯具的结构尺寸、材料、工作环境等参数。二、确定灯具所用LED封装器件的电压温度特性。三、建立忽略LED封装器件结构的数值分析模型，仿真分析得到LED封装器件底部的平均温度。四、建立LED封装器件的数值仿真分析模型，在LED封装器件底面施加一系列数值离散的等效对流散热系数进行仿真分析，利用分析结果建立对流系数与LED封装器件底面平均温度的函数关系。五、建立LED灯具封装器件的数值分析模型，通过插值算法计算进行LED灯具仿真分析时封装器件底部平均温度与进行LED封装器件仿真分析时底部平均温度相等时对应的对流系数及计算出LED封装器件的结温，本发明提高了LED灯具结温预测的精度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103913300A
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201410152513.4
申请日：2014-04-16
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种基于多水平步进应力的LED照明产品加速衰减试验的方法，包括如下步骤：1）设定置信度数值和样品数量；2）设定恒定湿度应力-多个步进温度应力水平及试验总时间，设定各温度应力的步长时间及测量时间节点；3）测量目标试样的光通量初始值，得到目标试样的光通量衰减轨迹数据；4）进行衰减机理指标检验；5）计算目标试样伪失效寿命；6）对伪失效寿命进分布检验，并选择分布函数；7）求出分布函数的分布参数，结合阿伦尼斯温度加速模型，得到目标试样的可靠度分布函数、平均寿命及中位寿命。这种方法能改善步进应力试验方法在LED照明产品上应用的柔性和通用性，进一步缩短加速时长和提高加速试验评估寿命的精度。
-
公开(公告)号：CN108505051B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201810261495.1
申请日：2018-03-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于纳米结构材料领域，具体提供一种平整阻挡型TFT阳极氧化铝绝缘层的制备方法，本发明在磁控溅射镀完铝膜后，直接在真空条件下进行了二次溅射，在纯铝的表面继续镀了一层很薄的氮化镁、硫化镁、氧化镁、氧化钙、过氧化钙、氮化钙或硫化钙薄膜，有效防止了刚镀好的纯铝表面与空气接触迅速形成非晶态天然氧化铝薄膜；并且，二次溅射镀好的氮化镁、硫化镁、氧化镁、氧化钙、过氧化钙、氮化钙或硫化钙薄膜，接触弱酸性电解液后，水解反应生成微量溶解于弱酸性电解液的碱性物质，不会影响后续铝的阳极氧化过程；本发明既能够得到高度平整的阻挡型阳极氧化铝薄膜，又能够避免阳极氧化过程中铝膜瞬间脱落的风险，且工艺简单、成本低。
-
公开(公告)号：CN102610191B
公开(公告)日：2014-01-22
申请号：CN201210096666.2
申请日：2012-04-05
Applicant: 电子科技大学
IPC: G09G3/32
Abstract: 本发明公开了一种像素驱动电路，具体通过六个晶体管连接的设置，以及相应的驱动时序的控制，使第二晶体管的阈值电压与第一晶体管的阈值电压相抵消，从而使得发光阶段流过发光器件的驱动电流不受第一晶体管的阈值电压的影响，因而各像素电路中发光器件的亮度是一致的，可以确保整个显示屏亮度的均匀性；随着工作时间的延长，发光器件的老化会引起自身开启电压的升高，在本发明驱动电路中的发光阶段，第一晶体管的栅极相对于源极的电压始终保持一样的电平，因此第一晶体管输出的驱动电流不会随发光器件的老化而变化；同时，在第一阶段和第二阶段，发光器件处于反向偏置，还能有效降低发光器件的老化。
-
公开(公告)号：CN103316792A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310259330.8
申请日：2013-06-26
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种使用简便的制备有机纳米线的气相喷涂装置及使用该装置的Alq3纳米线制备方法。该装置包括气体输送管道、加热装置以及带有冷却装置的基底，气体输送管道的一端为惰性气体的输入端，另一端为惰性气体与有机蒸气的喷射端，该喷射端位于基底的上方并具有与该基底上表面垂直的中心喷口和环形喷口，该气体输送管道包括分别与所述中心喷口和环形喷口导通且彼此独立的第一气体管道和第二气体管道，第一气体管道上设有有机材料存放及气化腔室，第一气体管道和第二气体管道的入口分别通过流量控制器与气体输送管道的输入端导通；加热装用于对第一气体管道和第二气体管道、有机材料存放及气化腔室以及基底上表面的基片容置区域进行加热和保温。
-
公开(公告)号：CN103294867A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310219603.6
申请日：2013-06-05
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于有限元仿真分析的LED灯具寿命快速预测方法。该方法的基本思想是结合有限元仿真分析及灯具表面温度测量，预测LED灯具结温，从而得到LED灯具寿命范围。首先，确定灯具尺寸、材料等参数，并在LED灯具上选择一个参考点。然后，有限元建模仿真分析灯具结温及温度分布，得到灯具结温与参考点温度的稳定关系。最后，在灯具工作稳定时测量参考点温度基础上，根据确定的LED结温与寿命的关系，推算出LED灯具的寿命范围。本发明的方法简单，避免了长时间的退化试验，大大缩短了评估周期；不但可以在可靠性寿命评估方面应用，也可以在LED照明灯具设计及改善方面具有很好的实用价值。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
46
records
(took 0.023 seconds)
