公开(公告)号：CN102890249A

公开(公告)日：2013-01-23

申请号：CN201210396830.1

申请日：2012-10-18

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 蔡苗 ,  杨道国 ,  陈文彬 ,  梁丽丽 ,  龚铭 ,  田万春 ,  唐红雨 ,  贾红亮

IPC: G01R31/44

Abstract: 本发明公开了一种基于子系统分解的LED照明灯具加速试验方法，首先，将LED灯具系统分解为若干个功能独立的子系统；然后，在保持整个系统能闭合工作的前提下，将目标子系统置于加速试验环境中，并进行可靠性加速试验；通过利用加速试验过程中测量的数据结果，外推得到目标子系统的可靠度函数；最后，结合各子系统与整灯系统性能变化的相关性，应用系统可靠性统计分析方法综合各子系统的可靠度函数，进而推导出整个LED灯具系统的可靠度函数，实现整灯系统的可靠性评估。本发明的方法避免了直接针对整灯系统的可靠性加速试验的复杂性甚至不可行性，其不仅可用于LED照明灯具的可靠性加速试验评估中，而且可作为其它复杂系统加速试验评估的借鉴。

公开(公告)号：CN103292982A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310219602.1

申请日：2013-06-05

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 杨道国 ,  蔡苗 ,  陈文彬 ,  贾红亮 ,  田万春 ,  刘东静

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明的基于步进应力的LED灯具的加速退化试验方法，是在LED灯具分解为LED光源子系统、驱动子系统和接口夹具子系统3个功能独立的子系统的基础上，分别对目标子系统进行分离式的加速试验，包含如下步骤：1）对LED灯具光源子系统进行步进应力的加速退化试验，得到正常应力水平下的失效概率密度函数；2）确定另外两个子系统的标称失效概率密度函数；测量LED整体灯具稳定工作时另外两个子系统的实际工作温度，得到另外两个子系统在各自实际工作环境下的失效概率密度函数；3）采用可靠性统计分析方法推导出整个LED灯具的可靠度分布函数，进而实现LED灯具系统的加速退化试验评估。该方法能有效地缩短加速评估周期，减小试验成本。

公开(公告)号：CN103292982B

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201310219602.1

申请日：2013-06-05

Applicant: 桂林电子科技大学

Inventor： 杨道国 ,  蔡苗 ,  陈文彬 ,  贾红亮 ,  田万春 ,  刘东静

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明的基于步进应力的LED灯具的加速退化试验方法，是在LED灯具分解为LED光源子系统、驱动子系统和接口夹具子系统3个功能独立的子系统的基础上，分别对目标子系统进行分离式的加速试验，包含如下步骤：1）对LED灯具光源子系统进行步进应力的加速退化试验，得到正常应力水平下的失效概率密度函数；2）确定另外两个子系统的标称失效概率密度函数；测量LED整体灯具稳定工作时另外两个子系统的实际工作温度，得到另外两个子系统在各自实际工作环境下的失效概率密度函数；3）采用可靠性统计分析方法推导出整个LED灯具的可靠度分布函数，进而实现LED灯具系统的加速退化试验评估。该方法能有效地缩短加速评估周期，减小试验成本。