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公开(公告)号:CN116545443A
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202310496659.X
申请日:2023-05-05
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明涉及模拟数字转换领域,具体涉及一种流水线SAR ADC的比较器失调电压校正方法。本发明针对子ADC为环路展开结构的N级流水线SARADC,首先通过比较器失调电压后台校正模块接收每级子ADC的输出码字;然后基于ADC的输出码字判断出具体某一级子ADC中的某一级比较器存在的失调电压以及失调电压的极性;并且在模拟域对该比较器的阈值进行比较器失调电压的实时补偿校正。本发明比较器失调电压的检测和校正完全工作在数字后台,通过数字域输出的两组Z‑bit码字对比较器阈值进行补偿,对第1级SARADC到第N‑1级SARADC的比较器失调电压同时进行校正,不会影响ADC的正常转换周期,有效解决了由于比较器失调电压导致整体ADC线性度低的问题。
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公开(公告)号:CN117526942A
公开(公告)日:2024-02-06
申请号:CN202311541798.6
申请日:2023-11-16
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于数模混合集成电路技术领域,具体为一种适用于异步比较器的亚稳态检测电路。本发明将每次动态比较器比较完成时间和设计分配的标准比较时间进行比较,当动态比较器比较完成时间小于设计分配的标准比较时间时,认为异步比较器没有进入亚稳态;当动态比较器比较完成时间大于设计分配的标准比较时间时,认为异步比较器进入亚稳态,并输出标志信号进而指导下一次的采样和以后的量化。本发明未采用时序逻辑电路,能够检测异步比较器是否出现亚稳态,并输出亚稳态标志位,避免异步逻辑出现长时间无结果输出,量化错误;能够及时检测亚稳态,且电路结构简单;有效解决了实际电路中由于亚稳态问题带来的ADC可能量化错误。
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公开(公告)号:CN116961666A
公开(公告)日:2023-10-27
申请号:CN202311006140.5
申请日:2023-08-10
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模数混合集成电路技术领域,具体涉及一种基于分裂式电容阵列的高速SAR ADC。本发明基于分裂式电容阵列,在SAR ADC的转换过程中,不需要对比较器的比较结果进行锁存,比较结果直接控制开关控制逻辑,从而对电容下极板电压进行切换,使得SAR ADC的环路延时只为比较器的比较时间tcomparator、开关切换时间tsw和电容阵列建立时间tcdac;由于通过检测分裂式电容阵列中每位电容下极板电压的切换状态,使得在每次量化周期内,仅有一个开关控制模块接受比较器的比较结果,从而保证量化的正确性。本发明SAR ADC的量化环路延时仅为比较器的比较时间、开关切换时间和CDAC建立的时间,大大提高了SAR ADC的工作速度。
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公开(公告)号:CN116961665A
公开(公告)日:2023-10-27
申请号:CN202310758217.8
申请日:2023-06-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/46
Abstract: 本发明属于模数混合集成电路技术领域,具体为一种采用双比较器的高速SAR ADC。本发明在SAR ADC的转换过程中,通过两个比较器交替工作对电容阵列上极板电压进行比较;在完成比较之后,开关控制逻辑直接根据比较结果进行开关切换,使得SAR Logic中对比较器比较结果的锁存操作与电容下极板开关切换操作并行进行。本发明可以保证SAR ADC在量化每一位时,有且仅有一个开关控制模块接受比较器的比较结果,保证开关切换的正确性;并且SAR Logic中的移位存储操作与开关切换操作并行进行,从而使得SAR ADC的环路延时仅为比较器的比较时间tcomparator、开关切换时间tsw和电容阵列建立时间tcdac,大大提高了SAR ADC的工作速度。
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