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公开(公告)号:CN101840240B
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN201010134831.X
申请日:2010-03-26
Applicant: 东莞电子科技大学电子信息工程研究院 , 电子科技大学
IPC: G05F1/56
Abstract: 本发明公开了一种可调式多值输出的基准电压源,包括基准产生电路和基准电压输出电路,在基准产生电路和基准电压输出电路之间连接有启动电路和镜像电流源负反馈环路,所述的启动电路一端与基准产生电路连接,另一端与镜像电流源负反馈环路连接,镜像电流源负反馈环路的另一端与基准电压输出电路连接。本发明可调式多值输出的基准电压源具有电路功耗小、温漂小、电源抑制能力强的优点。本发明可调式多值输出的基准电压源使用镜像电流源负反馈环路取代高电压增益运放,使电路结构更简单,将由镜像电流源负反馈环路输出端接的源极跟随器提供双极型晶体管偏置电压的同时产生带隙基准电压,同时可以获得较小温度系数的输出电压值。
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公开(公告)号:CN119511030A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411584861.9
申请日:2024-11-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28 , G06F30/367 , G06N3/0455 , G06N3/044 , G06N3/088 , G06F18/15 , G06F18/213 , G06F18/23 , G06F18/2433 , G06F119/02 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开一种芯片寿命检测方法及寿命延长方法,包括以下步骤:步骤一、抽取芯片样本,构建芯片寿命检测系统,通过所述芯片寿命检测系统获取芯片样本的仿真数据集,所述仿真数据集至少包括芯片性能数据集、芯片运行数据集、芯片工作环境数据集和芯片失效数据集,步骤二、构建改进型神经网络模型对检测到的芯片数据信息参数训练学习,以提高芯片寿命检测拟合能力。通过采用构建改进型神经网络模型的技术方案对芯片的寿命进行检测,便于评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性能稳定性,提高芯片寿命检测能力。
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公开(公告)号:CN118157774A
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202410249903.7
申请日:2024-03-05
Applicant: 重庆邮电大学 , 电子科技大学重庆微电子产业技术研究院
IPC: H04B13/00
Abstract: 本发明涉及一种人体通信装置、以及基于人体通信装置的监护方法,包括:FPGA模块,用于将需要传输的信号调制到21MHz的载波频率,以及对AD转换模块处理后的数字信号进行解调;DA转换模块,用于将FPGA模块调制后的数字信号转换为模拟信号;发送模块,用于将DA转换模块转换后的模拟信号进行滤波和放大处理,并将处理后的信号发送到第一人体电极通过人体进行传输;接收模块,用于接收第二人体电极采集的信号,并对接收的信号进行放大和滤波处理;所述第一人体电极和第二人体电极通过人体进行连接;AD转换模块,用于将接收模块处理后的信号转换为数字信号,本发明可以减少数字信号在传输过程中产生的误差。
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公开(公告)号:CN117804622A
公开(公告)日:2024-04-02
申请号:CN202410002763.3
申请日:2024-01-02
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01K7/00
Abstract: 本发明属于模拟集成电路领域,涉及集成电路中的温度传感器,具体为一种基于MOS管栅极泄漏电流的温度传感器。本发明利用MOS管的栅极泄露电流,使该电流流经工作在亚阈区的MOS管,从而产生CTAT电压。由于栅极泄露电流极小,因此保证了感温前端极低的功耗。由于将输出信号建立了与阈值电压之间的线性关系,而阈值电压在较宽的温度范围内,与温度有着强线性关系,因此在电路结构简单的同时,也保证了较宽的感温范围和较高的温度线性度。同时,本发明可扩展性较高,可根据性能需求,在不同的应用场景下采用不同的量化模块以满足相应的需求,有利于集成在芯片内部实现高精度感温。
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公开(公告)号:CN117589318A
公开(公告)日:2024-02-23
申请号:CN202311555413.1
申请日:2023-11-21
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路领域,涉及集成电路中的温度传感器,具体为一种基于RC振荡器的温度传感器。本发明利用具有正温特性和零温特性的电阻分别构成的RC振荡器输出两组具有一定温度特性的频率信号FN和FS,并将二者作比值得到温度线性度高的频率比值信号FS/FN,实现宽温度范围内的高精度感温;同时,由于FN和FS的频率表达式中都具有包含电源电压VDD的项,因此在作比值的过程中可以约掉,从而抵消部分电源电压波动的影响,使得该温度传感器具有较强的电源波动抑制能力;只需外部电源电压VDD的接入,而由自身产生参考基准频率和逻辑控制信号,扩大了传感器的应用范围。本发明电路结构简单的同时,在宽感温范围内实现了高精度的测量。
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公开(公告)号:CN117375610A
公开(公告)日:2024-01-09
申请号:CN202311317058.4
申请日:2023-10-11
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明涉及模拟集成电路技术领域,具体涉及一种基于噪声抵消的采样保持电路。本发明通过引入噪声抵消技术来处理采样噪声,输入信号直接连到C1的上极板,在S1开关闭合期间C1进行采样;运放输出端通过S2开关与C2下极板相连,S2开关闭合期间C2对采样噪声进行采样,C2两端通过S3开关与C1两端相连,在S3开关闭合期间C1与C2进行电荷共享;同时动态运放输出端与锁存器相连,从而将运放作为比较器的前置运放复用。本发明在减小采样电容的情况下有效抑制采样噪声的恶化,且动态运放大大降低引入运放后采保的功耗及噪声,还可设置C2=C3使动态运放在噪声消除阶段及后续作为比较器前置运放时的增益相等,进一步提高电路的精度。
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公开(公告)号:CN116341447B
公开(公告)日:2023-08-01
申请号:CN202310602696.4
申请日:2023-05-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/36 , G06F115/12
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域,特别涉及一种建立时间稳定的非二进制电容阵列设计方法,适用于非二进制电容式DAC的电容设计。本发明通过设定电容阵列中每一位电容权重和对应冗余量的比例k,由低位到高位逐一确定电容阵列中每一位电容的容值,并通过线性规划优化求解k和N的值,从而实现建立精度和建立时间的双选优化设计,不仅提升了非二进制电容阵列的建立速度,也避免了非二进制编码设计的盲目性。
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公开(公告)号:CN112491411B
公开(公告)日:2023-07-04
申请号:CN202011385543.1
申请日:2020-12-01
Applicant: 电子科技大学 , 上海华力微电子有限公司
IPC: H03K19/21
Abstract: 一种减小与非门输入信号延时的异或门电路,包括传输门模块、非门模块、与非门模块和驱动模块,在路径1中输入信号A和B经过传输门模块和非门模块后输入与非门模块,在路径2中输入信号A和B经过驱动模块后输入与非门模块,随后与非门模块利用三个与非门实现异或门逻辑得到异或门电路的输出信号。本发明中驱动模块和传输门模块的延时可调,因此可以通过控制驱动模块和传输门模块的延时,使得输入信号A和B经过传输门模块和非门模块的延时与输入信号A和B经过驱动模块的延时尽可能一致,从而改善由于异或门电路中与非门输入信号延时造成的对输出信号脉宽和延时的影响,同时也增大了对后续电路的驱动能力。
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公开(公告)号:CN116318136A
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202310295758.1
申请日:2023-03-23
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域,特别涉及一种逐次逼近式补偿模拟前端寄生电容的电路,可应用在量化传感器信号和生物电信号采集。本发明采用全差分结构,通过逐次逼近控制逻辑模块,辅以N位二进制正反馈电容阵列CPF以逐次逼近的方式,根据模拟前端电路的稳定性,调整接入的CPF容值大小快速补偿模拟前端对地寄生电容。当给模拟前端电路施加校正信号时,由于正反馈电容CPF的弥勒效应,模拟前端电路根据接入正反馈电容CPF的容值大小判定处于稳定或不稳定的状态;从而通过检测模拟前端电路的稳定性,判断接入的正反馈电容是否合适。本发明可以大范围、快速、高精度的补偿输入节点的寄生电容,从而大幅提升采集电路输入阻抗。
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公开(公告)号:CN111464139B
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202010332805.1
申请日:2020-04-24
Applicant: 电子科技大学 , 上海华力微电子有限公司
Abstract: 一种适用于宽摆幅全差分运算放大器的共模反馈电路,通过共模信号采集模块中两组并联的电阻电容对宽摆幅全差分运放的共模输出进行采集并注入到共模放大模块中与共模参考电压进行比较,在共模反馈模块中生成反馈调节信号反馈至宽摆幅全差分电路中第一级负载电流源管栅端,实现通过反馈使宽摆幅全差分电路的输出共模稳定;同时在共模前馈模块中生成前馈调节信号连接至宽摆幅全差分电路中源随器的电流源管栅端,使宽摆幅全差分电路的输出共模稳定。本发明通过引入新的前馈通路为整体共模响应电路提供额外的零点,使宽摆幅全差分运算放大器整体相位裕度性能提升且不影响共模响应增益,在不影响输出摆幅的情况下提升了宽摆幅全差分运算放大器的稳定性。
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