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公开(公告)号：CN117173112A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311034255.5
申请日：2023-08-16
Applicant: 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
Abstract: 本发明公开了一种芯片背面检测方法、装置、计算设备及存储介质，涉及视觉检测技术领域。方法包括：获取晶圆的宏观图像，根据所述宏观图像对晶圆的微观成像位置进行路径规划，得到路径规划坐标；根据所述路径规划坐标来控制微观成像设备采集晶圆的微观图像，所述晶圆上包括多个芯片；对所述微观图像进行分割，以得到多个芯片背面图像；根据每个所述芯片背面图像进行检测，以确定每个芯片背面的缺陷类型和缺陷位置，得到每个芯片的背面检测结果；根据所有芯片的背面检测结果，绘制生成晶圆Map图像。根据本发明的技术方案，实现了自动化微观成像，提高了对芯片背面进行缺陷检测的精度和效率，通过生成Map图像实现检测结果的可视化。
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公开(公告)号：CN115409785A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210981372.1
申请日：2022-08-16
Applicant: 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
IPC: G06T7/00 , G06T7/136 , G06T5/30 , G06T5/00 , G06T7/13 , G06V10/762 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，包括：获取光模块底座的图像；将光模块底座的图像输入到目标检测模型中，得到光模块底座的缺陷检测结果；其中，目标检测模型通过下述方式生成：构建样本数据集，并将样本数据集输入预训练模型；通过K‑means++算法，生成样本数据集中每个样本数据的多个先验框；将多个先验框中的每个先验框与该样本数据所标注的真实框进行交并比计算，将交并比的值最大时的先验框作为预测结果；计算预测结果和该真实框的损失函数；基于损失函数，对预训练模型进行优化，得到目标检测模型。本发明的技术方案提升了光模块底座缺陷检测的精度。
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公开(公告)号：CN115829945A
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202211440854.2
申请日：2022-11-17
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
Abstract: 本发明公开了一种图像中包覆燃料颗粒的检测方法，包括：获取包含包覆燃料颗粒的切片的输入图像；将输入图像输入到结合特征金字塔结构的主干网络中进行特征提取，得到第一特征图；将第一特征图输入锚框生成网络，得到锚框，并通过锚框对第一特征图进行修正，得到修正后的第二特征图；将锚框和第二特征图输入到建议提案网络中，得到建议区域；对建议区域在第二特征图上的映射进行感兴趣区域对齐操作，得到固定尺寸的第三特征图；将第三特征图输入到全卷积网络中，得到输入图像中包覆燃料颗粒的类别和位置。
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公开(公告)号：CN117934844A
公开(公告)日：2024-04-26
申请号：CN202410112494.6
申请日：2024-01-25
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 湖南大学
IPC: G06V10/26 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06V10/80 , G06V10/52 , G06V10/70 , G06N3/0464 , G06N3/0455 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种颗粒图像细化分割方法、装置、计算设备及存储介质，涉及图像分割技术领域。方法包括：获取原始颗粒图像，原始颗粒图像包括多个原始颗粒像素；通过细化分割模型对原始颗粒图像进行分割处理，得到粗分割颗粒图像，粗分割颗粒图像包括多个粗分割颗粒像素的第一分类信息，任一粗分割颗粒像素的第一分类信息用于表示任一粗分割颗粒像素属于各个包覆层区域或背景之一的第一概率预测值；通过细化分割模型对粗分割颗粒图像进行细化处理，得到最终细化分割颗粒图像，最终细化分割颗粒图像的分辨率和分割精度分别高于粗分割颗粒图像的分辨率和分割精度。本发明实现了对包覆燃料颗粒图像的精细化分割，能够精确提取包覆层区域。
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公开(公告)号：CN115409787A
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210983492.5
申请日：2022-08-16
Applicant: 湖南大学 , 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/25
Abstract: 本发明公开了一种小型可插拔收发光模块底座缺陷的检测方法，包括：获取光模块底座的图像；对光模块底座的图像进行预处理；根据光模块底座的缺陷分布位置，从预处理后的图像提取出至少一个感兴趣区域；将提取到的感兴趣区域作为检测块进行缺陷检测，得到检测块的缺陷类型；采用与缺陷类型相应的算法提取检测块的特征向量；将特征向量输入训练好的分类模型中，判断检测块中是否存在缺陷类型对应的缺陷。本发明的技术方案提升了小型可插拔收发光模块底座缺陷检测的准确率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119850573A
公开(公告)日：2025-04-18
申请号：CN202411959427.4
申请日：2024-12-27
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 江苏优普纳科技有限公司
Abstract: 本发明涉及芯片智能制造领域，公开了一种芯片的崩边检测方法、计算设备及存储介质，方法包括：从芯片的分割图像中确定芯片部件所在的芯片部件区域；确定芯片部件区域的最小包围矩形，最小包围矩形的四条边为芯片部件区域的轮廓上至少一点的切线；将最小包围矩形的每条边向中心移动确定检测矩形，检测矩形的中心与最小包围矩形的中心重合，并且检测矩形的长和宽分别与最小包围矩形的长和宽平行，检测矩形的每条边与所对应的最小包围矩形的边移动的距离为崩边深度；确定最小外接矩形和芯片部件区域的差集，作为差分区域；若差分区域与检测矩形有公共部分，则确定芯片存在崩边问题。
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公开(公告)号：CN119784772A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411586342.6
申请日：2024-11-07
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 长沙理工大学
IPC: G06T7/11 , G06V10/774 , G06V10/26 , G06V20/70
Abstract: 本发明公开了一种基于视觉大模型的金相颗粒图像分割方法及装置，方法包括：通过预训练视觉大模型获得金相颗粒原始图像的显著性分割图像，从显著性分割图像中提取整个颗粒图像；基于多种构型的金相颗粒训练图像，利用冻结微调方法对预训练视觉大模型进行微调得到目标视觉大模型；对整个颗粒图像进行形态学腐蚀处理，以得到整个颗粒图像中的各个涂层的提示点信息；对各个涂层的提示点信息进行优化，以使各个涂层的提示点位置均匀分布；通过目标视觉大模型，基于各个涂层的优化后提示点信息来预测出各个涂层掩码图像，以得到颗粒图像各涂层分割结果。本发明能够对多种构型的金相颗粒原始图像中的各个涂层进行精准分割。
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公开(公告)号：CN119334972A
公开(公告)日：2025-01-21
申请号：CN202411519928.0
申请日：2024-10-28
Applicant: 无锡市锡山区半导体先进制造创新中心 , 江苏优普纳科技有限公司
IPC: G01N21/956 , G01N21/88 , G01J3/46
Abstract: 本发明公开了一种基于HSV颜色空间的PCB板缺陷检测方法、装置及计算设备，方法包括：基于模板图像对待检测图像进行坐标修正，得到待检测图像标注文件；将待检测图像标注文件由RGB通道转换成HSV通道，得到HSV通道图像；从HSV通道图像中提取相邻焊盘之间区域，根据相邻焊盘之间区域的颜色分布确定PCB板是否存在短路缺陷；将HSV通道图像与少锡颜色提取图像进行对比，以确定各焊盘是否存在少锡缺陷；从HSV通道图像中提取各焊盘区域中的铜色区域，以确定各焊盘是否存在空焊缺陷、假焊缺陷、起铜皮缺陷；检测HSV通道图像中的各焊盘区域中部是否存在中间为亮色周围为暗色的引脚区域，以确定各焊盘是否存在跪脚缺陷。本发明能实现准确、全面地检测PCB板存在的各类缺陷，提高了检测效率。
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公开(公告)号：CN119354825A
公开(公告)日：2025-01-24
申请号：CN202411458481.0
申请日：2024-10-17
Applicant: 湖南大学 , 江苏优普纳科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种包覆燃料颗粒光学各向异性检测方法、装置及计算设备，方法包括：遍历采集覆盖整个金相样品的多个第一视野金相截面图像，以确定各个包覆燃料颗粒的图像位置信息，并进行坐标拼接得到全局坐标地图；基于全局坐标地图逐一采集每个包覆燃料颗粒的第二视野金相截面图像；利用语义分割模型对第二视野金相截面图像进行涂层界定，进而对包覆燃料颗粒进行可测性分析，以筛选出多个目标包覆燃料颗粒；基于图层界定图像从目标包覆燃料颗粒的第二视野金相截面图像中提取致密热解炭层区域，从中选取待测区域对其进行反射率测量，以确定目标包覆燃料颗粒的光学各向异性。本发明能实现对包覆燃料颗粒光学各向异性检测流程的自动化和智能化。
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公开(公告)号：CN116824064B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202310868643.7
申请日：2023-07-14
Applicant: 湖南大学
IPC: G06T17/00 , G06T5/70 , G06T7/80 , G06N3/0464 , G06N3/08
Abstract: 本发明公开了一种点云数据模型生成方法、装置、计算设备及存储介质，方法包括：获取目标物体的点云输入数据；将所述点云输入数据输入点云上采样网络模型进行处理，以生成点云数据模型，以便根据所述点云数据模型抓取所述目标物体；其中，所述点云上采样网络模型包括依次耦接的特征提取模块、上采样模块和坐标重建模块，所述上采样模块包中包括自注意力机制模块。根据本发明的技术方案，生成的点云数据模型异常值更少、模型轮廓特征更明显。
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