半导体器件的制备方法及半导体器件

    公开(公告)号:CN117198864A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310917801.3

    申请日:2023-07-25

    Abstract: 本申请公开了一种半导体器件的制备方法及半导体器件,半导体器件的制备方法包括提供一半导体外延结构,半导体外延结构包括衬底以及位于衬底上的漂移层;在漂移层的表面沉积第一材料,形成屏蔽层;在屏蔽层的表面涂覆光刻胶,形成光阻层;对光阻层进行碳化处理,形成碳化光阻层;以碳化光阻层为掩膜,向漂移层注入离子;去除碳化光阻层;去除屏蔽层。碳化光阻层具有耐高温特性,具有图案化结构的碳化光阻层作为掩膜,可以实现高温加热时的离子掺杂注入;在漂移层与碳化光阻层之间设置屏蔽层,使得注入过程中在屏蔽层的散射作用下,避免沟道效应。

    用于气相沉淀中的真空控制系统

    公开(公告)号:CN220907627U

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202322242393.4

    申请日:2023-08-18

    Abstract: 一种用于气相沉淀中的真空控制系统,包括:真空泵,反应腔,反应腔与真空泵之间设置有气体管道;设置在所述气体管道上的真空阀;电磁阀,其与真空阀之间设置有第一CDA气管通道以及第二CDA气管通道;电路开关器件和开关控制电路,开关控制电路被配置为基于任一相电缆中的电流信号指示真空泵停机时驱动电路开关器件断开,以控制CDA气体从第一CDA气管通道进入真空阀而关闭真空阀,和/或,开关控制电路被配置为基于任一相电缆中的电流信号指示真空泵运行时驱动电路开关器件闭合,以控制CDA气体从第二CDA气管通道进入真空阀而开启真空阀。通过本实用新型的技术方案,可以减少真空泵停机导致气流倒灌污染反应腔的情况的发生。

    用于物理气相沉积中的真空控制系统

    公开(公告)号:CN221797651U

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202323229833.9

    申请日:2023-11-28

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于物理气相沉积中的真空控制系统,包括:反应腔;冷泵,用于对反应腔进行抽高真空处理;真空阀,真空阀连接有第一压缩干燥空气CDA气管通道以及第二CDA气管通道,其中CDA气体从第一CDA气管通道或第二CDA气管通道进入真空阀以使真空阀关闭或开启;以及通道控制电路,其连接于反应腔和第二CDA气管通道之间,通道控制电路配置为基于反应腔内的气体压力控制第二CDA气管通道处于导通或者截流状态。通过本实用新型的技术方案,可以有效降低冷泵的损坏概率,延长冷泵的使用寿命,有利于维持整个生产工艺的正常运转以及确保生产效益。

    半导体器件及肖特基二极管

    公开(公告)号:CN221379345U

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202323044720.1

    申请日:2023-11-10

    Abstract: 本实用新型提供了一种半导体器件及肖特基二极管,涉及半导体技术领域,该半导体结构包括衬底;外延层,设置在衬底上;金属电极层,设置在外延层上,金属电极层包括背离外延层的第一表面,与外延层相接的第二表面以及连接第一表面和第二表面的侧壁;第一钝化层,与金属电极层的侧壁相接,且延伸覆盖至金属电极层的第一表面;与金属电极层的侧壁相接的第一钝化层的厚度大于位于金属电极层的第一表面上的第一钝化层的厚度。该结构可以改善在封装时由于塑封料收缩形变或者封装后温度循环测试时的热胀冷缩使得钝化层开裂的问题。

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