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公开(公告)号：CN112146601B
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201910568018.4
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司 , 上海束能辐照技术有限公司
Abstract: 本公开公开了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。其中，基于剂量场检测的辐射成像方法包括：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。根据本公开实施例，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。
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公开(公告)号：CN112146601A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201910568018.4
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司 , 上海束能辐照技术有限公司
Abstract: 本公开公开了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。其中，基于剂量场检测的辐射成像方法包括：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。根据本公开实施例，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。
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公开(公告)号：CN112147664A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201910566051.3
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司
Abstract: 公开了一种物品空间剂量分布检测方法及装置，物品空间剂量分布检测方法包括：构建剂量分布标准模型，剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；对待测物进行透视扫描，获得待测物的立体透视图像和待测物各空间点的检测密度值；根据待测物各空间点的检测密度值及剂量分布标准模型的标准映射关系得到待测物各空间点的剂量分布数据；以及将待测物各空间点的剂量分布数据与立体透视图像匹配并显示。根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法及装置，使得待测物各立体空间点的剂量分布数据更直观准确，方便辐照工艺中多种参数的合理配置。
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公开(公告)号：CN119986849A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202510211400.5
申请日：2019-03-25
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01V13/00 , G01N23/046
Abstract: 公开了一种CT设备的几何参数标定件及标定方法，该几何参数标定件包括至少一个标定单元，每个所述标定单元均包括多根标定丝，所述多根标定丝在同一平面内呈规则排布。该几何参数标定件易于加工，并能够标定CT设备的几何参数，且所述标定操作简单易实施。
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公开(公告)号：CN119959257A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510433931.9
申请日：2025-04-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧，检测部件包括检测通道以及设于检测通道周侧的检测组件；入口通道部件设于检测部件的第一侧，入口通道部件包括入口通道；出口通道部件设于检测部件的第二侧，出口通道部件包括出口通道，入口通道、检测通道和出口通道相互连通，入口通道部件构造有第一开口，第一开口与检测通道连通，第一开口能够在打开状态和闭合状态之间切换；和/或出口通道部件构造有第二开口，第二开口与检测通道连通，第二开口能够在打开状态和闭合状态之间切换。本发明的检测设备，能够在第一开口和/或第二开口处对检测组件进行调试或检修，有利于调试作业或检修作业的便利性和快捷性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
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公开(公告)号：CN119738862A
公开(公告)日：2025-04-01
申请号：CN202411958255.9
申请日：2024-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供一种辐射探测系统及其探测方法，辐射探测系统包括：机器人，被配置为在目标空间内移动，目标空间内设置有放射源；终端设备，与机器人通信连接；机器人包括：可移动底盘，被配置为在目标空间内沿预设轨迹路线移动；上装部件，设于可移动底盘上；以及采样模块，包括探测器和传感器模块，探测器用于采集放射源的辐射数据，传感器模块用于采集机器人的位置数据；终端设备包括：图像重建模块，用于根据辐射数据和位置数据对目标空间的辐射场进行图像重建；以及定位模块，用于根据重建后的图像定位放射源在目标空间内的坐标位置。本发明的辐射探测系统，既能够采集辐射数据，同时能够定位放射源在目标空间内的坐标位置，此外配置成本低。
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公开(公告)号：CN119697296A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411897255.2
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H04L69/22 , H04L69/324 , H04L1/00 , H04L67/5651 , H04L67/568
Abstract: 本公开提供了一种数据处理方法、装置、电子设备和安检设备，可以应用于安检设备数据采集与处理技术领域。该方法包括：响应于物理层发送初始数据流，从初始数据流中确定一个或多个数据帧的起始标记，其中，初始数据流包括一个或多个数据帧，起始标记包括前导码和帧开始界定符；针对每个起始标记，基于初始数据流，确定与起始标记对应的待检测数据帧的目的地址；在目的地址包括本地地址的情况下，将待检测数据帧写入乒乓缓存；利用循环冗余校验算法对待检测数据帧进行正确性检测，得到正确性检测结果；以及在正确性检测结果表征待检测数据帧未通过检测的情况下，将乒乓缓存中的待检测数据帧丢弃。
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公开(公告)号：CN119644394A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411999219.7
申请日：2024-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 本公开提供了一种辐射敏感探测器，可以应用于辐射检查技术领域和辐射检查设备技术领域，所述辐射敏感探测器包括多个像素，所述多个像素中的至少一个像素包括：辐射敏感元件，用于接收射线光子，且将所述射线光子转换并输出为模拟信号；模数转换元件，与所述辐射敏感元件电连接，所述模数转换元件用于将所述模拟信号转换为数字信号；其中，所述模拟信号包括多个细分模拟信号，所述细分模拟信号经由采用空间维度和时间维度中的至少一个切分并转换所述射线光子形成。本公开还提供了一种辐射检查设备。
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公开(公告)号：CN119634278A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411958211.6
申请日：2024-12-27
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种物料分选方法，涉及物料分选领域、辐射检查领域或其他领域。该方法包括：响应于待分选物料的粒径信息符合预设条件，控制射线源和探测器中至少一个移动，以获得与所述粒径信息相适配的辐射距离和探测距离；控制所述射线源基于所述辐射距离向所述待分选物料发送辐射射线，以及控制所述探测器基于所述探测距离接收所述辐射射线的射线信号，得到辐射图像；根据所述辐射图像对所述待分选物料进行分选。本公开还提供了一种物料分选装置。
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