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公开(公告)号：CN112146601B
公开(公告)日：2021-07-16
申请号：CN201910568018.4
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司 , 上海束能辐照技术有限公司
Abstract: 本公开公开了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。其中，基于剂量场检测的辐射成像方法包括：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。根据本公开实施例，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。
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公开(公告)号：CN112146601A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201910568018.4
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司 , 上海束能辐照技术有限公司
Abstract: 本公开公开了一种基于剂量场检测的辐射成像方法及装置。其中，基于剂量场检测的辐射成像方法包括：获取采用X射线扫描待检测物体时待检测物体在X射线对应的辐照能量下的质量厚度数据；根据待检测物体对应的质量厚度分类条件，对质量厚度数据中的各个质量厚度值进行分类；其中，质量厚度分类条件根据待检测物体对应的质量厚度值和电子束辐照剂量分布数据的映射关系数据确定；根据各个质量厚度值及其所属分类、电子束辐照剂量分布数据，生成用于显示待检测物体的质量厚度和电子束辐照剂量分布数据的辐射图像。根据本公开实施例，使得测试人员能够直观地根据辐射图像确定剂量不均匀度是否符合要求，提高测试效率、降低测试成本。
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公开(公告)号：CN112147664A
公开(公告)日：2020-12-29
申请号：CN201910566051.3
申请日：2019-06-27
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司 , 同威信达技术(北京)股份有限公司
Abstract: 公开了一种物品空间剂量分布检测方法及装置，物品空间剂量分布检测方法包括：构建剂量分布标准模型，剂量分布标准模型包括物品在预设大小的能量辐照下剂量分布数据与密度值的标准映射关系；对待测物进行透视扫描，获得待测物的立体透视图像和待测物各空间点的检测密度值；根据待测物各空间点的检测密度值及剂量分布标准模型的标准映射关系得到待测物各空间点的剂量分布数据；以及将待测物各空间点的剂量分布数据与立体透视图像匹配并显示。根据本公开实施例的物品空间剂量分布检测方法及装置，使得待测物各立体空间点的剂量分布数据更直观准确，方便辐照工艺中多种参数的合理配置。
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公开(公告)号：CN117607168B
公开(公告)日：2025-05-20
申请号：CN202311810626.4
申请日：2023-12-26
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
Abstract: 本公开提供一种中子毒物监测装置。中子毒物监测装置包括：容器，用于容纳包括中子毒物的待测液体；中子源，被配置为向待测液体发射中子；探测器，被配置为探测待测液体中的中子数和/或光子数；多道定标器，被配置为将探测器探测的中子数和/或光子数发送给中子毒物监测控制装置；中子毒物监测控制装置，被配置为控制中子源向待测液体发射中子，在控制中子源停止向待测液体发射中子后的时间范围内，控制探测器探测待测液体中的中子数或光子数，以得到多个探测值，利用本底数值对多个探测值中的每个探测值进行修正，以得到多个修正值，并利用多个修正值确定出待测液体中的中子毒物浓度；屏蔽设备，被配置为屏蔽待测液体和探测器受到的外界干扰。
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公开(公告)号：CN119959257A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510433931.9
申请日：2025-04-08
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046
Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧，检测部件包括检测通道以及设于检测通道周侧的检测组件；入口通道部件设于检测部件的第一侧，入口通道部件包括入口通道；出口通道部件设于检测部件的第二侧，出口通道部件包括出口通道，入口通道、检测通道和出口通道相互连通，入口通道部件构造有第一开口，第一开口与检测通道连通，第一开口能够在打开状态和闭合状态之间切换；和/或出口通道部件构造有第二开口，第二开口与检测通道连通，第二开口能够在打开状态和闭合状态之间切换。本发明的检测设备，能够在第一开口和/或第二开口处对检测组件进行调试或检修，有利于调试作业或检修作业的便利性和快捷性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119827535A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411997309.2
申请日：2024-12-31
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/06 , G01N23/087
Abstract: 一种多能成像系统及方法，多能成像系统包括：多能谱辐射源（10），被配置为产生多种射线辐射中的至少一种，所述多种射线辐射具有不同最大能量的能谱；多能谱探测器（20），能够获得射线辐射的能谱中的多种能量成分中的至少一种；和处理器（30），与所述多能谱辐射源（10）和所述多能谱探测器（20）信号连接，被配置为获得穿过被检对象的所述多种射线辐射和所述多种能量成分之间的至少两种配合方式的能谱图像数据。
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公开(公告)号：CN119697296A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411897255.2
申请日：2024-12-20
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: H04L69/22 , H04L69/324 , H04L1/00 , H04L67/5651 , H04L67/568
Abstract: 本公开提供了一种数据处理方法、装置、电子设备和安检设备，可以应用于安检设备数据采集与处理技术领域。该方法包括：响应于物理层发送初始数据流，从初始数据流中确定一个或多个数据帧的起始标记，其中，初始数据流包括一个或多个数据帧，起始标记包括前导码和帧开始界定符；针对每个起始标记，基于初始数据流，确定与起始标记对应的待检测数据帧的目的地址；在目的地址包括本地地址的情况下，将待检测数据帧写入乒乓缓存；利用循环冗余校验算法对待检测数据帧进行正确性检测，得到正确性检测结果；以及在正确性检测结果表征待检测数据帧未通过检测的情况下，将乒乓缓存中的待检测数据帧丢弃。
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公开(公告)号：CN119644394A
公开(公告)日：2025-03-18
申请号：CN202411999219.7
申请日：2024-12-31
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01T1/20
Abstract: 本公开提供了一种辐射敏感探测器，可以应用于辐射检查技术领域和辐射检查设备技术领域，所述辐射敏感探测器包括多个像素，所述多个像素中的至少一个像素包括：辐射敏感元件，用于接收射线光子，且将所述射线光子转换并输出为模拟信号；模数转换元件，与所述辐射敏感元件电连接，所述模数转换元件用于将所述模拟信号转换为数字信号；其中，所述模拟信号包括多个细分模拟信号，所述细分模拟信号经由采用空间维度和时间维度中的至少一个切分并转换所述射线光子形成。本公开还提供了一种辐射检查设备。
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公开(公告)号：CN119545629A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411735093.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种X射线发生器和检测设备。其中，该X射线发生器包括：倍压整流电路、至少一个X射线管和射线屏蔽结构。倍压整流电路包括多个输出端。X射线管的阳极与该多个输出端中的第一输出端电连接，X射线管的阴极与该多个输出端中的第二输出端电连接，其中，第一输出端的输出电压高于第二输出端的输出电压。射线屏蔽结构包括封装体，封装体上设置有贯穿的射线出射孔，其中，倍压整流电路和X射线管设置于封装体的内部，其中，封装体具有绝缘性能和射线屏蔽性能。
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公开(公告)号：CN119510456A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411733296.8
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V5/22 , G01V13/00 , G02B7/00
Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧；入口通道部件，设于所述检测部件的第一侧；以及出口通道部件，设于所述检测部件的第二侧；其中，所述检测部件包括：支撑框架限定出检测通道，所述支撑框架为一体成型件；辐射源，设于所述支撑框架；探测器，设于所述支撑框架，且与所述辐射源相对；光栅组件，包括可调光栅，所述可调光栅包括可移动横臂和可移动竖臂，所述可移动横臂设于所述支撑框架的顶壁面，所述可移动竖臂设于所述支撑框架的侧壁面。本发明的检测设备，支撑框架一体成型，支撑框架的安装面具有良好的平面度，有效确保辐射源、探测器和光栅组件安装位置的准确性，进而有利于确保扫描图像的质量。
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