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公开(公告)号：CN101033949B
公开(公告)日：2010-05-26
申请号：CN200710098791.6
申请日：2007-04-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 一种基于错位相关原理的物体应变测量方法和系统，含有数字成像设备、定焦镜头、楔形镜和具有双标记的被测试件。该测量方法首先在被测物体表面制作代表拉伸变形的双标记，然后采用一块楔形镜改变物体表面反射光线的方向，改变方向后的光线通过定焦镜头进入数字成像设备中，在同一个数字成像设备的靶平面上得到具有错位量的双标记的图像；通过数字相关方法计算双标记的位移得到的物体的应变。本发明有效提高了图像质量，改善了数字相关方法的精度；根据数字相关方法计算具有错位量的标记图像的位移，得到物体的应变，提高应变的求解精度。可以实现操作简单方便，在复杂工作环境下进行现场实时的高精度、大量程的无损应变测量。
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公开(公告)号：CN101042325A
公开(公告)日：2007-09-26
申请号：CN200710065395.3
申请日：2007-04-13
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种光子晶体表面周期性结构的检测方法，属于平面结构检测、光测力学技术领域。本发明以激光扫描共聚焦显微镜的扫描线为参考栅，光子晶体表面周期性结构为试件栅，通过使两栅发生干涉形成清晰的LSCM云纹，再通过提取云纹条纹方程，将其代入推导的反演公式求解试件栅方程，进而既可求出物体表面微纳米尺度的周期性结构尺寸、又可反映其在大范围内的整体结构特征。此方法综合了云纹法灵敏度高、测量视场大，及激光共聚焦显微镜分辫率高、无需真空环境、标本制备简单、对样品无损伤、空间定位方便等优点，测量精度高，操作简单，可进行全场测试，检测成本低，对表面存在多种取向周期性结构的光子晶体试样有独特的测量优势。
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公开(公告)号：CN1696643A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200510011828.8
申请日：2005-05-31
Applicant: 清华大学
Abstract: 悬浮式低维材料静动态微力拉伸实验机，本发明涉及一种薄膜、细丝等低维微尺度材料静动态力学性能测试的微力拉伸实验测量装置，该实验机由机座，低刚度柔性弹簧，电磁力驱动部分，电容位移传感器，压电式位移驱动器，非接触光学测量部分，试样的上下夹持部分，三维精密平动台和三维平移调节装置组成。本发明采用低刚度柔性螺旋弹簧，大大降低悬挂弹簧分担的载荷，提高了载荷精度；并可选用电磁力驱动静加载或压电式位移驱动交变载荷加载；变形测量可采用差动电容式位移传感器也可采用非接触的光学位移测量系统，两种加载和应变测量模式可根据不同研究对象和目的选择使用。系统使用方便，适用范围广，结构紧凑，灵敏度高，测量结果可靠。
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公开(公告)号：CN1088312A
公开(公告)日：1994-06-22
申请号：CN93106837.1
申请日：1993-06-10
Applicant: 清华大学
Abstract: 高温全息光栅，是将可动光源制作全息光栅技术与真空镀膜技术结合研制出来的，是一种具有高灵敏度的位移测量基本元件。它是采用双镀层光刻法制作，由两抗氧化能力强的金属镀层构成。两镀层的金属材料相同时如Cr-Cr，则构成位相型高温全息光栅；若两镀层金属材料不同，如Au-Cr则构成振幅型高温全息光栅。本发明的高温全息光栅，频率高，f≤2400L/mm，工作温度范围由常温到950℃均可，抗氧化力强，为光学测量方法在高温领域中的应用奠定了基础。
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公开(公告)号：CN100552421C
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：CN200710065395.3
申请日：2007-04-13
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种光子晶体表面周期性结构的检测方法，属于平面结构检测、光测力学技术领域。本发明以激光扫描共聚焦显微镜的扫描线为参考栅，光子晶体表面周期性结构为试件栅，通过使两栅发生干涉形成清晰的LSCM云纹，再通过提取云纹条纹方程，将其代入推导的反演公式求解试件栅方程，进而既可求出物体表面微纳米尺度的周期性结构尺寸、又可反映其在大范围内的整体结构特征。此方法综合了云纹法灵敏度高、测量视场大，及激光共聚焦显微镜分辨率高、无需真空环境、标本制备简单、对样品无损伤、空间定位方便等优点，测量精度高，操作简单，可进行全场测试，检测成本低，对表面存在多种取向周期性结构的光子晶体试样有独特的测量优势。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101514890A
公开(公告)日：2009-08-26
申请号：CN200910131922.5
申请日：2009-03-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 一种基于光学剪切的二维光学应变花测量方法，该测量方法首先采用热压印方法在被测物体表面制作矩形光学应变花标记，在测量光路中放置四棱镜，引入光学剪切量，形成具有剪切量的图像，根据数字相关方法计算具有剪切量的图像中光学应变花的4个标记点的位移，根据有限元方法计算应变花区域的应变。本发明有效提高了图像质量，改善了数字相关方法的应变求解区域不大的问题，可以实现操作简单方便，在复杂工作环境下进行现场实时的高精度大区域的无损测量。
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公开(公告)号：CN101240996A
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN200810101918.X
申请日：2008-03-14
Applicant: 清华大学
Abstract: 一种制作高温微米尺度散斑的方法，属于光测力学技术领域。本发明的技术特点是在电子束曝光机这一成熟商品仪器环境下，完成高温微米尺度散斑的制作，该方法操作简单、灵活，容易实现。通过改变电子束光学曝光系统的放大倍数、束流强度和刻蚀时间，制作出可变密度、可变深度、可变尺寸的散斑，适用于高温环境下不同材料的微观变形行为的研究。
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公开(公告)号：CN101033949A
公开(公告)日：2007-09-12
申请号：CN200710098791.6
申请日：2007-04-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01B11/16
Abstract: 一种基于错位相关原理的物体应变测量方法和系统，含有数字成像设备、定焦镜头、楔形镜和具有双标记的被测试件。该测量方法首先在被测物体表面制作代表拉伸变形的双标记，然后采用一块楔形镜改变物体表面反射光线的方向，改变方向后的光线通过定焦镜头进入数字成像设备中，在同一个数字成像设备的靶平面上得到具有错位量的双标记的图像；通过数字相关方法计算双标记的位移得到的物体的应变。本发明有效提高了图像质量，改善了数字相关方法的精度；根据数字相关方法计算具有错位量的标记图像的位移，得到物体的应变，提高应变的求解精度。可以实现操作简单方便，在复杂工作环境下进行现场实时的高精度、大量程的无损应变测量。
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公开(公告)号：CN1888855A
公开(公告)日：2007-01-03
申请号：CN200610089738.5
申请日：2006-07-14
Applicant: 清华大学
IPC: G01N3/08
Abstract: 一种单轴双向对称拉伸实验机，属于实验力学装置技术领域。包括步进电机11，步进电机控制器12，力传感器7，蜗轮3，蜗杆2，滚珠丝杠5，左螺母9，右螺母6，直线导轨13，轴承4，机座1，联轴器15，试件夹持装置14；步进电机11通过联轴器15与蜗杆3相连；蜗杆3与蜗轮2配合，直线导轨13和轴承4座落在机座1上面；力传感器7固定在滚珠丝杠5的右螺母6上，并伸出试件夹持装置14的一端，试件夹持装置14的另一端固连在丝杠左螺母9上。本发明采用机械传动，提高了传动精度；并采用步进电机加载；变形测量可采用步进电机步数计算或采用非接触的光学位移测量系统，使用方便，适用范围广，结构紧凑，灵敏度高，测量结果可靠。
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公开(公告)号：CN85100054A
公开(公告)日：1986-08-06
申请号：CN85100054
申请日：1985-04-01
IPC: G02B5/18
Abstract: 用光学方法和衍射光栅元件测量固体的变形。本发明为用于云纹干涉法的位相型闪耀衍射光栅。其光栅波形为等腰三角形，用刻线机刻制光栅模板。采用试件栅的制备工艺，将模板栅线波形复制在构件表面上，形成试件栅。根据需要可选择不同等腰三角形的斜面倾角β和光栅节距P，使对称入射的两相干准直光在所需要的±m衍射级上进行闪耀，使在该衍射级上获得最大光强，且光强比接近于1，以获得高灵敏度，高反差的云纹干涉条纹图。此法为光测力学开辟了新的途径。
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