二维位移测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN107121071B

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201710277410.4

    申请日:2017-04-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少两束光,且两束光频率不同;汇聚模块,用于对至少两束光进行汇聚后入射至待测目标上,且两束光在待测目标上相交,并接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。

    二维位移测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN107121071A

    公开(公告)日:2017-09-01

    申请号:CN201710277410.4

    申请日:2017-04-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少两束光,且两束光频率不同;汇聚模块,用于对至少两束光进行汇聚后入射至待测目标上,且两束光在待测目标上相交,并接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。

    二维位移测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN106949842B

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201710277404.9

    申请日:2017-04-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少三束光,且三束光频率不同;汇聚模块,用于对至少三束光进行汇聚后入射至待测目标上,且接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。

    二维位移测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN106949842A

    公开(公告)日:2017-07-14

    申请号:CN201710277404.9

    申请日:2017-04-25

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种二维位移测量装置,包括:激光器,用于输出偏振激光;分光移频模块,用于将偏振激光进行分光并实现差动移频,形成至少三束光,且三束光频率不同;汇聚模块,用于对至少三束光进行汇聚后入射至待测目标上,且接收被待测目标散射返回的激光,使返回的激光进入激光器,以对激光器的输出激光的光强进行调制;信号检测模块,设置于从激光器出射的偏振激光的光路上,用于对激光器输出激光的光强进行检测并转换为电信号;信号处理模块,与所述信号检测模块连接,用于对信号检测模块输出的电信号进行处理及计算,获得离面位移及面内位移。本发明还提供一种位移测量方法。本发明提供的二维位移测量装置及方法测量精度高。

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