轮毂点云获取方法、装置、电子装置及可读存储介质

    公开(公告)号:CN114418860A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210312443.9

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本申请涉及一种轮毂点云获取方法、装置、电子装置及可读存储介质,所述方法包括步骤:接收从转台的多个旋转角度获取的多个轮毂子点云,其中,每个轮毂子点云对应一个旋转角度;获取所述转台的转台转轴,并通过所述转台转轴对各所述轮毂子点云分别进行坐标变换得到多个第一变换子点云;将各所述第一变换子点云进行组合得到完整轮毂点云。通过获取转台转轴并基于转台转轴对轮毂子点云进行坐标变换,使得能够基于转台实际的转轴进行坐标变换,从而避免转台自身的误差对坐标变换后的第一变换子点云的精度造成影响,保证了完整轮毂点云的精度。

    轮毂点云获取方法、装置、电子装置及可读存储介质

    公开(公告)号:CN114418860B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202210312443.9

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本申请涉及一种轮毂点云获取方法、装置、电子装置及可读存储介质,所述方法包括步骤:接收从转台的多个旋转角度获取的多个轮毂子点云,其中,每个轮毂子点云对应一个旋转角度;获取所述转台的转台转轴,并通过所述转台转轴对各所述轮毂子点云分别进行坐标变换得到多个第一变换子点云;将各所述第一变换子点云进行组合得到完整轮毂点云。通过获取转台转轴并基于转台转轴对轮毂子点云进行坐标变换,使得能够基于转台实际的转轴进行坐标变换,从而避免转台自身的误差对坐标变换后的第一变换子点云的精度造成影响,保证了完整轮毂点云的精度。

    轮毂法兰平面度的检测方法及装置、存储介质、电子设备

    公开(公告)号:CN114353733B

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210251113.3

    申请日:2022-03-15

    Abstract: 本发明公开了一种轮毂法兰平面度的检测方法及装置、存储介质、电子设备,其中,该方法包括:在与目标轮毂平行的水平方向采集所述目标轮毂在法兰孔区域的原始点云,其中,所述目标轮毂包括若干个法兰孔;获取所述原始点云在竖直方向的最高值和最低值;根据所述最高值和所述最低值从所述原始点云中提取所述若干个法兰孔的法兰点云;根据所述法兰点云检测所述目标轮毂的法兰平面度。通过本发明,解决了相关技术轮毂法兰平面度的检测误差大的技术问题,降低了轮毂法兰平面度的检测误差,提高了轮毂的检测和生产效率,也减少了企业的人工成本。

    轮毂表面缺陷的识别方法及装置、存储介质、电子设备

    公开(公告)号:CN114419038A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210310199.2

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种轮毂表面缺陷的识别方法及装置、存储介质、电子设备。其中,该方法包括在与目标轮毂平行的水平方向采集所述目标轮毂的二维图像和三维视觉信息,其中,所述三维视觉信息包括多张结构光图像和三维轮廓点云;基于所述二维图像对所述目标轮毂进行缺陷识别,得到第一候选缺陷列表,基于所述三维视觉信息对所述目标轮毂进行缺陷识别,得到第二候选缺陷列表;根据所述第一候选缺陷列表与所述第二候选缺陷列表识别所述目标轮毂是否存在缺陷。通过本发明,解决了相关技术识别毂表面缺陷的精确度低的技术问题,可以对轮毂表面缺陷实现高准确率的检测功能,同时降低了人工检测的成本,并极大提高轮毂生产过程中的缺陷检测效率。

    缺陷识别方法、装置、电子装置及可读存储介质

    公开(公告)号:CN114419033A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210250694.9

    申请日:2022-03-15

    Abstract: 本申请涉及一种缺陷识别方法、装置、电子装置及可读存储介质,所述方法包括步骤:获取训练样本库,基于所述训练样本库确定小样本缺陷类型;生成与所述小样本缺陷类型对应的伪样本数据,并将所述伪样本数据添加到所述训练样本库中以对所述训练样本库进行更新,以使所述小样本缺陷类型的样本数量满足预设样本要求;基于更新后的所述训练样本库对初始缺陷识别模型进行训练得到训练完成的缺陷识别模型;通过所述训练完成的缺陷识别模型进行缺陷识别操作。通过确定样本数量较少的小样本缺陷类型,并生成对应的伪样本数据来增加小样本缺陷类型的样本数量,保证各缺陷类型的样本充足,进而基于充足的样本训练缺陷识别模型,提高缺陷识别模型的识别效果。

    伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN114511570A

    公开(公告)日:2022-05-17

    申请号:CN202210413571.2

    申请日:2022-04-20

    Abstract: 本发明公开一种伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质,涉及图片处理技术领域,方法包括:获取至少一个初始样本,初始样本为标注的待检测零部件的待检测图;将初始样本输入缺陷样本生成模型,生成至少一个扩充图像,缺陷样本生成模型为生成对抗网络模型;根据至少一个初始样本与至少一个扩充图像,得到零部件伪缺陷库;本发明通过缺陷样本生成模型生成待检测图的扩充图像,得到零部件伪缺陷库,通过缺陷样本生成模型根据待检测图扩充缺陷样本,通过伪缺陷检测模型基于伪缺陷库检测并去除待检测图的伪缺陷,输出待检测图的缺陷种类,解决了现有的缺陷检测方法中缺陷样本分布不均的技术问题。

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