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公开(公告)号：CN117369101A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311300810.4
申请日：2023-10-10
Applicant: 浙江大学湖州研究院
Abstract: 本发明公开一种抗背景光干扰的小面元大视场高聚光接收光学系统，包括大视场像方远心透镜系统、微透镜阵列和非球面聚焦透镜；大视场像方远心透镜系统，其将不同视场的接收光束汇聚点在同一焦平面上，且回波光束的主光线都与光轴平行；微透镜阵列和回波光束聚焦平面的距离为微透镜阵列的子透镜焦距，该微透镜阵列对于不同视场的回波光束进行准直和矫正，使出射光束为平行光束，矫正后的平行光束再经非球面聚焦透镜进行聚焦，最终通过小光敏面元探测器实现大视场高聚光的信号接收。本发明克服了探测器小面元视场受限的问题，同时保证高聚光接收，以及克服系统受背景光干扰的影响，可扩展性强。
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公开(公告)号：CN116243496A
公开(公告)日：2023-06-09
申请号：CN202211732615.4
申请日：2022-12-30
Applicant: 浙江大学湖州研究院
Abstract: 本发明公开一种大面元高亮度均匀照明结构及其均匀照明方法，该结构包括依次放置的白激光器，粗糙匀光板，扩束透镜，准直透镜，第一柱面镜，第二柱面镜，分光元件，样品，线扫成像镜头和线阵相机，扩束透镜和准直透镜共同构成一组伽利略系统，第一柱面镜和第二柱面镜组成光学透镜组；所述分光元件与所述白激光器发出的光束呈45°角。本发明中线扫同轴光源可作为机器视觉光源，用于极低曝光，高速运动物体的在线检测；在此情况下，可有效改善图像质量，提升图像分辨率。
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公开(公告)号：CN116338970A
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202211741169.3
申请日：2022-12-30
Applicant: 浙江大学湖州研究院
IPC: G02B27/09
Abstract: 本发明公开了一种获得高功率、高均匀度、高准直、超窄带线光源的方法，包括以下步骤：系统光源输出一个平行的激光光束；光束入射至鲍威尔棱镜，实现在垂直方向上扩展；扩展后的光束入射至柱面镜，对扩展后的光束进行准直，使得输出光束为平行光；输出的长条平行光出射至另一长焦柱面镜，将长条平行光进行汇聚；汇聚光束出射至短焦柱面镜，将出射光束校正为平行光束，从而获得高功率、高均匀度、高准直、超窄带的线光源；在不同位置放置探测器，查看在系统不同位置处的出射光束质量和照。本发明利用了鲍威尔棱镜和不同焦距的非球面平凸柱面镜合理的组合，得到了一束高功率、高均匀度、高准直、超窄带的线光源，可应用于高精度的光学元件以及芯片的检测。
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公开(公告)号：CN116297471A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310028247.3
申请日：2023-01-09
Applicant: 浙江大学湖州研究院
Abstract: 本发明公开一种无接触式检测大样品超微小缺陷的装置，包括一套高准直，高均匀度的线光发射系统和一套大视场高灵敏度的接收光学系统；线光发射系统包括依次设置的激光器、鲍威尔棱镜、平凸柱面镜，即激光出射后经过鲍威尔棱镜形成一束发散的线激光光源，然后经过平凸柱面镜进行准直得到高准直、高均匀度的线激光光源；大视场高灵敏度的接收光学系统包括一个高质量的接收物镜和阵列式光电探测器。本发明适用于大尺寸、存在um级的微小缺点的产品检测，实现无接触、快速、准确的自动化检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119292914A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411302555.1
申请日：2024-09-18
Applicant: 浙江大学湖州研究院
IPC: G06F11/3668 , G06N5/025
Abstract: 本发明公开基于函数执行时间优化的定向灰盒模糊测试方法与系统，分为静态分析阶段和动态执行阶段，首先，静态分析阶段会分析被测程序，生成函数调用图CG图和控制流图CFG图，紧接着，初始化CG图各个节点参数，生成含参CG图，然后，在动态执行阶段迭代更新时间强度参数，此参数用于衡量各个节点的条件难易程度；该时间强度参数需要依据模糊器提供的实时反馈数据提取出种子在各个节点的执行时间，并运用本发明的计算方法即可得到参数值；更新参数后的含参CG图能够很好的调整种子队列的执行顺序并优化调度过程，使得模糊测试效率更高，最后，生成漏洞报告。本发明适用于类似补丁测试的定向模糊测试漏洞检测，模糊测试覆盖率高、漏洞发现高效。
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公开(公告)号：CN118071712A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410242589.X
申请日：2024-03-04
Applicant: 浙江大学湖州研究院
IPC: G06T7/00 , G06V10/44 , G06T5/70 , G06T5/20 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/08 , G06N3/048 , G06V10/764
Abstract: 一种轴承圈全表面缺陷检测方法，涉及图像处理技术领域，针对现有技术中对于轴承圈这一类超小尺寸以及微小缺陷缺乏有效的检测的问题，本申请提出一种适用于轴承圈全表面缺陷采集的装置，通过该装置采集轴承图像。并且本申请在YOLOV8网络中引入了EMA注意力模块，EMA是一种高效多尺度注意力机制，将部分通道重塑为批量维度，避免了通道降维的情况，EMA不仅对全局信息编码来调整并行子网络通道权重，还通过跨纬度交互融合2个并行子网络的输出特征。通过跨维交互进一步聚合两个并行分支的输出特征，以捕获像素级成对关系。进而针对超小尺寸检测以及微小缺陷可以进行有效的检测，并且提升了检测的准确率。
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公开(公告)号：CN117969526A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202410123739.5
申请日：2024-01-26
Applicant: 浙江大学湖州研究院
Abstract: 本申请涉及质量检测技术领域，公开一种光学检测装置，包括成像部、照明部和样品检测部，成像部包括第一支撑结构和成像设备，成像设备可移动安装在第一支撑结构上设置；照明部包括第二支撑结构和多个照射光源，第二支撑结构包括光源支撑臂和旋转台，光源支撑臂位于成像设备的下方，光源支撑臂通过旋转台可进行周向旋转，多个照射光源分别安装在光源支撑臂的不同端部上，照明部通过旋转台转动光源支撑臂进行光源切换；样品检测台位于成像设备的下方，样品检测台用于盛放样品。本公开通过调节旋转台切换可以更换照明光源，适用性强，自动化程度更高，提高了检测效率。本申请还公开一种光学检测方法、用于光学检测的装置。
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公开(公告)号：CN115931880A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202310028250.5
申请日：2023-01-09
Applicant: 浙江大学湖州研究院
Abstract: 本发明公开一种线扫光学检测结构及同轴线扫光源的主光轴校准方法，该线扫光学检测结构包括线阵相机，光学镜头，同轴线扫光源和电动直线位移台，线阵相机、光学镜头和阶梯状样品调节至同轴且阶梯状样品处于光学镜头的前焦面上；同轴线扫光源固定于电动直线位移台上，并且移动电动直线位移台改变同轴线扫光源位置进行成像；量化成像所得图片的伪影宽度，并进一步得到光源发散角的正弦值；找到正弦值最小的地方，即为光源发散角最小的位置，该处就是同轴线扫光源的主轴。本发明可用于提高线扫光学检测系统的检测精度，有效改善图像质量，提升图像分辨率，避免产生伪影。
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