一种轴承圈全表面缺陷检测方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118071712A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410242589.X

    申请日:2024-03-04

    Abstract: 一种轴承圈全表面缺陷检测方法,涉及图像处理技术领域,针对现有技术中对于轴承圈这一类超小尺寸以及微小缺陷缺乏有效的检测的问题,本申请提出一种适用于轴承圈全表面缺陷采集的装置,通过该装置采集轴承图像。并且本申请在YOLOV8网络中引入了EMA注意力模块,EMA是一种高效多尺度注意力机制,将部分通道重塑为批量维度,避免了通道降维的情况,EMA不仅对全局信息编码来调整并行子网络通道权重,还通过跨纬度交互融合2个并行子网络的输出特征。通过跨维交互进一步聚合两个并行分支的输出特征,以捕获像素级成对关系。进而针对超小尺寸检测以及微小缺陷可以进行有效的检测,并且提升了检测的准确率。

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