公开(公告)号：CN105699399B

公开(公告)日：2018-06-19

申请号：CN201610137283.3

申请日：2016-03-11

Applicant: 河北工业大学

Inventor： 刘今越 ,  李洋 ,  郭志红 ,  刘佳斌 ,  任东成 ,  任志斌

IPC: G01N21/956

Abstract: 本发明公开一种SMT模版质量的检测设备与方法，该设备特征在于SMT模板固定在检测平面上，X、Y向伺服电机分别通过X、Y向导轨带动CCD相机及平面背光光源分别在检测平面的上、下方移动；由X、Y向光栅尺对CCD相机的位置进行反馈；CCD相机移动并采集SMT模板局部图像；工控机通信控制X、Y向伺服电机移动，PCI接口与数据采集卡通信获取X、Y向光栅尺的位置数据，通过GigE接口与CCD相机通信获取采集图像，继电器控制平面背光光源。该方法采用本发明所述检测设备和如下步骤：（1）Gerber数据解析；（2）检测窗位置及检测轨迹规划；（3）偏移量计算；（4）SMT模板定位误差计算­；（5）孔位缺陷检测。

公开(公告)号：CN105699399A

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201610137283.3

申请日：2016-03-11

Applicant: 河北工业大学

Inventor： 刘今越 ,  李洋 ,  郭志红 ,  刘佳斌 ,  任东成 ,  任志斌

IPC: G01N21/956

CPC classification number: G01N21/95607 ,  G01N2021/95638

Abstract: 本发明公开一种SMT模版质量的检测设备与方法，该设备特征在于SMT模板固定在检测平面上，X、Y向伺服电机分别通过X、Y向导轨带动CCD相机及平面背光光源分别在检测平面的上、下方移动；由X、Y向光栅尺对CCD相机的位置进行反馈；CCD相机移动并采集SMT模板局部图像；工控机通信控制X、Y向伺服电机移动，PCI接口与数据采集卡通信获取X、Y向光栅尺的位置数据，通过GigE接口与CCD相机通信获取采集图像，继电器控制平面背光光源。该方法采用本发明所述检测设备和如下步骤：（1）Gerber数据解析；（2）检测窗位置及检测轨迹规划；（3）偏移量计算；（4）SMT模板定位误差计算-；（5）孔位缺陷检测。

公开(公告)号：CN205643192U

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201620185279.X

申请日：2016-03-11

Applicant: 河北工业大学

Inventor： 刘今越 ,  李洋 ,  郭志红 ,  刘佳斌 ,  任东成 ,  任志斌

IPC: G01N21/956

Abstract: 本实用新型涉及SMT模版质量的检测设备，其特征在于该设备包括CCD相机、X向和Y向伺服电机、X向和Y向导轨、X向和Y向光栅尺、SMT模版固定装置、平面背光光源、工控机、运动控制卡、数据采集卡和继电器；SMT模版固定在检测平面上，X、Y向伺服电机分别通过X、Y向导轨带动CCD相机及平面背光光源分别在检测平面的上、下方移动；由X、Y向光栅尺对CCD相机的位置进行反馈；CCD相机移动并采集SMT模版局部图像；工控机通信控制X、Y向伺服电机移动，PCI接口与数据采集卡通信获取X、Y向光栅尺的位置数据，通过GigE接口与CCD相机通信获取采集图像，继电器控制平面背光光源。