公开(公告)号：CN103795411A

公开(公告)日：2014-05-14

申请号：CN201410067444.7

申请日：2014-02-24

Applicant: 江南大学

Inventor： 虞致国 ,  何芹 ,  顾晓峰 ,  赵琳娜

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试SFDR的方法。SFDR测试程序完成初始化设置，通过ADC测试系统得到采样数据；构造五项最大旁瓣衰减窗，对采样数据进行加窗FFT运算；对基波和各次谐波在FFT谱线中搜索幅值最大的谱线及其左右两根谱线，得到左右两根谱线幅值之差与最大谱线幅值的比值；采用多项式逼近的方式得到基波和各次谐波的插值系数；最后通过插值运算得到基波和各次谐波的修正幅值，并将其代入ADC？SFDR计算公式，得到测试结果。本发明首次提出基于五项最大旁瓣衰减窗三谱线插值测试ADC？SFDR的方法。本方案的优点是能有效抑制频谱泄漏和栅栏效应，快速、准确地测试ADC？SFDR。

公开(公告)号：CN103441762A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310406728.X

申请日：2013-09-09

Applicant: 江南大学

Inventor： 虞致国 ,  何芹 ,  顾晓峰 ,  赵琳娜

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于Blackman窗三谱线插值测试ADC动态参数的方法。该方法基于ADC测试系统采集的数字信号进行测试，包括以下步骤：初始化设置样本大小、采样频率；对样本加Blackman窗进行FFT运算；对基波和各次谐波在FFT谱线中搜索幅值最大的谱线及其左右两根谱线，计算左右两根谱线幅值之差与最大谱线幅值的比值；采用多项式拟合的方法得到按基波和各次谐波的插值系数计算公式并计算基波和各次谐波的插值系数；采用多项式拟合的方法得到幅值修正公式，计算基波和各次谐波的修正幅值并代入ADC主要动态参数计算公式，得到测试结果。本发明首次提出基于Blackman窗三谱线插值测试ADC动态参数的方法，能有效抑制频谱泄露带来的测试误差，快速、准确地测试ADC产品动态参数。

公开(公告)号：CN103441550A

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN201310406730.7

申请日：2013-09-09

Applicant: 江南大学

Inventor： 顾晓峰 ,  黄龙 ,  何芹 ,  虞致国

IPC: H02J7/00 ,  H02J17/00 ,  G08C17/02

Abstract: 一种实时显示充电信息的手机无线充电装置，包括智能控制底座和手机机身部分，所述智能控制底座包括电源、无线充电发射模块、微控制器模块、显示模块以及数据接收模块；所述电源分别连接显示模块和微控制器模块；所述微控制器模块分别连接显示模块、数据接收模块以及无线充电发射模块；所述手机机身部分包括手机电池、无线充电接收模块以及手机软件平台；所述手机电池与无线充电接收模块相连。本实时显示充电信息的手机无线充电装置在对手机进行无线充电的同时，充电底座可实时显示手机电量和充电剩余时间等充电信息，并在完成充电后关闭无线充电开关，使充电更智能和安全。

公开(公告)号：CN103457603B

公开(公告)日：2017-03-29

申请号：CN201310406729.4

申请日：2013-09-09

Applicant: 江南大学

Inventor： 虞致国 ,  何芹 ,  顾晓峰 ,  赵琳娜

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法。该方法基于ADC测试系统采集到的数字信号样本点来测试，包括以下步骤：初始化设置输入模拟信号源及采样时钟源的频率、谐波阶数、采集样本点组数和样本点大小；ADC性能测试程序接收采集的样本点，并对各组样本点分别进行预处理；选择合适的窗函数对指定样本点做截断处理；ADC性能测试程序对处理后的几组样本点分别进行FFT变换得到频谱图，并将得到的频谱图叠加求得平均频谱图；基于平均频谱图确定基波能量、谐波能量、直流能量及噪声能量，根据主要动态参数计算公式计算各项参数，并显示测试结果。本发明能快速、准确地检测ADC动态参数是否合格，有效抑制频谱泄露带来的测试误差。

公开(公告)号：CN103457603A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201310406729.4

申请日：2013-09-09

Applicant: 江南大学

Inventor： 虞致国 ,  何芹 ,  顾晓峰 ,  赵琳娜

IPC: H03M1/10

Abstract: 本发明公开了一种基于平均频谱测试ADC动态参数的方法。该方法基于ADC测试系统采集到的数字信号样本点来测试，包括以下步骤：初始化设置输入模拟信号源及采样时钟源的频率、谐波阶数、采集样本点组数和样本点大小；ADC性能测试程序接收采集的样本点，并对各组样本点分别进行预处理；选择合适的窗函数对指定样本点做截断处理；ADC性能测试程序对处理后的几组样本点分别进行FFT变换得到频谱图，并将得到的频谱图叠加求得平均频谱图；基于平均频谱图确定基波能量、谐波能量、直流能量及噪声能量，根据主要动态参数计算公式计算各项参数，并显示测试结果。本发明能快速、准确地检测ADC动态参数是否合格，有效抑制频谱泄露带来的测试误差。