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公开(公告)号：CN110211174B
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN201910411267.2
申请日：2019-05-16
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质，将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中，根据位置关系通过两次标定，得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示，构建计算公式，通过内点法优化算法，进行精标定计算，得到精确的Q、U、C，确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明，能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。
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公开(公告)号：CN110202575B
公开(公告)日：2022-07-19
申请号：CN201910487271.7
申请日：2019-06-05
Applicant: 武汉工程大学
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明提供一种用于工业测量的机器人目标轨迹精度补偿方法，根据检测工艺需求提供标准件的CAD模型，产生离线编程轨迹；机器人执行离线编程轨迹，获得测量点云；在工件坐标系中，执行测量点云与CAD模型的配准计算，得到由于工件安装误差而产生的整体偏差；将测量点云进行坐标转换，消除测量点的整体偏差，并将特征点与测量点统一到工件坐标系下，针对离线编程轨迹的每个特征点，计算在测量点所形成的曲线上的投影点；计算坐标偏移量在特征点的切平面上的投影；将投影补偿到特征点，得到新的离线编程轨迹；直到投影收敛到目标测量精度的一定范围内，完成目标轨迹补偿。本发明有利于提高其测量定位精度。
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公开(公告)号：CN109676613B
公开(公告)日：2021-10-12
申请号：CN201910150505.9
申请日：2019-02-28
Applicant: 武汉工程大学
IPC: B25J9/16
Abstract: 一种误差可控的四轴工业机器人圆弧过渡式平顺轨迹生成方法，包括：步骤1、四轴工业机器人轨迹预处理：遍历所有轨迹点，将线性轨迹按照位置距离和夹角分成需平顺轨迹段和不需平顺轨迹段，并对四轴姿态进行预处理，保证两个轨迹点之间走劣弧轨迹；步骤2、四轴轨迹平顺：遍历步骤1生成的需平顺轨迹段，对每一段需平顺轨迹段按照轨迹点误差阈值、位置点弦高误差阈值和连续性要求采用几何迭代法生成圆弧过渡式平顺轨迹。本发明圆弧过渡式平顺轨迹生成方法同时具有位置和姿态同步的G1连续性，满足轨迹点误差和轨迹点之间的位置弦高误差，且生成的轨迹能够在不改变四轴工业机器人现有指令格式情况下直接使用，提高四轴工业机器人作业效率和质量。
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公开(公告)号：CN110202575A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910487271.7
申请日：2019-06-05
Applicant: 武汉工程大学
IPC: B25J9/16
Abstract: 本发明提供一种用于工业测量的机器人目标轨迹精度补偿方法，根据检测工艺需求提供标准件的CAD模型，产生离线编程轨迹；机器人执行离线编程轨迹，获得测量点云；在工件坐标系中，执行测量点云与CAD模型的配准计算，得到由于工件安装误差而产生的整体偏差；将测量点云进行坐标转换，消除测量点的整体偏差，并将特征点与测量点统一到工件坐标系下，针对离线编程轨迹的每个特征点，计算在测量点所形成的曲线上的投影点；计算坐标偏移量在特征点的切平面上的投影；将投影补偿到特征点，得到新的离线编程轨迹；直到投影收敛到目标测量精度的一定范围内，完成目标轨迹补偿。本发明有利于提高其测量定位精度。
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公开(公告)号：CN109664303A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201910151081.8
申请日：2019-02-28
Applicant: 武汉工程大学
IPC: B25J9/16
Abstract: 一种误差可控的四轴工业机器人B样条过渡式平顺轨迹生成方法，包括：步骤1、四轴工业机器人轨迹预处理：将轨迹分为需平顺轨迹段和不需平顺轨迹段，并对四轴姿态进行预处理，保证两个轨迹点之间走劣弧轨迹；步骤2、四轴轨迹B样条平顺：遍历步骤1生成的需平顺轨迹段，对每一条轨迹段按照轨迹点误差阈值、位置点弦高误差阈值和连续性要求采用几何迭代法生成B样条过渡式平顺轨迹。本发明B样条过渡式平顺轨迹由线性轨迹和B样条轨迹组成，整条轨迹具有位置和姿态同步的G1或G2连续性，满足轨迹点误差和轨迹点之间的位置弦高误差，且采用样条轨迹能够实现四轴工业机器人复杂应用的轨迹平顺，进而提高四轴工业机器人的作业效率和质量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108955520B
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN201810344169.7
申请日：2018-04-17
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明涉及一种结构光三维扫描可达性分析方法，包括：根据结构光三维扫描设备的几何测量模型，构建扫描工作空间。对待测工件参考模型的曲面进行离散，得到待测工件参考模型的位于曲面上的采样点。基于待测工件参考模型，构建每个采样点的扫描可视锥空间。根据扫描工作空间、扫描可视锥空间和预设的结构光扫描可达性条件，判断每个采样点在结构光三维扫描设备扫描下的扫描可达性。将扫描可达的采样点和扫描不可达的采样点分别以不同的颜色在曲面上显示。本发明通过对扫描设备的几何参数和待测工件参考模型分析，结合结构光扫描可达性条件对被测物体进行扫描可达性评判，可达性分析结果可为扫描操作提供参考，以便于操作人员调整、优化扫描策略。
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公开(公告)号：CN110442917A
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201910615005.8
申请日：2019-07-09
Applicant: 武汉工程大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于点云的参数化叶片类零件缺损模型重建方法，包括以下步骤：S1、待修复叶片类零件叶身测量；S2、叶片类零件型线特征匹配：将测量点云数据和叶片理论模型点云数据进行配准计算，得到叶片损伤区域的扭转变形量，并与叶片理论模型做配准变换，使实际待修复叶片模型与理论模型在工件坐标系下的空间位置一致；S3、叶片类零件损伤部位模型提取：获取叶片未受损伤区域截面测量数据，并对测量数据进行曲线拟合，将拟合后的曲线向模型损伤区域方向进行线性插值，提取叶片损伤区域模型。本发明提出的叶片缺损模型重建方法，使得叶片模型的扭曲，变形得以复现到重建的叶片模型中，对缺损、磨损部分进行预测并做高精度造型。
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公开(公告)号：CN110211174A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910411267.2
申请日：2019-05-16
Applicant: 武汉工程大学
Abstract: 本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质，将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中，根据位置关系通过两次标定，得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示，构建计算公式，通过内点法优化算法，进行精标定计算，得到精确的Q、U、C，确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明，能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。
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公开(公告)号：CN118243692B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202410666474.3
申请日：2024-05-28
Applicant: 武汉工程大学 , 斯格维尔科技(武汉)有限公司
Abstract: 本发明属于产品检测技术领域，具体涉及一种复杂曲面完整度缺陷检测装置及方法，包括检测设备机架与曲面零件，所述检测设备机架内部的两侧分别设置有机械臂一以及机械臂二，所述检测设备机架内部的顶部组装有用于将含有荧光液的磁流体喷淋至曲面零件表面的喷淋机构，所述机械臂二的输出末端组装有用于引导磁流体深入曲面零件表面缺陷内的焊缝跟踪附磁机构，所述检测设备机架的表面嵌入式安装有落液槽，所述检测设备机架背部的一端设置有视觉检测设备，所述检测设备机架的内部设置有用于完成废液处理的废液箱。本发明能够解决液体渗透细小空间时间较长的缺陷，还可避免气泡对液体渗透的影响，同时具备磁流体回收以及废液处理的功能。
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公开(公告)号：CN118243692A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202410666474.3
申请日：2024-05-28
Applicant: 武汉工程大学 , 斯格维尔科技(武汉)有限公司
Abstract: 本发明属于产品检测技术领域，具体涉及一种复杂曲面完整度缺陷检测装置及方法，包括检测设备机架与曲面零件，所述检测设备机架内部的两侧分别设置有机械臂一以及机械臂二，所述检测设备机架内部的顶部组装有用于将含有荧光液的磁流体喷淋至曲面零件表面的喷淋机构，所述机械臂二的输出末端组装有用于引导磁流体深入曲面零件表面缺陷内的焊缝跟踪附磁机构，所述检测设备机架的表面嵌入式安装有落液槽，所述检测设备机架背部的一端设置有视觉检测设备，所述检测设备机架的内部设置有用于完成废液处理的废液箱。本发明能够解决液体渗透细小空间时间较长的缺陷，还可避免气泡对液体渗透的影响，同时具备磁流体回收以及废液处理的功能。
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