公开(公告)号：CN110211174B

公开(公告)日：2023-07-18

申请号：CN201910411267.2

申请日：2019-05-16

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 黄昆涛 ,  刘根 ,  颜昌亚 ,  周耀胜 ,  何姗姗 ,  李振瀚

IPC: G06T7/70 ,  G06T17/00 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质，将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中，根据位置关系通过两次标定，得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示，构建计算公式，通过内点法优化算法，进行精标定计算，得到精确的Q、U、C，确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明，能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。

公开(公告)号：CN110211174A

公开(公告)日：2019-09-06

申请号：CN201910411267.2

申请日：2019-05-16

Applicant: 武汉工程大学

Inventor： 黄昆涛 ,  刘根 ,  颜昌亚 ,  周耀胜 ,  何姗姗 ,  李振瀚

IPC: G06T7/70 ,  G06T17/00 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明公开了一种曲面测量装置标定的方法、设备和存储介质，将用于曲面测量的测量装置置于坐标系中，根据位置关系通过两次标定，得到非接触式距离传感器基准点Od和基准轴Zd在标靶坐标系TaCS中的表示，构建计算公式，通过内点法优化算法，进行精标定计算，得到精确的Q、U、C，确定Od和Zd在TaCS坐标系的位置及方向。通过本发明，能够在曲面测量中实现提高测量点精度,实现柔性化检测的目的。